高碳树脂芳基乙炔聚合物炭化过程研究

本文研究了芳基乙炔聚合物 (PAA)炭化过程中的结构变化 ,结果表明 :树脂 90 0℃炭化时 ,热失重、线收缩和体积收缩分别为 16 %、12 5 %和 31 8% ;炭化温度低于 6 0 0℃时 ,孔隙率随炭化温度的升高而增加 ,体积密度随炭化温度的升高而减小 ;6 0 0～ 90 0℃炭化时 ,孔隙率随炭化温度的升高而减小 ,体积密度随炭化温度的升高而增加 ;在整个炭化温度范围内 ,本体密度随炭化温度的升高而增加。PAA树脂炭化物结构密实 ,炭化物呈片状结构     

芳基乙炔聚合物的研究

采用加入单炔基的苯乙炔共聚;低温下长时间的预聚来控制间二乙炔基苯的聚合放热。并用红外光谱对聚合物的固化物进行了结构表征。结果表明：加入30%的苯乙炔能使间二乙炔基苯的聚合反应焓从2013J/g降为1050J/g;经过预聚,间二乙炔聚苯的反应焓降为452.6J/g;间二乙炔基苯发生均聚或与苯乙炔发生共聚,炔键打开生成大量的双键,形成苯环或顺式共轭多烯结构。     

利用XRD研究呋喃树脂制备玻璃炭过程中的结构变化

根据热失重曲线和运用Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）所测得的实验结果，讨论了聚糠醇（ＰＦＡ）和聚糠酮（ＰＦＫ）两种呋喃树脂在氮气气氛中热解过程中的结构变化。结果表明，两种试样在４５０℃以前，随着炭化温度的升高，聚合物分子的原有序态结构逐渐被破坏；４５０℃以后，随着炭化温度的升高，六角碳网新的序态结构形成并逐渐增长     

利用XRD研究夫喃树脂制备玻璃炭过程中的结构变化

根据热失重曲线和运用Ｘ射线衍射（ＸＲＤ）所测得的实验结果，讨论了聚糖醇（ＰＦＡ）和聚糖酮（ＰＦＫ）两种呋喃对脂在氮气中气氛中热解过程中的结构变化。结果表明，两种试样在４５０℃以前，随着炭化温度的升高、聚合物分子的原有序态逐渐被破坏；４５０℃以后，随着炭化温度的升高，六有碳网新的序态结构开矿并逐渐增长。     

PI薄膜在炭化过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析

用Ｘ射线衍射技术测定了ＰＩ（聚酰亚胺）薄膜在炭化过程中热裂解固态产物结构的演变。据衍射峰随热解炭化温度的变化规律，发现该试样的分子链排列由层状的超分子结构转变为杂乱地无序状态。当加热温度达到７００℃时，观察到代表类似碳六方网面的（００２）衍射峰的出现，其衍射强度随热解炭化温度的升高而加强。同时，依据布拉格公式和谢东经验式所获得的微晶尺寸和面间距与热解炭化温度的依赖关系给予了表征。     

聚丙烯腈纤维炭化过程中纤维表面的XPS研究

采用X射线光电子能谱（XPS）技术测定了聚丙烯腈（PAN）原丝及其在预氧化和不同炭化阶段的纤维的表面元素含量及其结合态，并对不同阶段中各元素的结合态的变化进行了分析，发现，原丝上由于表面处理存在大量Si元素，预氧化过程主要清除了原丝表面上易挥发的低分子化合物，O，N，Si的结合态未发生明显变化，在炭化过程中，C，O，N，Si则以多种结合态形式存在，在炭纤维表面上含有相当数量的含氧官能团。     

PI薄膜在经过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析

用Ｘ射线衍射技术测定了ＰＩ薄膜在炭化过程中热裂解固态产物结构的演变。据衍射峰随热解炭化温度的变化规律，发现该试样的分子链排列由层状的超分子结构转变为杂乱地无序状态。当加热温度达到７００℃时，观察到代表类似碳六方网面衍射峰的出现，其衍射强度随热解炭化温度的升高而加强。     

研究高聚物结构的广角X射线衍射系列方法

全面论证了广角Ｘ射线（ＷＡＸＤ）系列方法：分峰ＭＰＳ、径向分布函数（ＲＤＦ）（Ｒ）、圆柱分布函数ＣＤＦ（Ｒ，α）、取向分布函数ＯＤＦ（α）、对称透射径向ＷＡＸＳ方位角扫描、对称反射径向ＷＡＸＳ扫描等分析法的基础理论、实验方法、计算程序及其可获得的结构参数，阐明了笔者建立ＷＡＸＤ测试分析高聚物聚集态结构专家系统的有关工作，这一研究架构的具体实现，将使得ＷＡＸＤ系列方法研究高聚物物理中的核心领域，即高     

