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相似文献
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1.
主要介绍了通用自动测试设备的组成、工作原理及自动测试的实现方法,并论述了测试设备的通用性和必要性。  相似文献   

2.
《电子测试》1998,11(7):27-29
斯伦贝谢(Schlumberger)公司是一家已有70多年历史的跨国公司,在全世界100多个国家开展业务。公司实力雄厚,尤其是在人才、技术,特别是财力方面具有强大优势。1997年全世界1000家企业按市场价值排名位居80位。Schlumberger公司早在80年代初就开始了同中国的业务往来,是中国各界客户的可靠合作伙伴。 Schlumberger公司在中国的首都北京市设有常驻办事机构,负责集成电路测试系统、集成电路诊断系统、印制电路板测试系统  相似文献   

3.
本文介绍了数字电缆测试与早期通信电缆测试的不同要求,并给出了简要理论说明。通过不同条件下的同一盘电缆,同一台测试仪器的测试结果,表明引起测试结果改变的原因。最后具体说明了如何正确理解数字电缆自动测试系统测试结果和被测样品电缆的电性能参数的关系。  相似文献   

4.
主要介绍了通用自动测试设备的组成、工作原理及自动测试的实现方法,并论述了测试设备的通用性和必要性。  相似文献   

5.
利用DELTA-2000测试仪对电缆试样进行介质损耗角正切(tanδ)的测量试验,发现电缆试样的tanδ开始为负值,但随着测量电压的升高,tanδ逐渐增大,之后tanδ变成正值,直到试样发生表面击穿.对试验结果进行分析,得到电缆试样的tanδ值为负值的主要原因是外界电磁场对电桥的干扰和标准电容损耗较大,并提出了相应的技术处理措施.  相似文献   

6.
电缆损耗对自动测试设备的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
1 引言 目前有许多测试公司设计、制造并销售引脚数众多的自动测试设备(ATE).这些测试设备具有非常复杂的集成电路,用于驱动设备的每个引脚.一台测试设备的引脚数可能多达4096个.从图1可以看出:每个引脚通常都有一个相应的驱动器、比较器、负载,有时甚至需要参数测试单元.  相似文献   

7.
芯片测试作为集成电路的最后一道环节,在集成电路发展的链条中处于非常重要的位置。在整个芯片测试过程中,保证芯片测试的精确性、准确性和可靠性,准确定位筛选出具有缺陷的芯片显得格外重要。为了避免因自动测试设备造成芯片测试数据的不准确性,定期对集成电路自动测试设备进行维护与保养十分重要。从工程实际出发,从计量校准、参数能力验证和设备检修方面,阐述集成电路自动测试设备的维护与保养,并对管理要求和注意事项进行了总结,为行业人员提供了有益的参考。  相似文献   

8.
简要说明了组建通用航空电子自动测试设备的基本要求和目标.描述了典型测试设备的应用现状.介绍了ATE测试设备的组成、PAWS软件平台的组成和体系结构,以及ATLAS语言的语言特征,探讨了用PAWS开发自动测试系统的方法,并举例详细说明了在测试程序集TPS开发中的资源描述和自动资源配置过程.展望了ATE的未来发展趋势.  相似文献   

9.
通过介绍布线系统双绞电缆链路和信道的测试性能参数,介绍了用DSP4000/4100手持式测试仪对布线系统双绞电缆的性能参数进行测试、认证的方法。  相似文献   

10.
文章介绍了通用CPU模块自动测试设备的硬件选型和适配器电路设计,以及基于CS结构采用Lab Windows/CVI为开发工具的软件开发方法。该测试设备能够完成通用CPU模块的隔离测试和在板自测试,并将测试结果以报表形式输出。  相似文献   

11.
1 前言过去属于未来学研究课题的信息时代已经使人们日渐清晰地感到了它的到来。信息时代的美好前景,对科技先进国家来说已不再是未来。自动化是信息时代的一大表征。信息离不开自动化,自动化离不开信息,没有自动化也不会有信息时代。  相似文献   

12.
在最近于纽约州大西洋城召开的国际测试大会上,各测试方案和测试设备提供商,纷纷亮出各自的新产品。不久将会陆续推出一批新产品,新选择方案,以及新的设计,以改进测试设备的生产能力,和测试的覆盖范围,努力适应将产品迅速推入市场的日益强烈的需求。  相似文献   

13.
周敬猷 《电子测试》1994,8(3):34-39
更高速CMOS VLSI,特别是RISC和CISC的发展,要求用来测试这些器件的ATE增加高频测试能力。本文分析测试仪管脚电子电路特性和DUT到测试仪的接口,以及在这些领域对ATE提出的新要求。  相似文献   

14.
回波损耗(RL)是由电缆结构或相关连接部分中的阻抗变化所引起的信号衰减.这些变化导致信号反射(返回)到源端.  相似文献   

15.
介绍了通过接口设备对市话电缆进行电测试的方法,提供了接口设备的原理图,指出了设计和制作过程中应当注意的要点,叙述了5项电性能测试的操作方法和计算公式。  相似文献   

16.
针对传统光纤元件插回损耗测试方法效率低、易出错的缺点,基于GPIB技术开发了一种新型的光插回损耗自动测试系统.该系统通过GPIB总线实现计算机与多台测试仪器相互通信,利用VB编写测控软件实现光插回损耗的自动测试.所采集数据利用Access数据库统一管理.应用结果表明,该系统运行稳定,操作简便,具有一定的实用性和推广价值.  相似文献   

17.
当前,随着经济与科技的发展,我国的通信行业得到了快速的发展.在通信行业当中,无线通信设备的自动测试对于社会的发展提供了重要的帮助,在很大程度上提供了经济效益与社会效益.在无线通信设备的自动测试系统当中,所采用的是开放式的架构设计,因此能够继续加以扩充与二次设计.基于此,本文就无线通信设备自动测试系统的设计进行简要的分析,希望可以提供一个有效的借鉴.  相似文献   

18.
19.
本文采用PXI仪器作为测试平台,综合运用GPIB仪器技术、虚拟仪器技术、仿真技术等,自动完成对LUR的控制、激励、性能和功能的测试,成功解决了机载航电系统自功化检测的问题.  相似文献   

20.
模拟IC自动测试系统的直流参数测试单元   总被引:1,自引:0,他引:1  
马宁  韩磊 《电子设计工程》2014,(12):121-123
模拟IC自动测试系统主要针对模拟IC的直流参数和交流参数进行测试,其中直流参数的测试是整个测试过程的重要部分。直流参数测试单元可以为芯片提供稳定的、精确的电压或电流,主要实现两种功能:一种是对待测芯片施加电压从而测量电流值,简称FVMI(加电压测电流)功能;另一种是对待测芯片施加电流从而测量电压值,简称FIMV(加电流测电压)功能。  相似文献   

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