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相似文献
 共查询到18条相似文献,搜索用时 78 毫秒
1.
Na2O-Al2O3-B2O3系统低熔点玻璃的研究   总被引:7,自引:0,他引:7  
报道了Na2O-Al2O3-B2O3系统玻璃可以用作一种低熔点玻璃,通过实验给出了Na2O-Al2O3-B2O3系统的相图、Tg点等高图、膨胀系数等高图,并对Na2O-Al2O3-B2O3系统玻璃的Tg点、膨胀系数做了分析讨论。  相似文献   

2.
3.
以Al(NO3)3.9H2O、Si(OC2H5)4、ZrOCl2.8H2O和Ti(OC4H9)4为原料,用sol-gel法通过分步水解得到透明稳定性能好的复合溶胶,利用浸渍提拉方法在孔隙率为45%的-αAl2O3陶瓷基体表面涂覆凝胶膜经热处理得到陶瓷膜。采用XRD、FT-IR和SEM测试技术对膜的相组成、凝胶膜热处理中的变化和复合膜的微观形貌进行表征。结果表明,改变Ti组分的加入量,复合膜的主晶相将发生改变;提高热处理温度,胶体颗粒之间将生成更加稳定致密的氧桥键Si—O—Al和Ti—O—Al—O—Si等,从而提高薄膜的机械强度;适中的溶胶粘度是成膜的关键因素。  相似文献   

4.
采用传统的熔融后冷却并恒温热处理的方法可获得组成为(1-x) Li2O·2B2O3·xSiO2 (x=0,0.05,0.1,0.15,0.2)的微晶玻璃,利用TDA,XRD,SEM及IR等测试方法研究了其显微组织结构.结果表明,在热处理过程中,表面晶化占主导地位,晶化过程由内部定向进行;SiO2的加入有利于晶相向Li2B4O7转化;结晶厚度、晶粒尺寸、与玻璃组成、热历史、表面状态、热处理制度及内部物质的扩散等因素有关.  相似文献   

5.
以Li2O-B2O3-SiO2系统为基础,添加少量外加剂,制备了结晶型电绝缘封接玻璃.测试表明,该电绝缘封接玻璃在540℃以下是电绝缘的,其热膨胀系数为109×10-7℃-1,主晶相为Li2O·SiO2.  相似文献   

6.
以MgO-Al2O3-SiO2系统为基础玻璃组成,TiO2为晶核剂,用少量的BaO取代MgO,制备出顽辉石/堇青石基微晶玻璃.采用差热分析、X射线衍射分析、扫描电镜等测试手段研究了BaO对玻璃析晶性能和显微结构等性能的影响,并探讨了不同量的BaO取代MgO对其电导率的影响.结果表明,在1 480℃通过熔融法制备玻璃试样...  相似文献   

7.
以Al(NO3)3.9H2O、Si(OC2H5)4、ZrOCl2.8H2O和Ti(OC4H9)4为原料,用sol-gel法通过分步水解得到透明稳定性能好的复合溶胶,并采用XRD和SEM等测试技术对复合溶胶的相组成及其微观形貌进行了表征。实验发现:ZrOCl2.8H2O的预水解溶液的pH<1,用它作为胶溶剂可合成性能好的复合溶胶;若不加硅烷偶联剂,当Al、Si物质的量比n(Al)∶n(Si)<2∶1时,得不到性能稳定的复合溶胶;改变Ti组分的加入量,复合薄膜的主晶相将发生改变。  相似文献   

8.
采用溶胶凝胶法结合高温熔制法,研制了适合微流控芯片用的光敏微晶玻璃。利用XRD、DTA和SEM测试技术,研究了热处理、光辐照对Li2O-Al2O3-SiO2系统微晶玻璃光化学加工性能的影响,确定出较为合理的工艺条件:光照时间30 min,热处理时温度升到485℃保温200 min,600℃保温60 min,升温速率约5℃.min-1。在此基础上,制备出微流控芯片分析用的十字沟道和储液池。  相似文献   

9.
采用溶胶-凝胶法(Sol-Gel)和熔融-淬火法分别制备了Bi-Si-B-Zn-Al-O系玻璃粉体,运用XRD、SEM、EMAX、IR、DSC/TG等手段对粉体进行了表征,并初步探讨了同体系不同制备方法下两种玻璃粉体的微观结构的异同.结果表明,两种玻璃粉体均呈玻璃态,溶胶-凝胶粉体颗粒较易破碎,球磨12 h后可得到1~10 μm范围的颗粒,其元素含量与实验设计比例较为接近;两种粉体玻璃网络结构相似,主要以[BiO3]三角体、[SiO4]四面体、[BO4]四面体构成基本网络骨架;熔融-淬火玻璃结构中[SiO4]四面体趋向于架状,使得粉体结构更加稳定,玻璃转化温度略高于溶胶-凝胶玻璃且均小于600℃.  相似文献   

