基于云进化算法的NoC测试规划

针对NoC测试时,如何在功耗限制下利用有限的片上资源最大化并行测试,以优化NoC测试时间的问题,文中提出一种利用云进化算法进行测试规划的方法,可以有效提高测试效率。该方法复用NoC的片上资源作为TAM,采用非抢占式测试和XY路由方式,通过云进化算法优化待测IP核在各条TAM上的分配方式寻找最佳方案。在ITC'02标准电路上的实验结果表明,该方法有效降低了测试时间,提高了测试效率。     

一种峰值功耗约束下的SoC蚁群测试调度算法

基于扫描链技术的SoC芯片测试可产生比正常使用模式下更大的功耗,这将会对器件可靠性产生不利影响,故在测试时需要将芯片测试功耗控制在允许峰值功耗之下.文中采用蚁群优化思路设计SoC测试调度算法,用于在峰值功耗和TAM总线最大宽度约束下降低SoC测试时间.实验结果表明,本方法优于先前已发表的相关方法.     

3D NoC测试规划研究与实现

针对3D NoC资源内核的测试,采用NoC重用测试访问机制和XYZ路由方式,建立功耗模型,并通过云进化算法将IP核的测试数据划分到各TAM上进行并行测试,从而降低了测试时间。实验以ITC 02标准电路作为测试对象,其结果表明,文中方法可以有效地减少测试时间,提高了测试效率。     

一种低功耗双重测试数据压缩方案

随着集成电路制造工艺的发展,VLSI（Very Large Scale Integrated）电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试集中的确定位数量,之后再进行第一级压缩,即对测试向量按多扫描划分为子向量并进行相容压缩,压缩后的测试向量可用更短的码字表示;接着再对测试数据进行低功耗填充,先进行捕获功耗填充,使其达到安全阈值以内,然后再对剩余的无关位进行移位功耗填充;最后对填充后的测试数据进行第二级压缩,即改进游程编码压缩.对ISCAS89基准电路的实验结果表明,本文方案能取得比golomb码、FDR码、EFDR码、9C码、BM码等更高的压缩率,同时还能协同优化测试时的捕获功耗和移位功耗.     

基于IP核的芯片级测试结构研究

分析了芯片级测试的特点以及与传统板级测试区别,对SOC测试结构的核心部分测试访问机制(TAM)和Wrapper进行了详细的论述,分析了系统级芯片的测试结构及其优化.     

基于云进化算法的NoC测试端口优化选择方法

针对片上网络(NoC)中大量节点的测试难题,提出了一种结合二维云进化算法优化选取NoC中测试端口位置,提高测试效率的方法。该方法结合NoC网格结构特点,采用重用测试访问机制和XY路由方式,由测试功耗限制确定端口对数,通过二维云模型对端口坐标进行统一建模,云进化算法自适应控制遗传变异的程度和搜索空间的范围,在测试功耗约束条件下,优化选取最佳测试端口的位置,达到总测试时间最少的目的。以SoCIN结构电路为仿真平台,分别对4×4网格和8×8网格结构NoC进行了实验仿真,结果表明,在NoC节点测试问题上,云进化算法能快速收敛到最优解,有效提高整体测试效率。     

一种3D堆叠集成电路中间绑定测试时间优化方案

中间绑定测试能够更早地检测出3D堆叠集成电路绑定过程引入的缺陷,但导致测试时间和测试功耗剧增.考虑测试TSV、测试管脚和测试功耗等约束条件,采用整数线性规划方法在不同的堆叠布局下优化中间绑定测试时间.与仅考虑绑定后测试不同,考虑中间绑定测试时,菱形结构和倒金字塔结构比金字塔结构测试时间分别减少4.39%和40.72%,测试TSV增加11.84%和52.24%,测试管脚减少10.87%和7.25%.在测试功耗约束下,金字塔结构的测试时间增加10.07%,而菱形结构和倒金字塔结构测试时间只增加4.34%和2.65%.实验结果表明,菱形结构和倒金字塔结构比金字塔结构更具优势.     

基于SoC芯片测试结构的研究

由于芯片规模的快速增长,给测试技术带来了新的挑战。结合系统芯片SoC测试结构的描述,对其核心部分测试外壳Wrapper和测试访问机制TAM做了论述,介绍了几类典型的测试访问机制TAM,分析其特点。同时对SoC的测试规划问题进行了讨论,指出了目前SoC测试面临的问题。     

测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响

文章通过调整测试向量未确定位的数目，来考虑测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响。ISCAS85和ISCAS89电路集的实验结果表明：无论对于组合电路还是时序电路，随着测试向量中未确定位数目的增加，未优化测试功耗有明显的降低，同时对于本文所考察的三种测试功耗优化方法，它们的优化效果均有明显的改善，其中海明距离优化方法的优化效果改善最大，当未确定位数目增加到90％以上时，可以用海明距离优化方法替代另外两种耗时的优化方法，直接到CMOS VLSI时序电路测试功耗进行优化。     

