电子探针分析表面粗糙试样时最佳峰背比的讨论

试验表明,当用断探针分析金属断口试样的某种元素时,其加速电压的选用应略高于这种元素的最佳加速电压值,这样做可减小粗糖表面对 x 射线出射的影响,保证了高的 x 射线强度和峰背比,有利于提高电子探针对表面粗糙试样的分析精度。     

应用放射性同位素X荧光法测定矿石中的铜和铁

国外在X射线荧光光谱分析中已广泛采的元素含量,见表1。用放射性同位素作为照射源,以测定矿石中各种元素的x射线荧光分析万     

同步加速器激发X射线测定痕量元素

多年来X射线荧光分析在化学元素分析方面起了很重要的作用。近十几年来发展起来的同步幅射x射线源显示了x射线激发技术革命性的进步。用同步幅射(SR)进行x射线荧光分析(xRF),使研究者可获得高灵敏度和相当高的分辨率。SR所获的结果表明,测量的最小空间分辨率可小于100μm~2,在300秒时间内最小检测限(MDL)约为1fg(即10~(-15)克)。习惯上使用xRF方法,主要是因为它具有多元素检测能力,试样无需特殊制备,对试样的损伤小,并能在大气压下对固体、液体、或气体进行分析等优点。SR源不但保持了所有这些优点,并且为开拓xRF方法提供了新的前景。譬如痕量元素x射线显微镜可用于显示小于1ppm(重量)     

利用X荧光能谱仪快速测定合金钢中钼元素

在合金钢能量色散X射线荧光光谱的研究基础上,使用国产的XRF-6型X射线荧光能谱仪对合金钢中钼元素进行了测定分析。钼元素的Kα特征射线能量值为17.443 keV,铁元素的K_α特征射线能量值为6.40 keV,通过与基体铁元素特征射线强度值之比得到的工作曲线可以实现合金钢中钼元素的快速定性及定量分析。合金钢中成分元素铌对钼元素测定存在一定的干扰,有效地克服干扰元素对钼元素测定数据的影响是数据处理的技术关键。研究结果表明铌元素等的干扰能被有效克服,X射线荧光能谱可解决合金钢中钼元素的快速分析问题。     

X射线荧光光谱法测定镁砂中的主要元素

介绍了采用X射线荧光光谱法测定镁砂中的SiO2、CaO、MgO、Fe203、Al2O3等元素的方法。采用将灼烧后的样品与四硼酸锂混合在高温条件下熔融成片，用x射线荧光光谱仪测定，分析结果的精密度、准确度高，分析速度快，适合于大批量进厂原料的检验工作。     

GH4169合金的X射线荧光光谱分析

采用x射线荧光光谱仪测定GH4169合金中的锰、硅、镍、铬、钼、铝、钛、铌。研究了测量条件及基体 吸收—增强效应的校正。还时测量精度进行了研究,各元素的相对标准偏差分别为0．0466％～O．6777％。与 化学分析结果对照结果良好。     

高炉生铁次量元素X射线荧光光谱快速分析方法的研究

炉前铁水以前采用传统的化学分析方法测定生铁次量元素,因操作繁杂,分析速度慢时间长,分析成本高,不能迅速指导高炉生产。采用x射线荧光光普法测定,其分析结果与化学法相符,满足标准中分析误差的要求,分析速度快,分析时间由30min缩短到10min,分析成本低,能够指导高炉连续生产。     

X射线荧光光谱法快速测定生铁中硅、锰、磷、硫、砷

建立了用粉末样品添加粘结剂压片,选择适宜的工作参数,x射线荧光光谱法测定生铁中硅、锰、磷、硫、砷等杂质元素含量的分析方法。方法快速、准确、成本低。     

全自动荧光X射线多波道多元素同时分析装置

著名的日本理学电机工业厂,最近制成多波道荧光 x 射线分析装置(3530型)。该装置能将固定元素波道扩大到30个,也可变成28个固定元素波道和1个扫描型测角计波道,或26个固定元素波道和2个扫描型测角计波     

现代X射线荧光分析艺术

现代波长色散X射线光谱仪是对元素分析的一种无破坏性的、对环境无污染的分析方法.可对固体、粒末、液态样品中铍至铀间各元素进行定性、半定量及定量测定.     

