基于V93000 ATE性能测试方法的实现

针对SoC芯片ATE性能测试进行了研究,分析芯片性能测试的关键参数和典型测试类型（内部模块性能测试和接口数据流性能测试）。基于这两种测试类型,以“Date Rate”性能测试为例,分别进行了测试方法的实现。内部模块性能测试的实现,通过指示信号输出性能测试开始和结束波形,采用逆向思维通过“ERCT”获取代表性能运行时间的“Fail Cycle”数,然后对性能时间进行计算来获得性能测试值。接口数据流性能测试的实现,主要通过“Digital Capture”捕获接口数据,然后对接口数据进行处理和计算来获得性能测试值。上述性能测试方法及原理,在ATE测试应用中具有通用性,对于相同或相似的基于时间参数的芯片性能测试具有参考作用。     

基于Verigy 93000的GMH 92 LV 18全参数测试技术

以GMH 92 LV 18为研究对象,研究了其功能与全参数测试方法,重点研究并形成了与该器件相关的功能测试方法、异步信号处理技术、信号的稳定生成技术、程控动态负载测试技术和时间参数测试技术,并给出了在Verigy 93000测试系统上的实测波形图。对Verigy 93000测试系统上的器件测试、LVDS器件测试及高速信号测试均具有借鉴意义。     

基于Verigy93000的高速数字集成电路测试

主要介绍了当前高速数字信号测试中的一些处理方法.依据这些处理方法.阐述了如何在Verigy93000机台上进行高速数字集成电路器件的测试.     

VCD仿真文件到93000 ATE测试文件转换分析

VCD仿真文件转为ATE测试文件,是ATE测试过程中的重要环节。本文介绍了VCD到93000 ATE测试文件的转换分析,文中采用主流转换方法,由VCD转为STIL,再由STIL转为ATE测试文件,对转换过程各重要环节进行深入分析,帮助ATE测试工程师对转换的理解,使转换后的测试文件更能满足93000 ATE测试要求。     

Verigy 93000 SoC测试系统及测试中偏置电流的实现

Verigy 93000 SoC测试系统是一个低成本、可扩展的单一测试平台,它是满足SoC全面发展需要的芯片测试系统解决方案.概括介绍了93000自动测试系统(ATE),并讨论了其偏置电流的实现方法.     

基于V93000测试系统的反熔丝FPGA向量压缩方法研究

V93000测试系统是一个集成电路测试设备,用来进行IC测试。对于复杂的集成电路,其测试向量数据庞大,由于V93000测试系统自身向量空间的限制,因此压缩测试向量具有十分重要的意义。该文主要从测试向量生成角度出发,提出一种自编向量重复脚本压缩与V93000的4X配置和Multiport方式相结合的办法来进行测试向量的压缩。该文以反熔丝FPGA测试为例子,通过此方法将测试向量压缩了20倍。     

SoC测试的发展趋势及挑战--安捷伦科技93000 SoC测试系统的解决方案

1前言随着半导体科技的进步,我们已经可以把越来越多的电路设计在同一个芯片中,这里面可能包含有中央处理器(CPU)、嵌入式内存(Embeddedmemory)、数字信号处理器(DSP)、数字功能模块(Digitalfunction)、模拟功能模块(Analogfunction)、模拟数字转换器(ADC,DAC)以及各种外围配置(USB,MPEG,…)等等,这就是我们所说的SoC(系统单芯片)技术。目前,很多具有中央处理器功能的消费性电子产品,如视频转换器(Set-topbox)、移动电话(mobilephones)和个人数字助理(PDA)等等,都可称之为SoC芯片。这类产品不仅在市场上占有重要地位,且其销售量…     

11位200MSPS ADC提升信噪比降低功耗

存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案。     

Agihent 93000 SOC系列采用的液冷技术对测试及测试成本的好处

半导体芯片在运行过程中散发热量。芯片的工作温度影响着其内部电路性能，更重要的是，其影响着芯片的可靠性。对半导体测试，这是一个重要问题，因为如果测试系统电子器件的温度不能稳定在目标水平，那么产出将下降，可重复性将会劣化。如果目标温度不能保持在相对较低的水平，那么系统可靠性将明显降低。自动测试系统(ATE)采用基于空气或液体介质的冷却技术。液冷系统比风冷系统的温度稳定性要高。液冷系统的热传导效率较高，因此可以降低ATE的工作温度。这可以提高系统可靠性，降低测试系统运行成本，改善吞吐量，保护测试系统投资。本文阐述了温度对半导体芯片的影响，分析了液冷技术在ATE系统中较风冷技术的各项优势。     

DC/DC变换器输入阶跃响应测试方法研究

介绍了DC/DC变换器输入阶跃响应的概念和测试原理,对该参数的测试技术进行了探索,开发出适合的测试方法和测试系统。通过产品的测试,验证了测试方法和测试系统的准确性。该测试方法符合SJ20646-97《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》的规定。该测试方法和系统适用于大动态输入范围和大功率DC/DC变换器输入阶跃响应的测试。     

基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

 SoC(System-on-a-Chip)芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP(Intellectual Property)核将不可避免地被集成在SoC芯片当中.对于端口非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE(Automatic Test Equipment)设备的测试通道上,由此,对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战.在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC(Analog-to-Digital Converter)以及DAC(Digital-to-Analog Converter)IP核的性能参数测试方法.对于端口非测试复用ADC和DAC IP核,首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF(External Memory Interface)总线对其进行配置.在对ADC和DAC IP 核进行配置以后,就可以通过V93000捕获ADC IP 核采样得到的数字代码以及通过V93000 采样DAC IP 核转换得到的模拟电压值,并由此计算ADC以及DAC IP 核的性能参数.实验结果表明,本文分别提出的针对端口非测试复用ADC以及DAC IP 核测试方案非常有效.     

全新可升级ATE保障未来三代器件需求

存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案.     

存储器并行测试方法

存储器是集成电路中最常用的器件之一,存储器的工艺不断改进,使得它的容量增大、集成度和工作速度也在不断增加。快速而高效地对存储器测试,是批量存储器测试工作的一个重要课题。本文介绍了有关大容量存储器集成电路测试系统的软件原理和硬件构成,对存储器并行测试方法作了初步探讨。     

DSP控制单相UPS并联直流环流分析与解决

在单相UPS的并联运行中,为了系统的稳定运行,必须对逆变输出进行均流控制。而逆变输出并联间的环流分为交流环流和直流环流。文中详细地分析了直流环流对系统的影响并对直流环流的改善提供了一种有效的解决方法。     

Zero-voltage DC/DC converter with asymmetric pulse-width modulation for DC micro-grid system

This paper presents a zero-voltage switching DC/DC converter for DC micro-grid system applications. The proposed circuit includes three half-bridge circuit cells connected in primary-series and secondary-parallel in order to lessen the voltage rating of power switches and current rating of rectifier diodes. Thus, low voltage stress of power MOSFETs can be adopted for high-voltage input applications with high switching frequency operation. In order to achieve low switching losses and high circuit efficiency, asymmetric pulse-width modulation is used to turn on power switches at zero voltage. Flying capacitors are used between each circuit cell to automatically balance input split voltages. Therefore, the voltage stress of each power switch is limited at V_in/3. Finally, a prototype is constructed and experiments are provided to demonstrate the circuit performance.     

DC／DC在接口电路与放大器电路中的应用

本文主要是以微功率DC／DC应用在RS485／2．32接口电路及模拟电路（以运放为例）中普遍碰到的问题、应注意的事项以及其解决的方法。