软件导引的模拟退火算法在硬软件划分中的应用

对系统级设计中的硬软件分割问题建立数学模型．将系统级设计工具提供的性能分析功能与模拟退火算法相结合，设计了一种软件导引的模拟退火算法。该实现中将嵌入式系统性能指标（任务的执行时间）作为约束，将实现代价以及功耗作为硬软件分割方法优化的目标。在保证系统的设计目标（任务执行时间）满足要求的基础上。通过选择系统中各模块实现代价和功耗较小的实现方法．进而优化整个系统的实现代价和功耗．彻底改变了以往航天应用的嵌入式系统设计中依赖人工经验进行硬软件划分下现状。     

数字电路测试程序设计

为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越来越大,测试时间也越来越长。为了降低测试成本,Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点,顺应测试行业的发展,在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例,对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。     

基于8852的雷达领域可测性技术的探究

雷达领域插件级设计的模块化、软件化、标准化、继承性的推广使得针床测试台的性能价格比得以提高,我们基于美国TERADYNE公司的"Spectrum 8852"自动测试设备,完成了6个品种插件的测试夹具、软件开发.夹具开发的自动化程度高、价格低;软件上运用4种测试理念对插件进行全方位测试,互相覆盖、互相补充,提高了故障覆盖率和准确率,具有推广使用价值.同时也给出了一些我们在开发过程中遇到的、有关可测试性设计考虑的建议.     

Structural Fault Based Specification Reduction for Testing Analog Circuits

Specification reduction can reduce test time, consequently, test cost. In this paper, a methodology to reduce specifications during specification testing for analog circuit is proposed and demonstrated. It starts with first deriving relationships between specifications and parameter variations of the circuit-under-test (CUT) and then reduces specifications by considering bounds of parameter variations. A statistical approach by taking into account of circuit fabrication process fluctuation is also employed and the result shows that the specification reduction depends on the testing confidence. A continuous-time state-variable benchmark filter circuit is applied with this methodology to demonstrate the effectiveness of the approach.     

国外运营商认证测试要求

介绍了不同层面的终端测试,即强制性测试、终端一致性测试和运营商认证测试。对国外运营商认证测试、运营商认证流程以及欧洲和北美运营商的测试要求和测试内容进行了阐述,并给出了一个运营商定义的测试例。     

Performance Comparison of VLV, ULV, and ECR Tests

It has been shown that Very-Low-Voltage and Minimum-Voltage tests can detect defects that escape tests applied at normal voltages. Energy Consumption Ratio test, a recently developed current-based test, has shown its ability to reduce the impact of process variations and detect various types of defects. These tests may be used as supplements to traditional tests to ensure high quality product. In this paper, Very-Low-Voltage, Ultra-Low-Voltage (a modified version of Minimum-Voltage), and Energy Consumption Ratio tests are applied as supplemental tests along with existing traditional tests to a biomedical IC product. The effectiveness and efficiency of these supplemental tests are evaluated and compared with some major traditional tests. The effectiveness analysis indicates that Ultra-Low-Voltage and Energy Consumption Ratio tests identified potentially defective devices from the good devices. The efficiency analysis shows that Energy Consumption Ratio test is much more efficient than Very-Low-Voltage, Ultra-Low-Voltage, and major traditional tests.     

移动智能网中SCP的性能测试

移动智能网建设中,需要对SCP系统的性能进行测试,以保证最终的系统能够符合设计要求.在SCP性能测试中,压力测试和故障切换测试是两个主要方面,本文从测试需求、测试原理、测试方法等方面对这两类测试分别进行了简要的介绍.     

测试接口原理与电源芯片应用案例

基于对IC测试接口原理和系统结构的阐释,具体针对型号为SL431L的电源芯片,提出改进测试电路的方法,电压测试值的波动范围小于3mV。     

浅谈产品的可靠性与可靠性实验

本文对可靠性工程中可靠性和故障的基本概念、可靠性参数指标体系等可靠性相关理论进行了简要介绍,并重点对可靠性试验进行了详细的分类和说明.由于可靠性试验直接影响到产品质量的好坏,因此可靠性试验是产品可靠性工作的重要组成部分.     

Efficient Test Data Compression and Low Power Scan Testing in SoCs

Testing time and power consumption during the testing of SoCs are becoming increasingly important with an increasing volume of test data in intellectual property cores in SoCs. This paper presents a new algorithm to reduce the scan‐in power and test data volume using a modified scan latch reordering algorithm. We apply a scan latch reordering technique to minimize the column hamming distance in scan vectors. During scan latch reordering, the don't‐care inputs in the scan vectors are assigned for low power and high compression. Experimental results for ISCAS 89 benchmark circuits show that reduced test data and low power scan testing can be achieved in all cases.     

Web网站功能及性能测试探析

目前,测试应用正处在新的发展时期,众多软件企业已开始重视测试这个环节。现分析Web网站测试要点,着重介绍了如何设计黑盒测试用例用于网站功能测试,并提出了网站性能测试方案。结果表明,测试方案符合网站实际测试要求。