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相似文献
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1.
对于长寿命高可靠器件体寿命特性的评估,用常规的长期寿命试验是非常困难的,这要耗费大量试验样管,很长的时间,有的甚至来不及做完试验,这种器件就被淘汰了,即使采用截尾试验,要达到一定失效数,也需很长时间。解决这个矛盾的办法是采用加速寿命试验。所谓加速寿命试验就是将待试样管置于高于正常工作的应力水平下进行试验,加快样管的失效过程,缩短试验周期,以便在较短的时间内预测正常应力条件下的寿命特征。加速寿命试验的理论基础实质上是反应率动力学。  相似文献   

2.
电子元器件稳态寿命远程试验信息管理系统   总被引:1,自引:0,他引:1  
稳态寿命试验是保证电子元器件的使用可靠性和评估微电子器件的质量与可靠性水平的重要试验.针对试验的持续时间长.元器件研制单位地域分布广泛以及监督成本高等问题,提出了电子元器件远程稳态寿命试验监测信息管理系统.采用C/S与B/S混合结构来实现电子元器件远程稳态寿命试验数据采集后期的数据处理、存储及发布.通过信息管理系统能够很好的远程实施异地监测的整个试验过程,保证试验结果的准确性及实时性.  相似文献   

3.
针对加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的步降加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计和各应力水平下的特征寿命之和最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的步降加速寿命试验优化设计模型。最后通过实例分析,表明该方法具有可行性、有效性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。  相似文献   

4.
步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的步降加速寿命试验优化设计方法.采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计和各应力水平下的特征寿命之和最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的步降加速寿命试验优化设计模型.最后通过实例分析,表明该方法具有可行性、有效性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑.  相似文献   

5.
许斌 《微电子学》2013,43(1):148-152
加速寿命试验是评价和提升高可靠长寿命电子元器件长期工作可靠性的有效方法.详细介绍了电子元器件加速寿命试验方案设计和实施中需要考虑的主要问题;通过一个实例,说明了不充分的加速寿命试验最终可能在现场应用中引起严重的事故;探讨了如何基于上述挑战,改进加速寿命试验设计的措施,以期促进我国电子元器件加速寿命试验技术的发展.  相似文献   

6.
一、试验情况简介进行长寿命电子束管的研试工作,需要有一个快速确定电子束管寿命试验的方法,使能迅速获得研试的结论,这是容易理解的。我们试图以上海钢研所的~#7404镍钨钙,代替原来的硅镍作为电子束管阴极端面的基金属,希望能及早了解其寿命情况,特参考了《电子管的加速寿命试验方法》(北京电子管厂)、《常应力加速寿命试验》(中国科学院数学研究所)、  相似文献   

7.
针对竞争失效产品加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的竞争失效产品加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对竞争失效产品的加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的竞争失效产品加速寿命试验优化设计模型。最后通过GA-BP神经网络对目标函数进行拟合,降低了仿真规模,提高了试验效率,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。  相似文献   

8.
针对高可靠长寿命产品在双应力退化试验中存在的时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的双应力步降加速退化试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对加速试验进行仿真模拟,以监测频率、样本量大小、监测次数作为设计变量,以总的试验费用作为约束条件,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计作为目标函数,建立了基于Monte-Carlo仿真的双应力步降加速退化试验优化设计模型。通过仿真实例验证了该方法的有效性、可行性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供了理论支撑。  相似文献   

9.
本文介绍C波段长寿命高可靠卫星行波管的寿命试验和寿命数据统计,画出了各个试验管在寿命期间主要参量变化情况。说明行波管器件的寿命分布是服从指数规律的。因此,就可应用指数分布的数学模型和计算公式,来估算卫星行波管的各种寿命指标。我们用了40只管作子样进行了长期寿命试验,采用定时截尾试验方案。总共累积寿命小时数为693,000小时,若取60%和90%的置信度,估算得到行波管的平均寿命(MTBF)为751,627小时和300,977小时。由此便可对试验管作出是否可接收使用的决策。  相似文献   

10.
环保电子节能灯加速寿命试验数据的统计分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
提出一种利用加速寿命试验对环保型电子节能灯进行寿命检测的新方法.该方法采用威布尔分布函数描述其寿命分布,利用最小二乘法结合阿伦尼斯加速模型完成了对试验数据的统计和分析.试验和分析结果表明,该方法能极大缩短寿命检测时间,实现了在短时间内对正常应力下环保型电子节能灯寿命的科学估计.  相似文献   

11.
针对高可靠性、长寿命复杂产品的可靠性评估过程,在加速寿命退化试验数据的基础上,提出了一种基于试验数据驱动的自适应智能方法,并对某型LED灯管的寿命与可靠性进行预测分析.首先,通过指数模型拟合性能退化曲线,推算出各组应力条件下的伪失效寿命值;再将蚁群算法结合BP神经网络等智能算法应用于寿命预测模型的建立,根据试验证明寿命服从对数正态分布,且检验寿命必须满足置信度区间范围内;最后,预测出正常应力条件下LED灯管的工作寿命.结果表明,基于蚁群神经网络预测LED灯管寿命的方法,预测误差较小,收敛速度快,能够满足工程要求.  相似文献   