溶剂热法制备CuIn（SxSe1-x）2纳米粉体的微观结构与光学特性

以乙醇胺为溶剂,以氯化铟、氯化铜、硫化钠、硒粉为原料,采用溶剂热法制备 CuIn(SxSe1?x)2(x=0~1)纳米粉末,采用X射线衍射仪(XRD)、场发射扫描电镜(FESEM)、紫外–可见分光光度计等对该粉末的物相结构、形貌及光吸收性能进行分析与表征。结果表明：CuIn(SxSe1?x)2粉末主要为黄铜矿相结构,当S元素掺杂量x＞0.5时,粉末中出现纤锌矿相CuIn(SxSe1?x)2。随x从0增加到1,CuIn(SxSe1?x)2粉末的形貌从片簇状逐渐转变为颗粒状,其吸收边出现“蓝移”,禁带宽度从1.16 eV增大到1.48 eV。     

X射线荧光探头中几个主要部件相对位置的探讨

简述了X射线荧光分析法进行元素分析的基本原理，着重对产生并接收荧光X射线的XRF探头中几个主要部件的相对位置作了探讨。     

硅钢中合金元素的几种仪器分析方法

概述了硅钢中常见合金元素的种类,介绍了电感耦合等离子体原子发射光谱、电感耦合等离子体质谱、辉光放电发射光谱和X-射线荧光光谱几种仪器测定硅钢中合金元素的方法及分析原理,通过应用实例分析,总结了各种仪器分析方法的优缺点,并对硅钢中合金元素的仪器分析方法的手段与方向进行了展望。     

XFR法测定硅铁合金中Al元素含量的不确定度评定

对x射线荧光光谱法测定硅铁合金中Al元素的测量不确定度的来源进行了详细的分析,确认了不确定分量的评定类别,既A、B类方法评定。对测量结果的不确定度进行了评定,在评定过程中发现工作曲线回归引起的不确定度对总不确定度贡献最大,并最终给出了扩展不确定度。     

硫化镍火试金法分析铂族元素和金过程中铬铁矿的分解研究

本文叙述了一种经改进的用于火试金法分析铬铁矿中铂族元素和金的熔融步骤。用光学显微术、x射线衍射、电子探针显微分析及中子活化分析论证了此方法的有效性,并证实了铬铁矿的分解得到了改善。本方法数据的可靠性用内部文献资料加以论证。     

V含量对(Nb,V)N复合膜微结构、力学性能与摩擦性能的影响

采用JGP-450复合型高真空多靶磁控溅射设备制备(Nb1-x,Vx)N(x=0,0.08,0.12,0.16,0.19)复合膜。利用X射线衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)、纳米压痕仪及摩擦磨损仪等对复合膜的微结构、力学性能与摩擦性能进行表征。结果表明:NbN薄膜的择优取向为(200),在NbN薄膜中添加元素V后,薄膜的择优取向转变为(111),但x增大到0.19时薄膜又呈(200)择优取向;随V元素含量增加,(Nb,V)N复合膜的硬度和弹性模量均先增大后减小,x=0.12时,显微硬度和弹性模量都达到最大,分别为26.88 GPa和328.24 GPa;随温度从室温升高到700℃,(Nb0.88,V0.12)N复合膜的摩擦因数逐渐降低。(Nb0.88,V0.12)N复合薄膜具有良好的综合性能。     

X射线荧光光谱用的玻璃薄膜标准物

美国国家标准局的Pella等制造了两种标准物SRM 1832(Al、Si、Ca、V、Mn、Co和Cu)和SRM1833(Si、K、Ti、Fe、Zn和Pb),验证了它们的元素均匀性、组成和对水的灵敏度。这两种标准物用于x射线荧光光谱仪的校正,特别是过滤介质上收集到空载颗粒物的元素分析。这种硅石基的玻璃膜厚0.5～0.6微米,是用离子束聚焦涂敷法沉积在聚碳酸酯层上的,其中含有已知量选定的元素氧化物。     

X射线荧光熔融法在炉渣多元素分析中的应用

采用硼酸盐混合熔剂,将炉渣样品在高温下熔融成玻璃圆片,X射线荧光光谱法在分析炉渣中多种元素时,可以有效地消除各种炉渣存在的严重矿物结构效应,减少元素间的吸收和增强效应,为炉渣多元素分析建立快速准确的新型仪器分析方法。     

铅精矿中掺杂冶炼渣的鉴别

为了查验一批进口铅精矿是否掺杂冶炼渣,分别采用X射线荧光分析对元素组成及其大致含量进行表征、X射线衍射分析其中的主要物相、红外光谱分析其中的脉石矿物、偏光显微对其中的非脉石矿物进行识别,四种表征手段的联用,判定试样主要由铅精矿构成,但其中掺杂有湿法冶炼提取铅锌后的浸出渣。     

诱导含量法在直读光谱仪上的应用

VE—IM光电直读光谱仪在分析方法和数据处理上采用国内外普遍采用的“内标法”。但是,作为内标元素的重要条件是它在合金中的含量应当保持基本不变。然而高合金成份复杂、变化大,即使同一钢种,在冶炼过程中成份变化也很大。由x=I_分/I_内可知:当内标元素含量上升时,强度I_内上升,x下降;反之x上升。而x的变化必然引起含量Q的变化。所以,