北京同步辐射软X射线装置与软X射线探测器标定

简单介绍了２套北京同步辐射软Ｘ射线装置，主要用于软Ｘ射线光学元件测量和软Ｘ射线探测元，器件的标定，给出了软件Ｘ射线装置上计量标准和探测器标定方面的研究结果。     

正比计数管用于同步辐射扫描软XZ射线显微镜

正比计数管在软Ｘ射线测量中有着广泛的应用，而软Ｘ射线显微术是研究自然状态下的生物样品分辨率成像的最好方法，也是同步辐射光源最重要的应用之一。本文介绍了应用于软Ｘ射线测量的流气式正比计数管的结构，特性及其应用于合肥同步辐射扫描软Ｘ射线显微镜的初步结果。     

医用电子加速器迷宫内的X射线剂量当量率的测量和估算

使用ＦＡＲＭＥＲ２５７０／１Ａ型和ＦＪ－３４７Ａ型两种电离室剂量仪测量了能量为６，８，１８ＭＶ的７个医用电子加速器迷宫内的Ｘ射线剂量当量率，结果表明迷宫内Ｘ射线测量当量率在迷宫内入口处最高，当迷宫内入口到等中心的蹁小于５．２ｍ时，该迷宫内入口中心处的Ｘ射线测量当量率与等中心处用束Ｘ射线吸收剂量率的比值大于５．５×１０＾－５，随距离增加，剂量率减小，进入迷宫巷道后，Ｘ射线剂量当量率一般不超过等中心有     

超灵敏小型回旋加速器质谱计X射线本底崐的来源及其抑制方法

通过理论分析和实验测量，基本上确定了Ｘ射线本底产生的原因，并采取了有效的克服办法。使Ｘ射线引起的本底计数降低到原来的２／５。极大地提高了１４Ｃ的探测效率和样品测量的精确度及丰度灵敏度。     

低能γ光子及射线在透射金属箔方向激发的次级X射线

采用Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测系统，以透射法测量了＾２４１Ａｍ和＾２３８Ｐｕ放射源的低能γ光子和Ｘ射线在透过不同厚度的Ｆｅ和Ｃｕ箔时激发的次级Ｘ射线相对强度的变化，实验结果表明，激发产生的Ｘ射线相对强度在实验样品厚度范围内随箔厚的增加而增加，在高原子序数材料中将产生更多的特征Ｘ射线，各次级Ｘ射线的强度与箔厚形成方式以及激发源的活度，能量有关，最后对实验结果的物理机制进行了初步探讨。     

同步辐射低能X射线的照射量测量与剂量计算

用自制自由空气电离室，在能量为２－１２ｋｅＶ同步辐射光束线现场测量了单能Ｘ射线的电离量，依据Ｘ射线在空气中的传输和衰减特性及能量转移系数，计算了电离室入射口的照射剂量值。进而求出在空气中的相应比释动能和光子通量。讨论了软Ｘ射线照射量随能量的分布特性及混合能量Ｘ射线的照射量测量方法。     

低能γ光子及X射线在透射金属箱方向激发的次级X射线

采用Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测系统，以透射法测量了２４１Ａｍ和２３８Ｐｕ放射源的低能γ光子和Ｘ射线在透过不同厚度的Ｆｅ和Ｃｕ箔时激发的次级Ｘ射线相对强度的变化。实验结果表明：激发产生的Ｘ射线相对强度在实验样品厚度范围内随箔厚的增加而增加；在高原子序数材料中将产生更多的特征Ｘ射线；各次级Ｘ射线的强度与箔厚形成方式以及激发源的活度、能量有关。最后对实验结果的物理机制进行了初步探讨。     

过滤X参考辐射装置性能的非介入评价

报道了中能过滤Ｘ参考辐射装置的性能参数测量和评价方法。利用ＶＩＣＴＯＲＥＥＮ非介入式诊断Ｘ射线质量保证仪器ＮＥＲＯＴＭ６０００Ｂ，一次操作可测出ｋＶ及其平均，最大和有效值，照射时间，辐射的输出和波纹等重要参数以及ｋＶ和辐射波形。测量是从Ｘ射线束取样，不需要拆装置，故提高了工作效率的安全性。该方法也适用于过滤Ｘ参考辐射装置的质量保证。     