12.
{改进EY一501行波管寿命的初步工作提高CKM一99磁控管寿命及可靠性的几点体会宽频带连续波速调管KF一115试制情况BB一1110型返波管的研制关于FU一1 042寿命终了电子管的解剖和提高寿命的一些措施长寿命、高可靠的可控高压整流管—ZGI一35/20型汞气闸流管利用充汞提高平面型辉光放电多位数码管的寿命等离子体显示器件关于延长彩色显象管寿命的情况汇报9”黑白显象管寿命试验的分析与研究电子束管加速寿命试验小结寿命试验的数据处理问题{巫三亚{长寿命阴极与长寿命电子管粉敷镍阴极在显象管中的应用影响阴极寿命的因素及长寿命阴极的测…  相似文献   

13.
本文研究了节能荧光灯管整个生产过程中影响其寿命的因素,除了保证一定的真空度和真空卫生外,选取优质荧光粉,改进灯丝结构,采用质佳的电子粉,严格控制涂粉量,选取适当的充氩气量,对灯管的长寿命,高可靠是极其重要的。  相似文献   

14.
高可靠长寿命产品在军事、航空航天、电子工业、通信等领域应用越来越广泛,如何保障其可靠性与预测其寿命是值得深入研究的重要问题。越来越多的单位,特别是航空航天系统的单位,对其选用的产品提出了具有32年贮存寿命要求的高可靠性指标。长寿命及超长寿命的电子元器件的贮存寿命评价是以加速试验为评价方法的。建立准确的失效机理及模型是评价正确与否的关键。文章通过收集大量高温贮存及常温贮存的实测数据,建立失效模型,推算出应力条件及相应的加速因子。文中实践证明,通过模型仿真出的贮存寿命具有高的可信度。  相似文献   

15.
采用混合支链多元羧酸铵盐作为主电解质,乙二醇为主溶剂,配合辅助溶剂,添加多种功能防护剂,制作了新型高温、高压、长寿命铝电解电容器工作电解液,研究了以此电解液所制铝电解电容器的性能。结果表明,所制电容器具有耐高温、长寿命、耐大纹波、低漏电流等特点,用于节能灯、电子整流器时,通过了150℃2 000 h高温负荷寿命试验。  相似文献   

16.
首先针对高可靠、长寿命电子装备的可靠性评估问题,提出一种新的试验方法--双应力交叉步阶试验.而后在正态分布下,通过理论模型的建立,运用Monte-Carlo仿真对该试验的试验效率问题进行深入研究,分析得出形状参数σ、寿命特征参数μ与加速效率指标之间的基本关系.结果表明在实际试验条件下,双应力交叉步降试验与双应力交叉步加试验相比,其试验效率是十分明显的.  相似文献   

17.
传统的可靠性评估方法一般基于失效寿命数据,而目前对于高可靠长寿命的电子产品,很难通过加速试验获得其失效寿命时间。为解决这一矛盾,将性能退化理论引入到传统可靠性评估中,提出了基于失效数据及加速性能退化的可靠性评估的新方法。应用某型雷达24V/2A稳压电源板加速性能退化试验进行验证,结果表明该方法用于高可靠长寿命电子装备的可靠性评估是正确有效的。  相似文献   

18.
采用混合支链多元羧酸铵盐作为主电解质,乙二醇为主溶剂,配合辅助溶剂,添加多种功能防护剂,制作了新型高温、高压、长寿命铝电解电容器工作电解液,研究了以此电解液所制铝电解电容器的性能.结果表明,所制电容器具有耐高温、长寿命、耐大纹波、低漏电流等特点,用于节能灯、电子整流器时,通过了150℃2 000 h高温负荷寿命试验.  相似文献   

19.
行波放大管是近20年来所研制的比较重要的微波器件之一,广泛运用在需要把1000~10,000兆赫高频讯号放大的雷达、导航和通讯系统中。然而,一直到五年前行波管仍被认为是不可靠的,因而其应用局限在地面和机载系统中,因为在这些系统中行波管能够定期地更换。随着宇宙飞船和深空探测所需要的宇宙通讯的出观,需要一种坚实、重量轻的中功率微波放大管,这种管子不会影响飞船可靠性或寿命。在宇宙飞行环境中,微波放大管是不可能维修的,而用备份也不是解决可靠性的办法。所以,微波放大管所需的寿命须包括储存时间和工作时间,而到损毁时的平均时间(MTTF)则应与工作性能指标一致。本文叙述由休斯公司微波管分部所采用的一种解决达种行波管设计的成功的方法,用此法设计的行波管满足了宇宙航行大部分要求。运用这种方法设计的一族宇宙飞行用行波管,可认为是宇宙飞船的最可靠的组成部分之一。所有保证可靠性的现代技术都用于此行波管。它们包括损坏形式的分析,生产部件的控制和检查,选择和老炼,环境试验,制造和试验操作的严密控制。虽然行波管的工作原理简单,但由于存在着许多难以确定的损毁机理,从可靠性的观点考虑,这种器件又是复杂的。本文详细讨论损坏形式和机理及其控制方法。着重叙述可靠性与优良的工作性能相结合的机械结构,采用长寿命阴极—热子设计,选择材料和制造工艺。以上每一项都有助于达到超高可靠性和长寿命。由许多中功率行波管实验计划所提供的数据证明,达种设计方法是成功的。休斯公司设计的一般宇宙用行波管,在寿命试验和字宙飞行中已累积了大于800,000小时的寿命。  相似文献   

20.
一种CCD工作寿命预计方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍了一种适用于电荷耦合器件(CCD)的工作寿命预计方法。对CCD的失效模型进行了分析,并进行加速寿命试验,试验结果与理论分析结果较好地吻合。试验结果表明,对于一款成熟应用的CCD,其工作寿命值与其质量等级有直接的关系;质量等级越高的器件,其工作寿命值也越长。  相似文献   

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