10.
本文应用红外光谱和嘈曼光谱分析技术,研究了K2O-B2O3-SiO2系统玻璃的结构。结果表明,在SiO2/B2O3〉2的情况下,无论K2O/B2O3〉1、≈1,还是〈1,玻璃结构中均存在「BO3」,Si-O,O-Si-O及各种硼酸盐基团,在实验组成范围内,玻璃结构以硅氧网络为主,硅氧网络和硼氧网络上均带有非桥氧,并且对这种结构特征产生的原因进行了分析。另外,实验结果还说明SiO2/B2O3和K2O  相似文献   

11.
以柠檬酸为螯合剂,采用溶胶-凝胶法制备TSAG纳米粉体。通过XRD、FTIR和SEM测试手段对不同pH值和不同煅烧温度下合成的粉体进行了表征。结果表明:当温度为1000℃、pH值为3.3~3.6时,可以合成纯度较高的TSAG相,分布均匀,平均粒子尺寸为23.25nm;且随着烧结温度的升高,其粒径不断增大。  相似文献   

12.
BiFeO3薄膜的溶胶-凝胶制备及其铁电和介电性质   总被引:1,自引:0,他引:1  
采用Bi(NO3)3.5H2O和Fe(NO3)3.9H2O为原料,用溶胶-凝胶方法在Pt/Ti/SiO2/Si制备了BiFeO3薄膜。XRD研究表明在500℃以上退火薄膜能够获得良好的结晶。铁电性测试结果表明450℃和500℃退火的薄膜铁电性相对较弱。在430 kV/cm的测试电场下,剩余极化分别为0.255μC/cm2和0.36μC/cm2。而550℃和600℃退火的薄膜的铁电性相对较强,在相同的测试电场下剩余极化强度分别为2.27μC/cm2和2.97μC/cm2。介电性研究表明450—550℃退火的薄膜具有小的介电色散和介电损耗,而600℃退火的薄膜则具有大的介电色散和介电损耗。  相似文献   

13.
摘要: 性能.结果表明:不同涂覆层数的TiO2薄膜表面结构变化不大,TiO2呈锐钛矿.光电催化性能测试结果显示:甲基橙的脱色率随外加电压的增加而增加;甲基橙浓度的增加使脱色率逐渐降低;在酸性条件下脱色效果要好于中性和碱性条件下.在甲基橙的初始质量浓度为15mg/L,外加电压1500mV,pH为3时,甲基橙的脱色率约30min即可达到平衡,可达90%左右.  相似文献   

14.
溶胶-凝胶法合成Gd2O3:Eu纳米晶及荧光性质的研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
采用溶胶-凝胶法合成了Gd2O3:Eu纳米晶.利用X射线衍射,热重及差热分析和荧光光谱等测试手段对Gd2O3:Eu的结晶过程、发光性质进行了研究.XRD结果表明,合成的样品在550℃开始结晶,晶粒随着温度的升高而长大,发光光谱测试表明,宽的主激发峰是由Eu3 电荷迁移态吸收与Gd3 离子的的激发峰重叠而成,主发射峰为610nm,它们的强度随烧结温度的提高而增强.  相似文献   

15.
采用液相沉淀法制备了超细Al2O3-SiO2-CaF2系玻璃粉体,并对粉体进行了不同温度下的热处理,借助XRD、TEM、DSC等手段研究了初始粉体特征及晶化特性.结果表明,液相沉淀初始粉体呈典型的非晶态特征,粉体颗粒呈近球形形貌,颗粒尺寸在30-70nm范围内;温度在500-800℃范围内,粉体发生一系列析晶转变,在温度约为545℃时优先析出CaF2晶相,随温度升高,依次析出Al2SiO5、Ca2SiO4等晶相.  相似文献   

16.
1 Introduction Membrane techniques have had extensive applica tions in water treatment, sterilization of medicine and bev erage, recovery and purity of living things, micro elec tronics industry and gas separation[1]. In past years,many me…  相似文献   

17.
Fe doped In2O3 samples (In1-xFex)2O3 (x=0, 0.05, 0.1, 0.2 and 0.3) on glass substrate were prepared by sol-gel method. The XRD results demonstrate that the solubility of Fe ions in In2O3 matrix is around 20%, above which impurity phase can be observed. The transmittance of the samples with x=0, 0.05, 0.1 and 0.2 are above 80% in the visible region while the transimittance of the glass is 90%. The transmittance curves slightly red-shifts as x increasing. All of the samples except x=0 are ferromagnetic at roo...  相似文献   

18.
The Bi4Ti3O12 and Bi3.25La0.75Ti3O12 thin films were prepared on the Pt/Ti/SiO2/Si substrate using the sol-gel method. The effect of La doping on the microstructure and ferroelectric properties of Bi4Ti3O12 films were investigated. Both the Bi4Ti3O12 and Bi3.25La0.75Ti3O12 thin films exhibited typical bismuth layered perovskite structure. The 2Pr (remanent polarization) value of Bi3.25La0.75Ti3O12 thin films is 18.6 Μc/cm2, which is much larger than that of Bi4Ti3O12 thin films. And the Bi3.25La0.75Ti3O12 films show fatigue-free behavior, while the Bi4Ti3O12 thin films exhibit the fatigue problem. The mechanism of improvement of La doping was discussed.  相似文献   

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