光学与光电测量跟踪技术文献文摘与索引(二)

061用于高精度制导的电荷耦合器件跟踪器Charge coupled device trackers for highcouracy guidance applications--P.M.Salo-mon;optical Engineering,1981,Vol.20,No.1,P.135—142.大面积电荷耦合器件(CCD)成象探测     

光学与光电测量跟踪技术近期文献文摘与索引

一.光学跟踪测量001目标跟踪技术的评价Assessment of target tracking techniques--CPT Ben-jamin Reischer; Proceedingsof SPIE、(1979), Vol. 178, Smart Sen-sors, P. 67-71 本文对目标跟踪技术进行了简要的评述,其中包括目前使用的军用跟踪器及其缺点的评述。文章介绍了具有目前先进水平的跟踪器的能力及其不足之处。最后对未来的智能目标跟踪器在跟踪多目标、目标的探测与识别等能力方面作了分析和预测。     

自适应光学技术文献文摘与索引

本文评论了包括多元高频振动COAT、锐度函数最大化和相位共轭在内的基本自适应光学技术。叙述了自适应波前补偿系统的设计,并重点叙述了波前探测器和波前校正器。特别考虑了一种径向Ronchi光栅横向剪切千涉仪波前探测器。研究了目前正使用的自适应光学系统。     

自适应光学技术文摘与索引(续)

三、可变形反射镜 0031 自适应光学系统的计算机模拟 Computer simulation of adaptive optical systems—W.P.Brown;AD-A015289. 在此报告中,作者讨论了对湍流和热晕影响进行自适应相位补偿。尽管作者仅仅从系统的回波形式中获得一定的系统性能估     

文摘索引(从下期开始该文摘索引转至《通用机械文摘》)

在8×10-5～8×10-2Pa范围内对欧洲共同体国家的真空标准做了互相比较《J.Vac.Sci.Technol》, 1980.17.№3.679-687(英文) 用JHP电离子,对于欧洲共同体国家四个实验室(意大利土林市克罗奈蒂计量研究所、一法国法隆斯市雷暴尔得黑罗伊斯绍杰计量实验室、英国泰了敦市国立物理实验室、西德柏林物理技术研究所)所采用的真空标准,在8×10-5～8×10-2Pa范围内做了比较。这些实验室使用了三种真空计。每个实验室在准备和操作真空计时,都遵照详细的程序,以减少真空计灵敏度系数的不规则变化,并在每种压力下对其空计校正9次,测量时间超过3天。所…     

超导文摘(三)

日本九州大学和东京工业大学的联合研究小组研制出一种只由镧、铜、氧三种元素构成的超导体,它分别在90K、36K、11K 时出现超导现象.一种超导物质有3个临界点,这在世界上尚属首次发现.美国电话电信公司贝尔研究所利用电子显微镜首次成功地拍摄到超导陶瓷原子构造的照片。     

标准光学(光电)高温计用灯泡的研制

一、前言标准光学(光电)高温计(以下简称高温计)是高温量值传递的重要标准器,高温计的量值就体现在灯泡上。我国的标准光学高温计已使用二十多年,其中部分灯泡性能不稳定,少数灯泡已经损坏,急需更换。此外,1985年开始批量生产的标准光电高温计,对灯泡的性能要求较高,并且同样需要逐渐更换灯泡。为此,我们进行了研制,经一年多的努力,于1986年10月完成了灯泡的研制和性能测试。     

能动光学与自适应光学(综述)

利用控制技术使光学系统能动地适应外界条件的变化,是近十年来光学技术的新发展。国外进行了大量工作。本文概述了国外的发展情况。叙述了现有的各种波前检测技术和波前校正技术的分类和原理。介绍了在组合孔径望远镜、航天望远镜、极限分辨力望远镜和高能激光发射系统中的应用。     

国内外报刊文献速报(三)

