热敏电阻在中小功率管老化台中的应用

<正> 中小功率晶体管产量很大,每一支管必须经过数小时满功率电热老化筛选,才能出厂。每台老化设备应具有上千个工作位置,才能满足生产需要。老化台长时间在高温下运行,工位又多,因此降低设备故障率,是设计者的任务之一。其措施之一是尽量减少设     

继电器寿命测试设备

<正>继电器的寿命是继电器各项指标中重要的一项,确定继电器的寿命是通过继电器寿命监测设备实现的。要求继电器在其规定的寿命范围内能够可靠地工作,于是研制测试继电器寿命的测试设备就成为当前急需解决的问题。 我国六十年代开始研制继电器寿命监测台(俗称继电器老化台),到七十年代中期,研制成功了测试30组触点的继电器寿命老化台。特别是微控继电器老化台的出现,给继电器研究和生产提供了高性能的测试设备。     

双冗余网络接口自动切换测试模块的设计与实现

目前双冗余网络接口得到了广泛应用,而专用测试设备匮乏,为解决这一问题,研制出基于单片机的双冗余网络接口测试系统.双冗余网络自动切换测试系统使用AT89S51单片机作为主控芯片,采用MAX4890完成双冗余网络信号的切换,实现了对被测双冗余网络接口快速自动切换的功能.该测试系统结构简单,小巧,切换动作快,配合网络测试系统(如泰克、安捷伦等专用网络测试设备),能够实现对多台双冗余网络接口设备的切换和性能测试.本电路系统运行可靠、稳定.     

LiNbO3电光调制器的小信号功率测试法研究

阐述了小信号功率测试法测量LiNbO3电光调制器频率响应的原理,对传统的小信号功率测试法加以改进,在以网络分析仪（VNA）为主的常用扫频测试系统基础上建立起一套简单可靠的新型测试系统,实现了计算机控制自动测量。改进的测试方法考虑了测试系统中微波器件固有频响对测试结果的影响,并通过对器件进行校准加以消除。通过实验表明该方法的准确性。     

晶体管功率老化台

晶体三极管是电子设备的主要元件,其质量的好坏直接影响电子设备整机的稳定性和可靠性。因此,在电子设备的整机生产之前必须对晶体三极管进行筛选,其中对晶体三极管进行功率老化是筛选晶体三极管的一项重要的工艺。要对大批量的晶体三极管进行功率老化筛选,采用一般的人工老化设备是远远不能     

功率型白光LED可靠性的实验及仿真建模研究

快速推广LED产品到照明市场最主要的障碍在于长期的可靠性测试问题。由于长期的LED可靠性测试不符合快速且低成本的要求,因此本实验对白光LED进行步进式加速寿命老化测试,步进式环境温度从55oC到145oC变化。同时,对LED进行结温测试,并使用COMSOL仿真软件进行温度场分布仿真来模拟器件的发热情况,结果表明荧光胶处的温度高于LED芯片温度。在长期老化之后,对LED的光度进行测量,可以对LED的失效机理进行分析。通过研究温度对LED的光谱功率分布衰减的影响及光通量衰减的影响,发现在经过近3500 h的老化之后,LED的光衰很严重,表明电流及高温对LED的影响是极大的。     

大型目标雷达截面积的测量

本文介绍一台适合测量大型目标的雷达截面积测试雷达,该测试雷达是为适应武器装备试验需要而研制的,主要用于测量大型固定目标和低速行駛的舰船雷达截面积。测试雷达选用中频衰减等电平比较法,它具有设备精度高动态范围大的特点.设备采用新颖数控衰减器,逻辑控制电路实现了回波功率自动测量。设备极限误差≤a±0.3分贝,同时介绍了关键电路. 本文提出了外场测试中,基准目标选择原则,测试场地的要求,和提高测试精度有效措施等实际问题。通过测试实例说明引用驻波原理后,在对标准目标测试中,测试雷达在室外测的结果和微波暗室鉴定的结果相近,满足设计使用要求.     

小功率短波广播发射台发射设备对电磁环境的影响与研究

本文对小功率短波发射台XA台台区外电磁环境下场强测试的结果进行了分析,得出了高频模式发射与低频模式发射的差异以及发射机与天线之间存在干扰的原因,并提出了发射系统抗电磁干扰的措施.     

北广电视发射机功率指示系统原理与检修

北京广播器材厂是我国最大的广播电视设备制造厂,其生产的电视发射机被广泛地应用于我国大、中、小型电视转播台。我台于八十年代初和中期分别购置了该厂米波３００Ｗ和分米波１ｋＷ电视发射机。最近几年,随着设备工作年限增加,设备内部元器件慢慢趋于老化,原故障率几乎为零的功率指示系统,故障频频而出。下面结合我台维护实践中的经验,介绍一下功率指示系统的原理与检修。１功率指示系统原理如图１所示,功率指示系统由两个带检波器的弱定向耦合器、一个双指针功率表、两个微调电位器组成,用来指示发射机的输出功率、驻波比和馈线最大电压。…     

