可靠性寿命试验的动态截尾方法

为节省试验时间和资源，可靠性寿命试验通常采用定数截尾和定时截尾两种方法。但是它们有相同的不足，就是在试验结束后才进行数据分析，无法进行实时的动态控制。为解决这一问题．提出了寿命试验的动态截尾方法，利用该方法研究寿命服从指数型分布产品的可靠性试验．提出了试验动态截尾的数据处理模型及判据。该方法的思想可以推广应用于其它产品的可靠性试验与分析中。     

定时截尾试验的参数估计

本文对可靠性试验中定时截尾试验的参数估计公式进行推证和讨论。认为ＧＪＢ８９９－９０《可靠性签定和验收试验》中的个别公式有差错，为避免可靠性计算中发生差错，应予以纠正。     

定时截尾试验有关问题的探讨

本文根据国军标和国外有关标准对可靠性试验的要求以及可靠性定时截尾试验中存在的问题进行了分析；对试验中总时间的确定、检验下限的理解和故障加权等问题提出了新的观点，并就可靠性试验在这方面的改进进行了探讨。     

家用电器无故障定时截尾可靠性试验方案探讨

无故障定时截尾方案是针对故障率较低的家用电器产品的可靠性鉴定试验和验收试验方案,累计测试时间依据置信度确定,可接收状态为无故障或仅出现1个故障,试验方案编制简便和易以掌握,试验过程管理简单。按寿命服从指数分布的条件导出试验方法,同时将适用范围推广至寿命服从形状参数已知的两参数威布尔分布的条件。     

微型计算机可靠性验收试验探讨

可靠性试验是对产品的可靠性进行分析评价的一种手段。以微型计算机为研究对象,对其进行可靠性试验。试验采用定时截尾方法,分别采用点估计和区间估计的方法对平均无故障时间(MTBF)进行处理。通过对试验数据的分析,对微型计算机做出了较为客观的可靠性评估。     

零失效试验的测试时长与样本量选择分析

基于国内企业对产品质量以及可靠性要求越来越高,可靠性试验方案的选择尤为重要,GJB899A可靠性鉴定与验收规范详细列举了定时截尾试验、序贯截尾试验。阐述企业的考量是基于质量目标的前提下,要求试验方案测试成本低、时间可控,本文结合定时截尾以及序贯截尾的思路,制定了一种零失效试验,结合最小测试样本量的方案,可以定量评估出试验方案合理性,为企业制定可靠性试验方案提出相应的依据。     

激光测距仪的定时截尾试验

本文介绍了激光测距仪的定时截尾试验的基本原理与试验程序。     

寿命试验可靠性数据

一个器件可靠性的定义是:在设计规定条件下,在规定的时间内,完成其功能的概率。如今对集成电路的可靠性水平要求高,使得在使用应力条件下测定器件的可靠性,花费时间长且费用高,因而实际上难以实现。 能够解决这些矛盾关系的实用方法是采用加速寿命试验,也就是让器件所工作的应力水平,比它们在典型应用中正常经历到的高。 寿命试验一般是在提高温度和最大推荐的工作电压下进行的,目的是加速那些涉及到温度和电应力条件的,与时间有关的失效机理,寿命试验是预测器实际现场应用失效率的主要方法。     

现场统计可靠性评估方法的研究

对可靠性统计试验方法进行了应用研究,介绍了现场统计可靠性评估的方法和步骤,并探讨了环境因子折算的一些实际应用问题.     

耐擦写能力测试评估中的样本数选取方法

介绍了非挥发性记忆体产品在进行耐擦写能力测试评估时如何合理地选取样本数的方法.在集成电路的可靠性测试中,样本数通常被理解为样品数,即芯片的颗数.对样本数进行了新的定义,将样本数定义为"芯片颗数×扇区数".这种定义吻合产品可靠性测试对样本的基本定义,可以适用于所有的集成电路可靠性测试,尤其适用于非挥发性记忆体的耐擦写能力测试评估.为了保证相同的测试信心度,考虑到在耐擦写能力测试中周边电路对耐擦写能力测试结果的影响,依照对样本数新的定义,在进行样本数等值选取计算的时候,引入了一个全新的补偿因子f,并且给出了样本数等值计算的公式.实验结果表明,在引入补偿因子f后,样本数等值计算结果更加可靠.     

浅谈对集成电路加速寿命试验的认识

老炼、稳态寿命等加速寿命试验是衡量集成电路使用寿命的主要手段。文中简要介绍了集成电路的主要可靠性指标——FIT,呈现集成电路失效特征的"浴盆曲线",以及不同失效阶段的主要影响因素、失效率与时间相关的统计分布特征。在此基础上,文章对老炼和稳态寿命的试验目的进行了说明,并列出稳态寿命试验的等效试验条件表以及通过该试验的集成电路使用寿命的一些参考数据。     

软件可靠性及其保证

论述了软件可靠性对软件质量的重要影响，分析了影响软件可靠性的主要因素，重点阐明了提高软件可靠性的六条关键途径。     

逐次截尾样本下电子元件混联系统可靠性指标的EB估计

在逐次截尾样本下,研究电子元件混联系统可靠性指标的估计问题。将Bayes方法和极大似然法相结合,在平方损失下,获得部件失效率、系统可靠度和平均寿命的经验Bayes估计。最后给出随机模拟例子,说明该方法的正确性。结果表明可靠性指标的经验Bayes估计值精度较高。     

分布函数的迫近及其在高可靠性评估中的应用

针对高可靠性评估中存在的精度及计算量问题,首先给出了可靠性分布函数的正交多项式序列迫近方法。然后,利用此方法,对并联的指数寿命型系统的可靠性函数进行迫近,所获得的结果易以计算,且具有较高的精度。     

无市电光缆站空调系统设计

在通信电源系统太阳能电池极板配置充分的条件下,利用其夏季富余的太阳能,为无市电光缆无人中继站的空调供中,既能达到降低站风温度、确保设备正常运行,提高通信系统可靠性的目的;同时又是对经济、实用绿色节能方法的探索。     

指数分布步加试验的贝叶斯估计

给出了一种基于Gibbs抽样、CE模型下指数分布场合步进应力加速寿命试验的贝叶斯估计.通过模拟例子表明贝叶斯估计比极大似然估计更加有效.     

电迁移物理模型参数统计特性提取新方法

随着ＶＬＳＩ技术的发展，电迁移已成为集成电路最主要的失效原因之一，其可靠性评估技术也显得愈加重要。要改进该技术，不仅需要确定可靠性物理模型参数，而且要求掌握参数的统计分布特性。基于电迁移物理模型，提出一种提取参数统计分布特性的新方法。与传统方法相比，此方法不仅所需实验样品少、实验次数少，能真正得到反映样品离散性的物理模型参数的统计分布特性，而且也可用于其它失效机理（如栅氧击穿）物理模型中。     

"独立故障"统计分析的概念及其在电器产品可靠性分析中的应用建议

现代电器技术复杂性的不断加大使得可靠性日益成为电器产品质量的关键问题,但通常用于提高产品可靠性的可靠性试验、鉴定等方法的费用太高,我国绝大多数企业难以承受。提出了“独立故障”统计分析的概念和一种简便实用且费用低廉的电器产品可靠性故障分析方法,对其原理及应注意的问题也作了介绍。