浅析不同添加剂对AgSnO2（12）触头材料电性能的影响

在直流纯电阻负载、24 V、20 A条件下,对同一种工艺方法、不同添加剂及含量制造的AgSnO2触头材料进行了相同操作次数的模拟电寿命试验,对整个试验中电弧能量、燃弧时间及熔焊力做了实时监测,并测量了试验后动、静触头的质量损失。对各组模拟电寿命试验结果对比分析的结果表明,不同添加剂在电弧作用下对AgSnO2(12)触头材料的烧损会产生不同影响;在本试验条件下,合适的添加剂可以有效降低AgSnO2(12)触头材料的烧损量和熔焊力,提高触头材料的电寿命。     

退火工艺对纳米AgSnO2触头材料加工性能的影响

用XRD和TEM观察纳米AgSnO。触头材料的组织、成分和结构,研究了退火工艺对纳米AgSnO2触头材料加工性能的影响,并对材料的超塑性、弥散强化和退火热处理特性进行了分析。研究表明：纳米AgSnO2电触头材料的组织中,SnO2粒子弥散细小,分布均匀,不仅减小了SnO2对Ag基体的割裂作用,而且避免了因SnO2富集形成绝缘层而引起的接触电阻升高,从而提高触头材料电性能、电寿命以及抗熔焊、耐电弧烧损的能力。     

智能框架断路器用触头材料

介绍了应用于我国最新设备制造的智能框架断路器上的触头材料工艺研究试验。通过大量试验，制成了高性能预烧钨骨架银钨触头和银镍石墨触头。经大电流电弧烧损和电磨损模拟试验，确定了较佳的动静触头品种。经装机型式试验证明，采用ＡｇＷ５０／ＡｇＮｉ２５Ｃ２非对称配对触头，满足了断路器的各项性能指标。短路分断能力达３８０Ｖ、６５ｋＡ；６６０Ｖ，５０ｋＡ。并具有显著的节银效果。     

智能框架断路器用触头材料

介绍了应用于我国最新设计制造的智能框架断路器上的触头材料工艺研究试验。通过大量试验，制成了高性能预烧钨骨架银钨触头和银镍石墨触头．经大电流电弧烧损和电磨损模拟试验，确定了较佳的动静触头品种。经装机型式试验证明，采用AgW50／AgNi25C2非对称配对触头，满足了断路器的各项性能指标。短路分断能力达380V、65kA；660V，50kA。并具有显著的节银效果。     

微型断路器电寿命评估

由电弧烧蚀触头材料而引起触头失效是导致微型断路器电寿命劣化的主要原因,研究微型断路器电寿命评估方法对提高用电网络安全性和可靠性具有重要意义.该文以额定电流16A的微型断路器作为电寿命试验对象,利用高速摄像机观察触头间电弧的运动过程,从电弧电压中提取反映断路器电寿命退化过程的特征量,研究累积燃弧能量、跌落时间与触头烧蚀量...     

电接触材料的热导率

本文综述了触头材料热导率对触头抗静、动熔焊、温升、耐电弧烧损等使用性能的影响。热导率的提高有利于低压电器触头性能的改善。本文列出了常用银基触头材料的热导率并对合金和复合材料热导率的影响因素进行了初步探讨。     

纳米CuCr50触头材料电弧侵蚀特性

近年来,纳米CuCr触头材料在截流水平、耐压能力等方面的表现优于微晶CuCr触头材料。笔者利用真空触点模拟装置和基于虚拟仪器的电器电寿命测试系统,研究了直流低电压、小电流下的纳米CuCr50触头材料的电弧侵蚀量与分断燃弧时间和触头表面形貌之间的关系,同时采用两种微晶CuCr50触头材料作为对比。利用电光分析天平纳米CuCr50触头材料的侵蚀量,利用电子扫描显微镜测量触头表面形貌。结果表明:纳米CuCr50触头材料的平均分断燃弧时间和侵蚀量均高于两种微晶CuCr50触头材料。纳米CuCr50触头表面Cr颗粒细化及均匀分布,有利于分散电弧。纳米CuCr50阴极触头表面电弧烧蚀比较均匀,而两种微晶CuCr50触头阴极表面电弧局部烧蚀严重,出现明显的凹坑侵蚀。     

