计量技术基础知识问答(十) 第十期答案

一、长度计量 19.答:0级千分尺用四等或一级量块检定;1级千分尺用五等或二级量块检定。检定时,首先将千分尺的测量下限调整至正确。对于0～25mm千分尺,是使其测砧与测杆的测量面相接触后进行调整,若量块按等用时,测量下限按量块的实际尺寸调;量块按级用时,测量下限按量块的标称尺寸调,只要千分尺上的示值,前者等于量块的实际尺寸,后者为量块的标称尺寸时,测量下限已调整至正确,然后根据千分尺均匀分布的五个受检点(A 5.12,A 10.24,A 15.26,A 21.5A 25mm,A—测量下限)选用相应尺寸的量块依次地进行检定,并按千分尺进行读数。千分尺的示值误差δ_i按下式求得: δ_i=r_i-L_i 式中,r_i——按千分尺的读数(mm); L_i——量块的尺寸(mm)按等用实际尺寸,按级用标称尺寸。     

因陋就简地检定大型游标卡尺

在没有大尺寸量块的条件下,检定500毫米以上的大型游标卡尺,可以因陋就简地用小尺寸量块配合大型千分尺调整棒对大型游标卡尺进行检定。仅以500毫米游标卡尺为例。可用尺寸为81.10、161.30、241.40毫米的三级量块的量块组去检定游标卡尺的81.10、161.30、241.40毫米的三个尺寸。用尺寸为21.6、1.70和6.9毫米的三级量块的量块     

一种内测千分尺的检定方法

如图所示,用辅助量块3和标准量块2组成内尺寸标准检定内测千分尺。检定时辅助量块应选择大于10mm 的量块,以免因变形而影响检测结果。外径千分尺1的两工作面顶住精助必块并靠近标准t块一侧。检定内侧千分尺时,使其尽量靠近标     

大千分尺示值误差专用检定辅具

对于测量上限大于100mm的千分尺示值误差的检定,我们是利用测量下限为50mm以上的废千分尺改制成专用检定辅具来进行的。检定时,只要用等于被检千分尺测量下限的校对用量杆或量块的实际尺寸对“零”,校对测量下限,然后装夹上专用检定辅具,使被     

对JJG82-98《公法线类千分尺检定规程》的一点建议

现行的ＪＪＧ82 -98《公法线类千分尺检定规程》将原来的ＪＪＧ82 -86《公法线千分尺检定规程》和ＪＪＧ83 -84《公法线杠杆千分尺检定规程》合并成了一个规程 ,同时将ＪＪＧ82 -86中零位的校准方法进行了改动 ,ＪＪＧ82 -86中第 2 6条写道 :“……检定前须先将公法线千分尺的测量下限调至正确位置 ,对于 0～ 2 5ｍｍ的公法线千分尺调整测量下限时用1ｍｍ的量块 ,对于其它测量范围的用其测量下限值的量块进行 ,调整时量块与测量面的接触部位与检示值误差时量块放置的位置相一致 (即在上下左右四个位置各测量一次 ) ,并取四个位置上的最大值…     

《量块》检定规程中最大允许年变化量的规定不切实际

在JJG146-2003《量块》检定规程中关于量块长度稳定度作了某些规定。但实际检定工作经验告诉我们,其中5等(3级)标准量块要求最大允许年变化量±(0.05μm 1.0×10-6×Ln)过严,不切实际。理由有如下几点:1#5等(3级)标准量块一般是用分度值为1μm的光学计检定的,在检定结果数据处理时精确到保留小数点后一位,因此量块检定时其中心长度除非与上年度检定结果完全一样,否则都将有至少±0.1μm的年度变化量。如果要满足公式±(0.05μm 1.0×10-6×Ln)的要求,那么许多被检量块都将面临降等、降级。例如,现有一副20块组(5.12～100)mm检定千分尺专用…     

千分尺检定中的几个技术问题(下)

二、两工作面的平行度测砧和测量杆的工作面平行度,通常采用平行平晶或量块检定。平行平晶或量块的尺寸根据被检千分尺的测量范围确定,且在测量范围的中间尺寸段,即在A+12mm～A+16mm(A为测量下限)内选取依次间隔0.12～0.13     

大量程奇数沟千分尺示值误差的量块检定法探讨

在规程JJG182--2005《奇数沟千分尺》中，示值误差的检定仅给出了光滑塞规检定法，且只适用于测量上限小于100mm的奇数沟千分尺，没有规定量程超出100mm的大量程奇数沟千分尺示值误差的检定方法。本文介绍了大量程奇数沟千分尺示值误差的量块检定方法，结合成套奇数沟千分尺自带的测量下限校对（或调整）用光滑塞规，使用量块可以快速检定其示值误差。该方法特别适用于量程大于100mm的大量程奇数沟千分尺。     

千分尺的测量不确定度评定

1 概述 (1)测量依据:依据JJG21-1995<千分尺检定规程>. (2)环境条件:温度为(20±5)℃. (3)测量标准:20块5.12～100mm量块,其不确定度或最大允许误差为:4等. (4)被测对象:测量范围为0～25mm,分度值为0.01mm的千分尺.     

