共查询到10条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
纳米硬度计是一种能提供103~10-2μm尺度材料或结构微力学性能检测的先进仪器.采用纳米压痕技术,研究薄膜材料的弹性模量和硬度随压痕深度的变化规律以及薄膜厚度测量、微桥弯曲变形测量的方法.采用纳米划痕技术,研究薄膜的表面粗糙度、临界附着力和摩擦系数测量的方法.该仪器能广泛应用于MEMS的力学检测,并有望成为这一领域内的标准力学检测设备. 相似文献
2.
纳米硬度计在MEMS力学检测中的应用 总被引:2,自引:0,他引:2
纳米硬度计是一种能提供10^3~10^-2μm尺度材料或结构微力学性能检测的先进仪器。采用纳米压痕技术,研究薄膜材料的弹性模量和硬度随压痕深度的变化规律以及薄膜厚度测量、微桥弯曲变形测量的方法。采用纳米划痕技术,研究薄膜的表面粗糙度、临界附着力和摩擦系数测量的方法。该仪器能广泛应用于MEMS的力学检测,并有望成为这一领域内的标准力学检测设备。 相似文献
3.
4.
应用纳米压痕法测试类金刚石薄膜力学性能的研究 总被引:4,自引:0,他引:4
介绍一种被称为材料机械性质微探针的新型纳米压痕仪,藉助于加荷-卸荷过程中压痕对负荷和压入深度,即压头位移的敏感关系,测试材料的硬度及弹性模量等力学性质。纳米和纳牛顿量级的压头位移与作用力,使得测试始终在大多数材料,特别是薄膜材料的弹性限度内,克服了维氏法、努氏法等传统方法引起压痕边缘模糊或者碎裂的缺点,保证了测试的正确性、可靠性和重复性。应用纳米压痕法成功地对具有脆性的类金刚石薄膜的硬度及弹性模量进行了测试和分析。 相似文献
5.
6.
7.
8.
9.
10.
采用纳米压痕方法,研究了AlN/sphire模板上的高Al组分AlxGa1-xN薄膜的力学性质,特别是弹性-塑性转变行为.研究表明,AlxGa1-xN薄膜的杨氏模量E随着Al组分的增加而增大,薄膜中产生塑性形变所必要的剪切应力也随着Al组分的增加而增大.在AlxGa1-xN薄膜纳米压痕实验中,观察到位移不连续的跳断("pop-in")行为,并且发现"pop-in"行为强烈依赖于Al组分,Al组分的增加导致这种行为的减少.我们认为随着Al组分的增加,AlxGa1-xN中键能的增强和由于AlxGa1-xN与AlN/sapphire模板之间晶格失配减少这两个因素增加了AlxGa1-xN中新位错形成的阻力,从而导致了AlxGa1-xN薄膜中的"pop-in"行为随Al组分增加而减少. 相似文献