分光光度法测定高放废液中的铀

样品用2.0mol/L HNO3调节酸度,通过CL-TBP萃淋树脂分离柱(长为70mm;外径10mm;流速1.5~2.0mL/min),用15mL1.0mol/L HNO3淋洗杂质,再用15mL蒸馏水洗脱树脂上吸附的U[Ⅵ],分离纯化后的样品用分光光度法测定铀的含量。采用0.05%偶氮胂Ⅲ为显色剂,0.4mol/L氯乙酸-0.4mol/L氯乙酸钠为缓冲剂,在λ=652nm处测量吸光度。模拟样品的相对标准偏差为1.5%,回收率为97%~101%。高放废液样品的RSD为3%,重加回收率为102%。     

LIGA工艺在工程中的两类应用

本文从LIGA工艺的工程应用角度，简要介绍微小型安全密码锁机构、微小型加速开关结构的基本设计问题和工艺问题，初步分析了这两类组件制造对LIGA工艺的需求与要求。     

同步辐射光刻技术研究进展

光刻技术是推动集成电路制造业不断向前发展的关键技术。X射线光刻技术是下一代光刻技术的一种，具有产业化的应用前景。掩模技术是X射线光刻技术的难点，本文报告了国内利用同步辐射源的X射线掩模和光刻技术研究的最新进展。     

Java技术在辐射图像处理领域的应用研究

辐射图像的获取和处理是现代民用核技术发展的一个重要方向，首先论述了Java图像处理技术三个阶段即Java AWT,Java 2D和JAI的基本理论，然后以JAI技术在集装箱透视图像中的应用为例分析了Java技术在辐射图像领域的应用。     

杯冠化合物在处理高放废液中的应用(Ⅰ)--新型萃取剂异丙氧基杯[4]冠-6的合成与表征

研究以对叔丁基苯酚和甲醛等作为初始原料合成中间体对叔丁基杯[4]芳烃、杯[4]芳烃和异丙氧基杯[4]芳烃;以二缩三乙二醇和氯化亚砜等作为初始原料合成中间体二氯代三甘醇、五甘醇和五甘醇对甲苯磺酸酯.最后,由异丙氧基杯[4]芳烃和五甘醇对甲苯磺酸酯合成了目标产物二(2-丙氧基)杯[4]冠-6,对合成的各种中间体和目标产物进行了表征.     

新一代多源数据集成技术在高放废物地质处置的研究与实现

传统的多源集成技术的不成熟与不完善及新一代GIS应用模式的发展,促进了新一代的多源数据集成技术发生了根本性变革,同时也为高放废物地质处置地学和新数据库的研究和实现提供了技术支撑。利用空间数据接口GDAL/OGR的技术优势,通过不同数据格式转换和集成技术平台为多源地学数据管理和利用开拓了新的思路和方法。     

同步辐射光束线束斑形状实时分析技术

同步辐射是由同步辐射装置产生的宽光谱、高通量、高准直、高亮度的优质光源,在许多领域已得到广泛应用。同步辐射光束的光斑大小是其最为重要的特性之一。常规测量光斑大小的方法是采用狭缝或刀片扫描光束,然后根据光强变化计算出光斑的大小,这种方式准确度高,但过程繁琐、效率较低。同步辐射光束照射到荧光靶上会形成可见光光斑,通过安装在光束线上的共轴摄像头可以获取光斑的图像信息。本文提出一种基于图像处理的光斑提取方法,能够快速提取光斑大小并显示光斑中心的位置以及光斑的对称性。测试结果表明:该方法能够实时地获取同步辐射光斑特征信息,且光斑尺寸在一定范围变化时具有较高的准确性,在光束线调试过程中可以作为一种有效的辅助测量手段。     

杯冠化合物在处理高放废液中的应用(Ⅲ)--异丙氧基杯[4]冠-6/正辛醇的萃取性能

研究了异丙氧基杯[4]冠-6(简称iPr-C[-4]C6)/正辛醇的萃取性能，主要考察了酸度、模拟高放废液对萃取铯离子以及主要锕系元素和锝的影响，初步研究了辐照剂量对iPr-C[4]C6／正辛醇萃取铯离子的影响。研究表明：水相中无模拟料液时，酸度对iPr-C[-4]C6萃取铯离子的影响较大；除钾离子外，其它共存离子对萃取铯离子的影响较小；有模拟料液存在情况下，酸度的影响较小，而稀释倍数影响较大；辐照剂量小于10^5Gy时，体系对铯离子萃取无明显影响。在硝酸溶液中，萃取体系对锕系元素的萃取率很低;有模拟料液时，除镅和锝外。其它元素的分配比明显升高。     

半导体纳米材料的电离辐射合成综述

从辐射技术对半导体纳米材料的合成与改性的角度出发,重点阐述了其在金属氧(硫、硒)化物、贵金属沉积、空位缺陷半导体纳米材料的合成与改性研究现状.通过调节溶解氧、pH、稳定剂、络合剂及吸收剂量和剂量率等条件,可以实现对半导体纳米材料形貌、尺寸、单分散性及表面性质的调控.     

Effects of multistress aging (radiation, thermal, electrical) onpolypropylene

Capacitor-grade polypropylene films were aged under multiple stresses (electrical, thermal, and radiation). The aging experiments were performed for both singular and simultaneous combined stresses. The polypropylene was exposed to combined neutron-gamma radiation with a total dose of 1.6×10⁶ rad, electrical stress at 40 V _rms/μm, and thermal stress at 90°C. Post-aging diagnostics consisting of electrical, mechanical, physical and chemical characterization were carried out to identify degradation mechanisms for polypropylene films under multifactor stress aging. The most pronounced changes were observed in the mechanical properties of the film. Significant decrease in elongation at break and tensile strength proved deterioration of the polypropylene under combined neutron-gamma radiation. This decrease was caused by chain-scission of the polypropylene molecules. The temperature stress had an opposite effect, causing an increase in the above-mentioned properties and offsetting, therefore, the negative effect of radiation. Although changes were observed in the electrical properties, they were not as significant as those for the mechanical characteristics. It can be concluded, that the failure mechanism of the electrical insulation under multistress aging conditions could be a mechanical failure of the material, rather than direct homogeneous decay in the dielectric strength or thermal breakdown of the polymer