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相似文献
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1.
蒋和全 《微电子学》2004,34(4):363-365
简述了模拟集成电路(IC)测试平台的概念和特点、国内外模拟IC测试平台的发展动态及差距,对模拟IC测试平台的建设与发展提出了建议。  相似文献   

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涉及业务:.测试设计、验证分析、评估、评测、一站式服务;.拥有宪善的信息安全/移劫通信/RF SoC/ SiP/RFID等芯片测试解决方案。先进的技术能力(团队):.100多人的优秀人才队伍,曾多坎获得国家科技进步奖;.国内先进的45nm集成电路测试平合;.国内第一条12英寸芯片测试线;.快速优质高效的服务体系。  相似文献   

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94年我们受上级机关委托组织了一次全国混合集成电路金属外壳集中测评,有8个单位共13个品种参加了本次测评,样品有三种类型:直插式、浅腔式和功率外壳。测评结果表明,长期以来一直困扰半导体的外壳质量的老问题依然存在,但与90年集中测评结果相比情况已有较大好转,现从以下几个方面分别予以介绍。1 绝缘电阻根据GJB548—88方法1003中规定,绝缘电阻合格判据值定为1×10~9Ω,比90年集中测试要小一个数量级,根据这一判据几乎都能达到要求,但有二点应引起足够注意:一  相似文献   

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北京确安科技股份有限公司通过国家科技重大专项(02专项)项目“极大规模集成电路测试技术研究及产业化应用”,全面建成了极大规模集成电路测试开发平台和全自动测试线,实现了300 mm (12英寸)晶圆产业化测试,具备了每月550片12英寸晶圆测试和每月50万颗高密度封装形式的高端芯片成品测试能力。  相似文献   

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本文简要分析了数字集成电路测试系统中的逻辑测试单元。  相似文献   

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本文介绍大规模数字集成电路自动化测试系统的基本构成。  相似文献   

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涉及业务:测试设计、验证分析、评估、评测、一站式服务;拥有完善的信息安全/移动通信/RF SoC/SiP/RFID等芯片测试解决方案。先进的技术能力(团队):100多人的优秀人才队伍,曾多次获得国家科技进步奖;国内先进的45nm集成电路测试平台;国内第一条12英寸芯片测试线;快速优质高效的服务体系。  相似文献   

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王永文 《电子测试》1990,4(1):3-11,27
  相似文献   

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集成电路和电路板测试系统是测试仪器的最高水平,硬件和软件均属前沿产品,测试仪器供应商的数目超过千家,但全面集成电路和电路板供应商不到十家,仅从数量来看也是百里挑一的了。著名的厂家有Teradyne(泰瑞达)、Schlumberger(斯伦贝谢)、Advantest(爱德万)、Agilent(安捷伦)、GenRad等。产品的价位很高,一般十万美元以上,相应的开发生产费用也就更为可  相似文献   

13.
刘炜  张琳  金兰 《电子测试》2007,(8):45-46
本文利用普及的Internet,通过集成电路测试管理系统实现了属于一个公司的两个或以上办公场地之间数据共享、编辑与查询功能.集成电路测试管理系统是针对该行业的需求而量身定做的MES(生产管理系统).该系统通过流程控制机制将各部门间的工作规范化,从而严格地按照一定的顺序进行下去而不会产生跨级.  相似文献   

14.
如何保证集成电路的测试质量   总被引:2,自引:0,他引:2  
阐述了集成电路的测试过程中,如何保证其测试质量的几个方面的问题。内容包括测试设备的硬件选择、测试软件的编写、集成电路测试结果的分析及集成电路的管理等。  相似文献   

15.
集成电路测试的质量   总被引:1,自引:0,他引:1  
郭卓粱 《电子测试》1998,11(7):16-17
文章从技术的角度出发,讨论了保证集成电路(IC)测试质量的一些问题,内容涉及IC测试的硬件基础,关于IC测试软件的若干要素和必要的规章制度等三个方面。  相似文献   

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引言电路的日益复杂和集成度的不断提高,测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成,并提出了改进其周期的办法,从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在QuartusⅡ软件下进行仿真,验证了其正确性。  相似文献   

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19.
射频集成电路测试技术研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
蒲林  任昶  蒋和全 《微电子学》2005,35(2):110-113
射频集成电路(RFIC)是无线通信、雷达等电子系统中非常关键的器件,由于其高频特点,准确评估RFIC的性能具有相当的难度。文章以射频低噪声放大器(LNA)为例,运用微波理论,分析了RFIC典型参数,如S参数、带宽、PldB、OIP3以及噪声系数等的测试原理和测试方法,并对影响RFIC性能测试的主要因素进行了分析。最后,给出了一种LNA电路的测试结果。  相似文献   

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