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Cu/Al真空扩散焊接显微组织分析 总被引:20,自引:1,他引:19
采用真空扩散焊工艺方法,对Cu与Al扩散焊接头的组织性能进行了试验,利用扫描电镜(SEM)、电子探针9EPMA)、显微硬度等测试焊接过渡区及基体组织和性能进行了分析。试验结果表明:采用真空扩散焊工艺,在加热温度530-540℃,保温时间60min,压力11.5MPa时,在Cu/Al界面处形成明显的扩散过渡区,扩散区域宽约40μm。在铜侧过渡区中产生金属间化合物,会出现显微硬度高峰区,控制Al的扩散浓度可避免或减少界面处金属间化合物的产生。 相似文献
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SiCp增强Al基复合材料的真空扩散焊接 总被引:14,自引:0,他引:14
采用真空扩散焊接方法研究了同质及异质SiCp增强Al基复合材料的连接特性,考察了SiCp体积分数变化及插入中间合金层对同质及异质Al合金基复合材料真空扩散焊接质量及接头性能的影响。研究结果表明,无论同质还是异质Al合金基复合材料,真空扩散焊接头的强度均随SiCp体积分数的增加而降低;获得满意的异质SiCp增强Al合金基复合材料的真空扩散焊连接远比同质材料时困难。研究结果还表明,无论同质还是异质Al 相似文献