少油断路器的电气寿命

少油断路器的电寿命与分、合闸时触头的烧损、灭弧室的烧损以及油的损失和劣化有关。作者给出电寿命与电流的关系,并指出对称和非对称电流之间以及在各操作循环下的性能差异。寿命到期的标准,一般通过材料损失或材料变形来表示。     

用于低压功率开关的烧结AgSnO2电触头材料的制造方法

(一 )　　 Ag Me O触头材料已被广泛地应用于低压功率开关 (例如电流接触器或自动电路断路器 )中 ,其中用得最多的是 Ag Cd O材料。由于众所周知的 Cd有毒等原因 ,目前人们正大力研究开发 Ag Sn O2 和 Ag Zn O用以替代 Ag Cd O,但一般的 Ag Sn O2 和 Ag Zn O并不能完全达到 Ag Cd O所具有的高性能 ,例如用 Ag Sn O2 替代 Ag Cd O时 ,由于 Sn O2 具有较高的热稳定性 ,在电弧的作用下触头表面形成牢固氧化层 ,使得其接触电阻和温升高于 Ag Cd O。但是从节银的角度来说 ,因为Ag Sn O2 比 Ag Cd O电弧烧损小 ,电寿命高 ,所以 …     

不同触头材料的适当配对可以提高低压开关的可靠性

提高低电压(50赫,100～1000伏)大电流开关的可靠性,首先要提高其电寿命,即减少触头的磨损。触头寿命除受电弧、分断参数和触头材料的影响之外,还受触头材料迁移的影响。对于交流接触器,触头材料的迁移一般没有明确的方向,因为阳极和阴极是交替变化的。在电弧斑点处,触头金属熔化、蒸发并进入触头之间,在电弧熄灭时,一部分金属蒸汽和金属微粒又重新沉积到触头表面。如果沉积的金属是紧紧地粘在触头表面上,那么在以后分断时,它还是一种有用的材料。     

熔渗法AgW（75）触头材料研究

电触头作为电器设备的关键元件之一,既是载流体,又是机械零部件,要求具有良好的导电导热性、耐电孤烧损、抗熔焊、低而稳定的接触电阻、有一定的强度和易于机械加工等。本研究采用粉末冶金熔渗技术制备AgW（75）电触头材料,对其进行复压、复烧,并测量了其力学物理性能和显微组织。结果表明,粉末冶金熔渗技术与复压复烧相结合制备的AgW（75）触头材料的相对密度高,硬度达到国家标准要求,但材料收缩性大。     

纳米触头材料电性能研究进展

分析了纳米材料与常规材料在热学性能和机械性能上的差异,综述了纳米触头材料在截流水平、抗电弧侵蚀和耐压能力等电性能研究上取得的进展,并对已有研究成果进行了概括和总结。结果表明:相对于同种配比的常规触头材料,纳米CuCr和AgFe触头材料的截流水平低于常规触头材料;纳米CuCr和AgFe的直流电弧稳定性高于常规触头材料,直流电弧寿命大于常规触头材料;纳米CuCr触头材料的耐压能力高于常规触头材料;纳米AgSnO2和AgNi触头材料的抗电弧侵蚀性能优于常规触头材料。因此,在今后对纳米触头材料的研究和开发过程中,加强纳米触头材料制备工艺研究和纳米触头材料的理论研究,有利于提高纳米触头材料电性能。     

基于触头分断/闭合电流波形的电寿命预测

针对触头材料的寿命预测主要基于磨损量和电流的关系,提出一种新的触头材料电寿命诊断预测方法,即通过分合电路操作过程中的电弧电流的时序特征变化来预测剩余寿命.对AgSnO2,AgNi10,AgNi0.15三种触头材料进行了寿命试验,采样了电流、电压信号并分析了分断燃弧时间、接触电阻等参数.     

