用复合谐振腔法测量介质谐振器的介电特性

本文根据Ｂａｒｌｏｗ提出的在ＴＥ０１ａ模谐振腔上耦合一段截止波导的构成复合腔的原理，首次在Ｃ波段地介质谐振器材料的介电性能进行了测量，并从理论上证明了该方法对相对介电系数有很高的测试灵敏度，本文给出了几种介质谐振器材料的测试结果，最后就样品厚度对测试精度的影响了分析。     

用谐振腔—截止波导技术测量介质谐振器的复介电常数

在TE01n模谐振腔的一个端面中央,开一圆孔,连接一根等直径、适当长度的截止波导,当截止波导中置入介质谐振器时,使含介质段对TE01模呈传输态。介质谐振器的前向波导段用于调节耦合强弱,足够长度的背向波导段则形成匹配电抗终端或入金属场构成短路终端。这两种安排都能使置介质谐振前后的谐振腔产生相当大的谐振长度和Q甸子的变化,从而能获得准确的介质谐振器无载Q因子和介电常数。在X频段对陶瓷谐振器进行测量,获得满意的结果。     

用谐振腔-截止波导技术测量介质谐振器的复介电常数

在TE01n模谐振腔的一个端面中央,开一圆孔,连接一根等直径、适当长度的截止波导,当截止波导中置入介质谐振器时,使含介质段对TE01模呈传输态。介质谐振器的前向波导段用于调节耦合强弱,足够长度的背向波导段则形成匹配电抗终端或置入金属场构成短路终端。这两种安排都能使置入介质谐振器前后的谐振腔产生相当大的谐振长度和Q因子的变化,从而能获得准确的介质谐振器无载Q因子和介电常数。在X频段对陶瓷谐振器进行测量,获得满意的结果。     

用介质柱谐振器法测量低耗介质的微波特性

由于高介电常数，低损耗角的新型材料在微波技术中广泛应用，对介质测量技术提出了更高的要求，两端面由平行导体板短路的介质柱谐振器广泛用于低损耗角介电常数介质的精密测量。本文用并矢格林函数法讨论了测量的基本原理及有关参数的计算公式，同时也给出了实际测量中模式判别方法及测量误差的分析。     

用多模分析方法测试介质谐振器复介电常数的频率特性

本文提出了测试微波介质谐振器复介电常数的多模分析方法。ＴＥ０ｍｍ高次模的谐一文提出了工得到，利用高次模谐振频率计算可工作模式从杂模中分辩出来测试，以考察复介电常数的频率特性。     

测量介质参数的谐振腔法的精确化

当用改变具有H_(01p)模振荡的圆柱谐振腔长度的方法在9～10GHz频率范围内测量损耗极小(介质损耗角正切tgδ≤10~(-4))的固体介质参数时,会观察到测量方法的理论未涉及到的一些现象,即样品厚度d偏离1/4波长或半波长将引起tgδ测量的显著变化当;→0时,tgδ值急剧增大。     

同轴探头法测量片状介质材料的微波介电常数

提出了一种可用于测量片状介质材料微波复介电常数的同轴探头技术,该技术将同轴探头紧贴有导电衬底的片状介质,通过测量探头终端的矢量反射系数来确定介质的微波复介电常数。详细介绍了所采用的理论模型和测量系统。测量了一些常见介质材料的介电常数,测量值与理论值基本吻合。文章的同轴探头技术不仅可用于测量厚度较小的片状介质,而且可用测量样品量有限的液体。     

高温超导微波电路衬底材料复介电常数的测量

本文讨论了在液氮温度下高温超导微波电路介质衬底材料复介电常数测试技术。     

测量多层薄膜材料复介电系数的准光腔技术

本文提出用准光腔测薄膜材料复介电系数的新技术，根据双层介质的测量原理，把多层薄膜叠加起来并压上一块介电特性已知的平板样品以消除空气间隙及平整卷曲材料，推导了双层介质的正确理论计算公式，更正了以往文献中的失误之处，采用简易的变腔长法，对几种薄膜材料进行了测量，取得了满意的结果。     

垫片加载圆柱介质谐振器的谐振频率计算方法

本文利用开波导法对有垫片加载的圆柱型介质谐振器之谐振频率进行了计算,其计算结果与实验吻合，误差小于1％。此方法适宜于实际工程。     

电磁开腔测量多层介质样品复介电常数

本文提出了一种在毫米波和亚毫米波微段利用电磁开腔测量多层介质样品复介电常数的新方法。在ｋａ波段利用特制的开腔装置建立了一套电磁开腔电介质参数测量系统，并对一些多层介质样品进行了实际测量。测量结果与标称值十分吻合。     

微扰法测量介质陶瓷薄膜的介电特性

对于介质陶瓷薄膜，特别是厚度小于1μm的介质陶瓷薄膜，我们提出了一种新的基于微扰理论的测量方法，本文对该方案进行了理论推导，获得了计算介质陶瓷薄膜复介电常数和Qf的公式，并设计了实际的测试方案，以具体的介质陶瓷薄膜作了测试验证和误差分析。结果表明，该方案是可行的，测量结果具有较高的精度(7％)，最后提出了对系统的改进方案。     

电磁开腔测量双层介质复介电常数

本文提出了一种利用电磁开腔在微波和毫米波频段测量双层介质复介电常数的新技术。在８ｍｍ频段，利用一套电磁开腔自动测量系统对几种双层介质材料进行了具体测量。最后，对测量误差进行了理论分析，并给出了计算实例。     

一种求解微波介质谐振器复介电常数的方法

根据微波谐振系统中电场的波动方程,采用复频率和有耗导体的边界条件,导出以被测介质的复介电常数为本征值的微分和变分方程。使用MATLAB软件中的PDE工具箱,只要是能以二维形式作图表现的微波介质谐振器,都可以求解出其复介电常数,且与实验数据及不同方法计算的结果相吻合,该方法适用面广、计算精确、简洁方便。     

用H01型圆柱谐振腔测量介质材料介电常数的原理及方法

讨论H01型圆柱谐振腔的测试原理;详细介绍了用圆柱谐振腔测量介质材料相对介电常数及损耗角正切的方法.     

开口波导法无损测量微波集成电路基片复介电常数

提出一种测量微波集成电路基片复介电常数的新方法。通过测量贴于开口矩形波导外的介质基片的反射系数,可计算得基片的介电常数和损耗角。经过理论分析,给出求解复介电常数的计算公式和优化算法。对一些基片的复介电常数进行了实际测量,结果表明该测量方法运算量小,精度高,且具有设备简单,不需对样品进行特殊加工或破坏样品等优点。     

平行板谐振法测量微波介质陶瓷介电性能

对平行板谐振法测量微波介质陶瓷的基本原理进行了阐述。介绍了该方法的硬、软件构成及其操作注意事项,并给出了部分测试结果。该方法具有测量简单、快速、准确的优点,但不适用于测量介质损耗较大的微波介质陶瓷。 r的测量误差为0.5%左右,Q值的测量误差为15%以下。