用微米千分尺测量塞尺片厚度的不确定度分析

塞尺是一种检验间隙用的薄片式量具 ,其应用十分广泛。根据JJG6 2 - 95《塞尺检定规程》中要求 ,塞尺尺片厚度采用卧式测长仪直接检定 ,其操作起来十分繁琐。在实践中 ,我们采用 3等量块作标准在微米千分尺上检定。分度值为 1μm的千分尺基在 0～ 2 5mm范围内的示值误差为± 3μm ,而塞尺片厚度为 (0～ 1)mm ,在其之间误差很小。测量时 ,塞尺片垫上 1mm量块 ,其偏差为 0 0 8μm (检定证书给出 ,量块长度偏差可忽略不计 )。微米千分尺在测量塞尺片的厚度时 ,其使用范围为 (1～ 2 )mm ,而实际上微米千分尺的示值误差非常小 ,如果知道微米千…     

浅谈大千分尺两工作面平行度的检定

大千分尺两工作面平行度的检定 ,由于尺寸大 ,量具自身重 ,若采用量块或平行平晶与量块组合进行检定 ,不仅工作效率低 ,而且测量结果不准确 ,影响检定质量。为此 ,我们利用过去已报废的一盒（１００～１５００）ｍｍ内径千分尺进行改装 ,组成一套可检定测量上限至１５００ｍｍ的大千分尺平行度的专用检具 ,既经济又实用。平行度检具结构如图所示 ,主要由套管、可换接长杆、钢球装置和微分头组成。经使用证明 ,基本上满足了大千分尺平行度检定工作的需要。１ 大千分尺测砧２、７ 套筒３、６ 钢球装置４ 可换接长杆（空心）５ 微分头总成６ 大…     

用垂直观测法检定千分尺测量面

本文介绍一种垂直观测法,将青岛标准计量局实验工厂生产的千分尺检定架改装成一种夹具,辅助检定千分尺测量面,其效果很好。如图所示,将千分尺检定架上装卡量块用的工作台拆下,换上反射镜1。把千分尺装卡在卡爪3内并用紧固螺丝4固紧,然后将平行平晶2置于千分尺两测量面间,调整平行平晶与千分尺测量面间的相互位置,使干涉带的总     

校对用的量杆应标上实际尺寸

我们在检定千分尺的过程中,经常会遇到这样的情况;对测量下限大于25mm的千分尺,在计量室用5等量块的实际尺寸来对零位,而在车间使用时,将校对用量杆的标称尺寸来调零位。如25～50mm的一支千分尺,在某点上的示值误差为+0.004mm,符合一级千分尺的要求,所用校对量杆的实际尺寸是24.998mm也     

量块修理的几点体会

量块是保证长度尺寸正确传递的标准量具,用它校正测量仪器、量具、高精度的制件和调整精密机床等工作中的端面尺寸。为了保证量块在予定的精度范围内,必须定期地进行检定和修理,现将我们修理量块的几     

自制公法线千分尺平行度专用检具

我们在检定公法线千分尺时 ,发现不平行度合格与否对示值的影响远比其它因素的影响大。规程ＪＪＧ82— 98要求公法线千分尺的平行度采用平行平晶或量块检定。但在实际工作中 ,因测头圆盘直径大 ,用平行平晶检定不便于观察干涉带 ,干涉带显示不明显。量块检定时 ,量块放在测量面     

大于300mm游标高度尺示值误差的检定

检定测量范围大于300mm的游标高度尺,在没有专用量块的情况下,可用83块组,8块组或5块组的4等量块及一米的测长机,对其示值误差进行检定。现将检定方法介绍如下: 以分度值为0.05mm测量范围为0～1500mm的游标高度尺为例。取受检点为751.2mm。如图所示,将高度尺1调至751.2mm,同时将内径千分尺2也调至751.2mm(含块     

测量锥度量规的一种方法

采用圆柱和量块测量外锥度及小端直径,是一种普遍的方法。一般是把锥体放在检验平板上,用圆柱d和量块来测量(如图)。这样L_1L_2尺寸只能用千分尺测量,测量精度低。我们采用在卧式测长机(或其他同类型光学仪器)上测量。利用仪器灵活的工作台,很容易找到L_1、L_2的最大尺寸(即仪器上的往复点),同时也把千分尺0.01 mm刻度的测量精度提高到用光学计管0.001mm刻度的测量精度。     

测长机检定四等大尺寸量块测量不确定度分析

为配合量块新检定规程JJG146-2011《量块》的执行,用测长机检定(125～ l000)mm四等大尺寸量块,推导出数学模型,并对影响检定结果的各分量测量不确定度进行逐一分析,综合计算出结果,得出测量不确定度结论.     

数显千分尺示值误差测量结果的不确定度评定探讨

由于千分尺检定规程变更,为检定数显千分尺的细分误差.我们在标准设备器组增加了量块87块组(4等),对数显千分尺示值误差的测量结果进行了不确定度的评定.     

具有F-P标准具照明系统的白光干涉仪测量量块的测量不确定度分析

文献[1]F-P标准具用于量块量值的传递与溯源一文(中国测试技术2012年增刊第2期54-58页)介绍具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的光学原理及其结构,以及检定F-P标准具的等倾干涉的原理。而进一步对具有F-P标准具的白光干涉仪检定量块的测量不确定度的分析,则由本文完成。该文首先对F-P标准具的检定及其测量不确定度就行了分析。量块尺寸在白光干涉仪上与标准具作比较测量。为减少标准具的数量,量块尺寸可以与两块或三块标准具组成的尺寸进行比较,也可以是由一块尺寸较小的标准具经过光学倍增法实现与被检量块尺寸相同进行比较。例如80mm的量块用40mm的标准具进行比较,这时在量块上的光路在标准具中多一次反射达到;90mm量块则用30mm标准具进行比较。他们也可以由两块标准具组成的尺寸进行比较。分析时以倍增法测量误差最大,以其进行计算。充分证明具有F-P标准具的白光干涉仪完全满足检定1等量块的要求。通过文献[1]及本文的介绍,映证该技术可以实现普及1等量块的检定及量块的自动化检定,特别适用于量块生产厂00级、K级、0级量块的自动化检定。