双极晶体管X射线辐射剂量增强效应

本文介绍典型双极晶体管在Ｘ射线辐射环境下性能的退化及剂量增强效应，实际测量了双极晶体管Ｘ射线辐射剂量增强系数，研究了双极器件剂量增强效应机理。     

低能γ射线和X射线在几种金属薄膜中产生的次级辐射效应研究

对电子,低能γ射线和Ｘ射线穿透几种不同厚度的Ｆｅ,Ｃｕ和Ｔａ薄膜时所产生的次级电子及次级Ｘ射线进行了实验测量,并对影响次级电子和次级Ｘ射线强度的因素进行了分析。     

正比计数管用于同步辐射扫描软X射线显微镜

正比计数管在软ｘ射线测量中有着广泛的应用，而软Ｘ射线显微术是研究自然状态下的生物样品高分辨率成像的最好方法，也是同步辐射光源最重要的应用之一。本文介绍了应用于软Ｘ射线测量的流气式正比计数管的结构、特性及其应用于合肥同步辐射扫描软ｘ时线显微镜的初步结果。     

用X射线荧光分析技术测定镀,包金层的厚度

把Ｘ射线荧光分析和低能γ射线散射技术相结合，准确地测量了镀、包金制品的镀、包金层厚度。可测定的最大镀、包层厚度为７０μｍ，测量准确度好于１０％。     

CMOS电路X射线辐射剂量增强效应

研究了ＣＭＯＳ电路在Ｘ射线辐射环境下性能的退化及剂量增强效应，测量了相对剂量增强系数，对不同工艺ＣＭＯＳ电路的剂量增强系数进行了比较，并对高原子序数材料的Ｘ射线剂量增强机理进行了讨论。     

一种分辨电子和X射线的多丝室系统

研制了一种能够分辨电子和Ｘ射线的多丝室系统，作为穆斯堡尔谱仪的探测器，可以同时测量样品吸收共振辐射后发射的特征Ｘ射线和内转换电子及俄歇电子的穆斯堡尔谱，从而得到样品表面不同深度的多种信息。     

双能X线骨密度仪的原理和结构

本文介绍了骨密度测量的最新方法双能量Ｘ射线吸收法的基本原理，并提出了测量骼质量的计算公式和实现这种方法的结构框图。     

同步辐射单色X光照射量现场测量系统

为同步辐射单色Ｘ光照射量测量研制出自由空气电离室。设计了现场照射量测量的计算机系统,重点讨论了轮Ｘ射线照射量的测量原理和计算方法。     

材料自散射对低能γ射线厚度测量精度的影响

本文根据γ射线与物持发生Ｒａｙｌｅｉｇｈ散射和康普顿散射的基本规律，用蒙特卡罗法计算了散射γ射线对探测器计数或沉积能量的影响，从使用低能Ｘ，γ射线（＾３４１Ａｍ５９．６ｋｅＶ）测量钢带厚度的角度，分析了散射对测量结果精度的影响，计算了与实验进行了比较。     

X—X方法

提出了采用可控Ｘ射线激发源激发样品、测定散射Ｘ射线的全谱、根据不同物质的谱线形态差异来确定所测定物质的组分（有效原子序数）、用于完成现场快速及在线测量的Ｘ－Ｘ方法。该方法实用、经济、安全、对环境无污染，有广阔的应用前景。     

X─X方法

提出了采用可控Ｘ射线激发源激发样品、测定散射Ｘ射线的全谱、根据不同物质的谱线形态差异来确定所测定物质的组分（有效原子序数）、用于完成现场快速及在线测量的Ｘ－Ｘ方崐法。该方法实用、经济、安全、对环境无污染，有广阔的应用前景。     

运算放大器X和γ辐射损伤的比较

比较了运算放大器在Ｘ和γ辐射环境下性能的变化，并对Ｘ射线对运算放大器产生的剂量效应作了研究。实验测量Ｘ射线对几种典型运放的相对剂量增强系数的范围为３．４＝１２．３。ＳｉＯ２／Ｓｉ界面产生的俘获空穴电荷和界面态是运算放大器在Ｘ和γ辐射环境下的主要失效模式。