新型铜基电接触材料的电接触性能研究

研究了直流阻性负载条件下新型铜基电接触材料的电弧侵蚀特性、材料转移及接触电阻。材料在电流〈14A时,由阴极向阳极转移;在电流≥14A时,由阳极向阴极转移。触点电弧侵蚀后的表面形貌产生明显的孔洞和裂纹,接触电阻随电流值和接触次数增加有小同程度的波动。结果表明,接触过程中各种因素的不对称是产生材料转移的主要原因。     

不同添加剂对AgSnO2In2O3触头材料电性能的影响

采用内氧化法工艺制备了不含添加剂及分别含添加剂CuO或TeO2的3种AgSnO2In2O3触头材料。应用模拟继电器试验设备检测了这3种材料在AC230 V、25 A阻性负载条件下的电寿命、熔焊力、电弧能量、燃弧时间、质量侵蚀率等相关电性能参数,并对检测结果及试验后铆钉触头样品进行了分析。研究发现:与不含添加剂的AgSnO2In2O3材料相比,添加剂CuO对材料的电寿命影响不大,而添加剂TeO2明显提高了材料的电寿命;含添加剂的两种材料的熔焊力和电弧能量均有了不同程度的降低,但它们的质量侵蚀率却明显增加。     

钨粉粒度及组成对铜钨触头抗电弧烧蚀性能的影响

铜钨合金是高压开关电器中的重要触头材料,铜钨触头的抗电弧烧蚀性能是衡量触头优劣的重要指标。本文采用熔渗法制备了三组铜钨合金,研究了钨粉粒度及组成对合金金相组织、力学物理性能及抗电弧烧蚀性能的影响,分析了影响铜钨触头抗电弧烧损性能的原因。     

直流接触器触头电弧侵蚀特性

触头开断过程中会产生电弧,从而导致触头表面被侵蚀,影响其电接触性能。由于直流供电系统不存在自然过零点,致使直流接触器触头受电弧侵蚀影响比交流接触器更加严重。为了研究电弧对触头的侵蚀作用,基于磁流体动力学理论,考虑电弧与触头之间的能量耦合,建立电弧-触头动态耦合模型,研究了电流等级和分断速度对触头电弧侵蚀特性的影响。仿真结果表明：近阳极区电弧温度高于近阴极区电弧温度;电流等级由20 A提高到30 A时,电弧温度和燃弧时间显著提高,燃弧能量增加75.93%,使得触头侵蚀更加严重;触头分断速度由0.1 m/s增加到0.2 m/s时,电压电流的变化率提高,燃弧时间和熔池体积减小,燃弧能量减少47.83%,电弧对触头的侵蚀作用降低。实验结果与仿真相吻合,验证了仿真模型的正确性。     

两种铜基触头材料的电弧侵蚀性能研究

电接触材料在工作过程中会受到机械磨损、环境腐蚀及电弧侵蚀,其中,电弧侵蚀对电接触材料影响最大,它是影响接触材料的电寿命和可靠性的最重要因素。笔者对采用熔渗法制备的CuCr50与电弧法制备的CuCr45电接触材料分别进行DC 50 V,20、30、40、50 A的电接触试验,并通过扫描电镜观察材料在电弧侵蚀后的形貌,对这两种材料在直流、阻性负载条件下的电弧侵蚀特征进行对比研究。结果表明,CuCr45与CurCr50在DC 50 V,20、30、40、50 A条件下,材料都由阳极向阴极转移;之后归纳出电弧侵蚀后两种材料的表面形貌特征,最后分析了两种材料的燃弧能量与熔焊力。     

中频开关电器触头材料耐弧侵蚀试验测试系统设计

介绍了变频下开关电器触头材料耐弧侵蚀试验测试系统设计.阐述了试验方法、设备、内容和步骤.该测试系统将对触头材料电弧侵蚀机理研究提供帮助.     

50Hz和400Hz下银镍合金触头材料电弧侵蚀研究

为研究低压、小电流、纯阻性负载下银基合金触头材料在交流400Hz的电弧侵蚀特性,通过研制的小容量可变频ASTM触头通断微机测试系统、SEM和EDAX,测量与分析了50Hz和400Hz下触头开断过程中AgNi、AgC和AgW触头材料燃弧特征值,分析了AgNi触头材料的表面形貌与微区组份,探讨了50Hz和400Hz两种交流频率下AgNi合金触头材料电弧侵蚀的成因。