面向继电保护系统级测试的缺陷自动定位方法

为提升智能变电站继电保护测试的效率,提高继电保护可靠性,提出了面向智能变电站继电保护系统级测试的缺陷自动定位方法。分析当前继电保护系统级测试的功能架构,阐述了方法的定位。建立了过程层网络的数据流模型,该数据流模型包括端口连接模型,报文发布模型和订阅模型。基于该模型提出了继电保护测试的缺陷定位方法,算例分析表明,缺陷定位方法能够将缺陷精确定位到故障端口及其相邻链路,帮助测试人员快速发现缺陷位置,提高继电保护系统测试效率继电保护系统可靠性有着重要意义。     

惠瑞捷推出适用于V93000平台的Inovys硅片调试解决方案缩短系统级芯片（SoC）制造者改善成品率的时间

半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(NAS-DAQ:VRGY)日前推出InovysTM硅片调试解决方案,以满足更高效调试的需求,加速新的系统级芯片(SoC)器件的批量生产。惠瑞捷全新的解决方案把革命性的InovysFaultInsyte软件和具有可扩充性和灵活性惠瑞捷V93000SoC测试系统结合在一起。