聚醚砜酮薄膜在炭化过程中化学结构的变化

用傅里叶变换红外光谱法研究了聚醚砜酮薄膜试样在氩气氛中，室温至950℃热解过程中固体残留物的内部结构的转变。根据谱带的变化规律，提出了试样在热解炭化时会沿着二氮杂萘环的N—N键断裂，形成共轭腈基及异氰基的苯环化合物。异氰基化合物进一步二聚成二苯基碳化二亚胺，后者又聚合生成含氮杂环的多环芳烃。继续热解炭化会导致芳杂环的合并和脱除HCN等气态小分子，生成连续巨大的含氮杂芳环多环化合物。再经稠环芳构化最终得到具有芳环层面结构的大分子固态残留物。     

利用X射线法测定淬回火GCr15钢的硬度

研究了淬回火GCr15钢洛氏硬度与马氏体(211)晶面X射线半高宽间的关系，用数理统计方法对实验数据进行了分析。结果表明，洛氏硬度与半高宽间存在良好的相关性，相关系数约为0．973；建立了洛氏硬度与半高宽间的线性均方回归方程，利用该方程可预测淬回火GCr15钢的硬度。     

一种改进的X射线衍射定量相分析方法

在基体清洗法的基础上提出一种新的X射线衍射定量相分析方法。该方法是利用混合样品X射线衍射谱图中的全部衍射峰数据，把清洗剂同样品中所包含的所有待测物相的纯相按比例混合，在同一水平下同时测定各物相与清洗剂对应的几个K值，结合JCPDS卡中的各相标准谱峰的相对强度分布数据进行最小二乘方程组的抛弃平均法回归分析^[2]，求得混合物样品中各相间的全谱峰匹配强度比，用于混合物样品的X射线衍射定量相分析，有利于提高定量相分析的精度。通过对四组分混合物样品的分析，证实实验结果和理论完全一致。     

聚萘酯聚集态结构的X射线衍射研究

本文由非晶聚2,6-萘二甲酸乙二醇酯(PEN)经不同的处理方法,制得了一系列不同结晶度和拉伸度的样品,并用X射线衍射方法研究了它们的聚集态结构。     

X射线衍射线形宽化时点阵参数精确测定的解卷积法

证明了在X射线衍射线形分析中如以标样衍射线形g/(x)的kal峰位为坐标原点O解卷，则解得的宽化函数f/(x)的峰位恰与试样相应衍射线中kal的位置相同。据此，提出一解卷积法。方法是在解卷后将标样的已准确测知kal峰位的Bragg角2θg值加上f(x)的峰位值即得出试样相应衍射线形中kal的准确Bragg角2θh。从而算得试样的精确点阵参数。     

X射线法评价轴承零件磨削表层的热损伤

选取 8组GCr1 5钢制普通淬回火轴承套圈在实验室条件下进行高温回火试验 ,研究了X射线半高宽随回火温度和时间的变化。结果表明 ,X射线半高宽与回火参数P[=T(c logt) ]之间符合Hollomn Jaffe关系。用最小二乘法对X射线半高宽与P进行回归 ,获得回归方程Y =4 41 .0 (P× 1 0 - 3) - 2 .0 9,这一方程可用于轴承零件磨削表面层热损伤的定量或半定量评价     

薄膜材料X射线衍射物相分析与内应力测定

基于不对称布拉格反射理论，介绍了薄膜材料二维X射线衍射分析方法，并对铝合金表面的TiN薄膜进行了分层掠射分析，证实了该分析方法的可行性。结合掠射、侧倾、内标及交相关函数定峰等技术，改进了常规X射线应力测量方法，测量了上述薄膜中的内应力，表明可显著提高内应力测量精度。     

用原位X射线衍射法对电化学插层过程的研究

采用原位X射线衍射技术研究了石墨在65％HNO3中的电化学插（脱）层过程,提出了一套处理XRD图谱的数据处理方法。     

X射线衍射法测定聚合物材料取向EI

介绍了用X射线衍射法测定结晶聚合物材料取向度定义,单轴和双轴取向及其计算方法。     

PP／EPDM共混物的X射线衍射研究

用WAXD研究PP/EPDM共混物的结果表明,PP晶相中除了主要含有α-单斜晶型PP之外,还存在β-六方晶型PP结构特征,这归结于试样的冷却速度以及EPDM充当了β-晶型PP的非均相成核剂。β-晶型含量(K)取决于共混物组成,在10％EPDM时,K有极大值(19.53％)。本文还研究了β-晶型的形成对α-晶型结构的影响,共混物中EPDM含量为10％时,α-晶型的表观晶体尺寸、峰强度以及共混物的总结晶度均有极小值。