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主要介绍目前国内外自动测试技术领域发展最快的VXI总线和虚拟仪器技术,从VXI总线和虚拟仪器的技术特点、系统工作方式、软/硬件综合和系统集成技术等方面,分析了组建VXI自动测试系统的基本过程和主要因素。 相似文献
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VXI总线在机载武器测试系统中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
阐述了机载武器测试系统的现状及存在问题,对比说明VXI总线符合我国机载武器测试系统国军标标准,适应测试系统发展的多种要求。 相似文献
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按照通用化、模块化、标准化的原则,设计出基于 VXI 总线技术的导弹装备通用测试系统。利用专家系统,大大提高了系统检测的智能化和自动化程度。系统能够完成对多种导弹装备的测试任务,为导弹装备的通用测试研究提供了一个新的途径。 相似文献
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基于VXI总线的某型雷达电路故障诊断系统 总被引:2,自引:0,他引:2
基于VXI总线的电路板故障自动诊断系统由主控计算机、VXI主机箱及适配器等组成,软件采用用户界面、控制逻辑和数据库三层体系结构.主控机采集电路板数据并比较测试与预期响应信号,利用按功能划分的电路板组合单元模型实现板级故障定位,然后按故障通路中元件的树型结构逐个筛选,用深度优先算法定位到故障元件.并以某型雷达电路板为例,通过描述文件保存电路板初始化与运行环境信息,实现描述文件到诊断模块的转换和故障定位算法. 相似文献
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基于VXI总线的导弹地面测发控系统 总被引:2,自引:1,他引:1
介绍VXI总线特点、基本工作原理、基于VXI总线导弹地面测发控系统的设计方案、系统组成及功能,讨论了地面测发控系统的硬件和软件设计。该系统功能强、通用化程度高,提高了武器系统的可靠性和可维修性。 相似文献
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介绍了应用VXI总线实现某系列防空导弹的通用自动化测试系统,阐述了系统实现的方法,包括系统的总体结构、系统的硬件实现、系统的软件实现等等.此自动化测试系统可以实现多种不同型号的导弹的测试,具有很好的通用性,另外对平时的训练、故障的排除、以及学习都有帮助. 相似文献
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基于VXI总线的电台电路板自动测试技术研究 总被引:1,自引:0,他引:1
以对军用电台电路板自动测试为目的,研究基于VXI总线的电台电路板自动测试技术。在分析军用电台电路板特点和测试要求的基础上,将电路板分为3个测试等级:功能级、区域级、器件级,提出采用功能测试和在线测试相结合的方法完成测试任务。 相似文献
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位标器光学陀螺转子动平衡方法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
提出了一种利用动平衡机和光学测试平台模拟目标相结合对转子的不平衡力和不平衡力偶进行同时平衡的方法。重点分析了不平衡力偶对陀螺系统的影响和测量方法,并结合陀螺转子结构特点,提出减少不平衡力和不平衡力偶相互影响的调试方法。在陀螺转子调试中本方法提高了动平衡的效率。 相似文献
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针对具有交叉耦合以及会受内外干扰的动力陀螺稳像系统,运用自抗扰控制理论设计了控制器。采用前馈控制解耦矩阵实现了通道之间的解耦。采用扩张状态观测器对系统的内外干扰进行实时估计和补偿,由非线性状态误差反馈控制律设计了ADRC控制器,实现对动力陀螺稳像系统的控制。数字仿真结果表明:所设计的自抗扰解耦控制器具有良好的解耦性能、跟踪性能、抗干扰性能和抑噪性能,可以满足动力陀螺稳像系统的控制要求。 相似文献
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针对火炮结构复杂,待测参数较多的情况,有必要研制一种功能多、兼容性好、操作简便的测试系统。基于虚拟仪器的测试系统突破了传统检测手段在数据测量、处理方面的限制,使检测设备可以方便地通过软件升级实现功能扩展,有效地提高检测设备的检测技术水准。虚拟仪器由通用硬件平台和应用软件组成。其中基本硬件为NI公司的PCI-4472型动态信号采集卡,软件为NI公司的图形化编程语言Lab—VIEW。计算机为硬件平台的核心,I/O接口设备主要完成被测输入信号的采集、放大和模数转换。软件系统可以同时进行4通道测试并用图形分析显示出来。实弹测试实验表明,系统软硬件能够满足火炮动态参数测试要求。 相似文献
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为了进一步提高系统的跟踪性能与抗干扰性能,运用自抗扰控制(active disturbance rejection control,ADRC)理论对具有交叉耦合以及会受内外干扰的动力陀螺稳像系统设计控制器。采用前馈控制解耦矩阵实现了通道之间的解耦。采用扩张状态观测器对系统的内外干扰进行实时估计和补偿,由非线性状态误差反馈控制律设计了ADRC控制器,实现对动力陀螺稳像系统的控制。数字仿真结果表明:所设计的自抗扰解耦控制器具有良好的解耦性能、跟踪性能、抗干扰性能和抑噪性能,可以满足动力陀螺稳像系统的控制要求。 相似文献
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基于工程可靠性分析的陀螺电机加速寿命试验设计 总被引:5,自引:0,他引:5
研究某型陀螺电机的加速寿命试验设计方法,该方法以工程可靠性分析为基础.一般的加速寿命设计认为产品只有一种失效机理,采用单一加速应力.研究显示,同一个试验条件对陀螺电机不同部分的寿命影响是不同的,陀螺电机进行加速寿命试验时,存在不同的失效机理.因此,陀螺电机的加速寿命试验不能采用一般的加速寿命试验. 相似文献
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