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相似文献
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1.
利用多层快速多极子方法(MLFMA)分析三维导体介质复合结构的电磁辐射与散射特性.根据等效原理,介质表面构造Poggio-Miller-Chang-Harrington-Wu(PMCHW)方程,导体表面建立电场积分方程(EFIE).分析了含介质目标MLFMA算法中远区组矩阵矢量相乘运算以及有耗媒质空间中格林函数的平面波展开.利用该方法研究了涂敷目标电磁散射特性以及天线罩对直线阵天线辐射特性的影响.MLFMA的应用降低了计算量和存储量,实现了对电大尺寸目标快速、准确的求解.  相似文献   

2.
埋于介质体中二维导体目标成象的迭代方法   总被引:3,自引:0,他引:3  
石守元  李清亮 《电子学报》1997,25(9):105-108
本文应用一种迭代方法实现了埋于二维均匀介质体中理想导体目标几何构形的重建。在导出介质体与导体混合目标散射边界积分方程的基础上,利用Newton-Kantorovich方法和矩量法建立逆散射基本方程。为克服病态问题,连续采用多方面TM平面波照射目标以获取足够的信息,并通过迭代方法求解。最后、给出的一些散射目标的重建结果表明本方法的可行性,同时研究了噪声对重建结果的影响。  相似文献   

3.
在TE波入射下,对于计算二维封闭导体柱散射问题所常用的磁场积分方程法,当用于导体薄片时将会失效。本文采用电磁格点理论和电场方法研究这个问题。结合二维介质柱的电磁格点方程,解决了有耗介质涂层导体薄片的TE波散射。文中给出计算实例。  相似文献   

4.
在TE波入射下,对于计算二维封闭导体柱散射问题所常用的磁场积分方程法,当用于导体薄片时将会失效.本文采用电磁格点理论和电场方法研究这个问题.结合二维介质柱的电磁格点方程,解决了有耗介质涂层导体薄片的TE波散射.文中给出计算实例.  相似文献   

5.
本文由等效原理推导了埋在有耗、色散土壤中的装有引信的介质地雷的电磁场积分方程,根据地雷的旋转对称特性,利用矩量法计算了半空间地雷的电磁散射,并与车载地表穿透SAR的实测数据进行了对比,两者比较一致,验证了计算方法的有效性.  相似文献   

6.
本文通过建立积分方程并利用矩量法,解决了部分涂覆介质导体柱的电磁散射问题。有关的计算程序成功地实现了通用化,即集导体柱、介质柱、全部及部分覆盖介质的导体柱的计算程序为一体。实例计算表明,该程序在计算目标雷达散射特性方面具有较高的实用价值。  相似文献   

7.
渐近波形估计技术在三维电磁散射问题快速分析中的应用   总被引:13,自引:0,他引:13  
孙玉发  徐善驾 《电子学报》2002,30(6):794-796
本文将渐近波形估计技术应用到矩量法中,计算了三维理想导体目标的宽带雷达散射截面(RCS)和单站RCS方向图.用矩量法求解电场积分方程,得到给定频率点、给定方向入射波照射下的导体表面电流密度,应用渐近波形估计技术分别得到频带内任意频率点以及任意角度入射波照射下的导体表面电流密度,进而计算出宽带RCS和单站RCS方向图.计算结果表明渐近波形估计技术与矩量法结合可以逼近矩量法逐点计算的结果,且计算效率大大提高.  相似文献   

8.
快速多极子在任意截面均匀介质柱散射中的应用   总被引:2,自引:1,他引:1  
采用快速多极子法(FMM)加速后的矩量法(MoM)求解由电磁场等效原理导出的关于均匀介质柱表面等铲电磁流的积分方程,进而计算其电磁散射特性,FMM的引入使计算时间和内存开销都从O(N^2)降到O(N^3/2),且并不增加多少复杂度。最后给出了一些介质柱体RCS的算例。  相似文献   

9.
将自适应积分算法与基于体面混合积分方程的矩量法相结合快速分析任意结构金属/介质混合目标的电磁散射和辐射特性.通过将传统矩量法的阻抗矩阵分为两部分且采用不同的方法进行处理计算,提高了矩量法的计算速度并大幅度缩减了需要的计算机内存占用量.最后,分别用传统的矩量法与结合自适应积分快速算法的矩量法计算了三个典型例子,通过比较充分说明了文中方法的有效性.  相似文献   

10.
采用有限元-边界积分(finite element boundary integral,FE-BI)方法研究了介质粗糙面上方涂覆目标的复合电磁散射特性,推导了一维介质粗糙面上方二维涂覆目标电磁散射的FE-BI公式.在仿真中,采用功能强大的有限元方法模拟涂覆目标内部场,对于涂覆目标与粗糙面之间的多重耦合作用则通过边界积分方程方法进行考虑.结合Monte-Carlo方法,数值计算了介质高斯粗糙面上方涂覆圆柱目标的电磁散射,分析了涂层材料介电常数、粗糙面粗糙度以及介质粗糙面介电常数变化对复合模型双站散射系数的影响.数值结果表明,相比于传统矩量法(method of moment,MoM),本文方法虽然在处理理想导体模型时效率略低,但可以处理MoM难以处理的复杂媒质电磁散射问题,且计算精度较高.  相似文献   

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