微波功率组件自动测试系统

介绍了一种微波功率组件自动测试台的设计,给出了系统的硬件和软件结构以及测试流程。本测试系统是基于测试方案、测试步骤、仪表设置、故障表等数据库方式对微波功率组件进行自动测试、仪表控制采集、故障的引导维修。采用标准的GPIB总线接口实现仪器仪表与计算机互连,通过优化测试流程,实现测试完整性、准确性、安全性。通过工程实践应用,该测试系统显著提高微波功率组件的测试精度和效率,具有良好的使用性能和价值。     

自动探针台的现状及发展

<正> 国内外概况 自动探针台作为对芯片电路进行参数和功能测试的中间测试设备,在国内外已有较长时间的研究和应用。随着LSI及VLSI的发展,测试点数量的增加、尺寸的缩小、密度的增大、以及规模生产和某些敏感元器件测试的需要,对自动探针台的精度(定位精度、重复精度及位置分辩率)、运行速度、使用功能、探测能力、软件接口、工作可靠     

实用小功率中频电源设计

400Hz中频电源是飞机及其地面测试设备使用的标准电源之一,目前市场上缺少小功率的中频电源,针对这种情况,设计一款实用小功率中频电源,满足测试需要。     

功率裸芯片的测试与老化筛选技术

由于存在高温度、大电流等问题,传统的测试与老化筛选功率管的方法不能完全适用于功率裸芯片.介绍了采用临时封装夹具来测试与老化筛选功率裸芯片的技术,并根据功率裸芯片的实际情况,阐述了测试与筛选功率裸芯片的方法.     

程控交换机用户线测试系统

介绍一种新型的程控交换机用户线测试系统。本系统可以自动完成受理、测试、派工等一系列１１２测量台的日常工作，同时还可对本地电话网的用户线路资料进行集中管理。     

碳化硅系列UHF放大器

利用碳化硅材质（SiC）固有的优点，MILMEGA开发出了一类新型的高功率宽带放大器。这个新系列放大器瞬时带宽从200MHz到1GHz，性能稳定可靠。尤其是它的反射功率容差，可以适应EMC测试行业（射频抗扰度测试）的需要，并且适合对高功率射频元件进行测试（图1）。新型放大器具有尺寸小、重量轻和可靠性高的优点，且考虑到了的测试中应包含的一些关键点，比如针对标准综合的嵌入测试（BIT）能力、输出功率的高灵活性、功率大小的回溯升级，以及当类似放大设备互联时自动的主／从控制切换等。     

基于嵌入式平台的某型网络设备测试工装的研究与设计

<正>某型网络设备产量非常大,但现有的生产检测效率低,主要体现在现有的生产检测测试环境搭建非常复杂,需要自制陪测设备四种各一台、还需要两台交换机、一台路由器、以及一台外购服务器,搭建这套测试环境所需成本也非常高,在测试时还需要人工手动输入测试命令,生产效率极低。为了实现在生产线上对该型网络设备进行自动检测和自动生成测试记录,通过研制一款测试工装,     

低电压输出直流电源的测试老化系统

针对KJ90N系列矿井安全监控系统中本安型直流电源的测试老化问题，设计了一种在线测试老化系统。该系统包括上位机、中位机及测试单元等组成部分，是基于16位DSP技术的中位机硬件设计、C#.NET技术的上位机软件开发，完成的一套自动化的测试老化装置。该系统具有自动加载负载、信号采集、输出保护、过温保护、数据存储和分析等多项功能。结果表明该系统实现了自动测试老化功能。对于其他低电压电源产品的测试老化有较好的借鉴作用。     

可替代频谱分析仪的低价位射频功率分析仪

实验室和产业部门采购测试仪器的方针是不同的,前者往往选择通用仪器,后者选择专用仪器。频谱分析仪是一种非常灵活的设备,适用于许多场合,但正是因为它的灵活性,使得使用时操作步骤复杂、设备价格昂贵和测试速度慢,这些都是灵活性必需付出代价。射频功率分析仪是手机、RFIC(射频集成电路)功率放大器和类似设备的专用产品测试设备。射频功率分析仪能用较快的速度和较低的成本完成原来需要好几台仪器才能完成的一系列测试,但是它原本并非为实验室里常见的测试工作而设计的。本文将探讨射频功率分析仪和频谱分析仪的区别,特别要强调指出的一…     

一种微波功率LDMOS器件非线性模型

对微波功率LDMOS器件进行测试,提出一种新的非线性模型,通过小信号参数提取,建立LDMOS的小信号模型,对多偏置下本征电容的提取,建立LDMOS本征电容的非线性模型,加入LDMOS的直流IV模型并以此为基础确立了微波功率LDMOS的大信号模型,经过此模型的LoadPull仿真及芯片测试对比,表明了该模型可以较准确地模拟LDMOS的微波特性。采用该模型设计了一种功率管放大器,通过最终测试与仿真结果对比,证明了该模型的实用性。     

新型制冷设备保护器

新型制冷设备保护器董民政赵桂钦（兰州铁道学院电信与自动控制系，兰州，７３００７０）我们在对数百台电冰箱、冷柜、空调器等制冷设备的维修中发现，大多数设备尽管使用了机外“保护器”，但仍然遭到损坏。调查其原因，有的属于设备老化或内在质量问题所造成，而不少则...