作为高等院校，我院图书馆订购了大量的中外文报刊，其中与粉体工程相关的报刊很多，同时本刊编辑部也与众多相关行业的期刊和报纸有着友好的交流关系。这里报道的是本刊编辑部收集到的最新的粉体工程领域的参考文献，目的是实现资源共享。读者如需复印详细材料，可直接与本刊编辑部联系，请按示例写清所需条目。收费标准：20元／篇（包括检索费、复印费、邮费）。理论研究原料平均粒度对Wollastonite／spodumene复合烧结体性能的影响（日）．酒卷诚等．InorsanicMaterials．1996．3（260）：24～29Mg（OH）2分解制备MgO粉体的特性（日…     

光电比较仪(或高温计)系统非线性测量装置

本系统地介绍了新研制的光电比较仪（或高温计）系统非线性测量装置。新装置采用双光源单光路设计,具有独立于被测对象和不失真的特点。利用该装置对基准光电比较仪和标准光电高温计进行了系统实验,测量不确定度达到０．０１％。利用该装置测量的数据已应用于国际计量局（ＢＩＰＭ）和亚太计量规划组织（ＡＰＭＰ）主办的国际比对中。     

球体型面的测量与评定(三)

７．６计算实例７．６．１整球计算实例［８］之例是一整球例,此例在［１２］中也有计算。其原始数据在６．３表１中已给出,按表２方法３计算最小二乘球心,其球心坐标ｘｏ＝１９．９８９３μｍ,ｙｏ＝２．４７２４μｍ,ｚｏ＝０．５０９６μｍ。各点对此心的半径偏差列在表３上。按大小顺序选大、小点各５个,它们是（３,１１）,（３,１０）,（３,１２）,（３,９）,（３,８）及（６,９）,（６,８）,（６,１０）,（１,１０）,（１,９）,它们分别在１,３,６三个截面上。在３截面上求最小外接圆,其圆心为ｘｏ＝·２…     

光学雷达(OPDAR)轨迹测量系统研究实验计划(上)

本文叙述一种精确测量发射初始段轨迹的连续波光学雷达(OPDAR)。单台仪器通过安置在导弹上的后向反射器精密地测量导弹的斜距、方位角和俯仰角。测得的数据适用于实时计算轨迹和在飞行事后,由计算机处理出高精度的位置、速度和加速度信息。为论证系统现实性,设计了一些关键组件的实验室模型。模型包括轴角编码器、后向反射器和测距系统。为测量激光噪声的影响进行了试验。     

1.2m量子通信跟踪系统的光学设计(英文)

基于大气的量子信道传输损耗低,不存在双折射效应,是量子通信实验的可行信道。通过建立卫星平台与光学地面站之间的高稳定低损耗量子信道,可实现超远距离的量子密钥分发。通过卫星中继,将有可能实现覆盖全球的量子通信网络,这也是目前国际公认的最为可行的方案之一。本文详细描述了1.2 m光学地面站望远镜的光学接收系统设计,望远镜采用R-C结构形式,具有近衍射极限的成像质量。为了抑制到达角起伏,实现微弧度级的跟踪精度,望远镜采用复合轴跟踪控制策略,可实现高精度和高带宽的跟踪。     

感光材料专业外文文献查阅(三)

(8)专利索引和专利对照当读者在其它文献中看到某一专利,而要查阅CA中关于这一专利的文摘时可使用专利索引。专利索引按国家的英文名称顺序排列,专利号由小到大,从专利号可直接找出相应的文摘号。专利申请者往往把同一发明向几个国家     

光学雷达(OPDAR)轨迹测量系统研究实验计划(下) 第三章 研究和实验结果

3.1.捕获和再捕获3.1.1.概说捕获和再捕获问题可以分成静止与运动目标两类。静止目标包括准备发射的导弹和某一个校准实验的后向反射器。用手控方式捕获它们,既用电视摄象机作为敏感元件并     

立式光学计和测微计工作台(带三个支点)表面与测量轴线垂直性的调整

某些用作长度精密测量的仪器,在正常工作的时候,要求工作台表面与仪器的测量轴线保持高度的垂直性,才能获得正确的测量结果。这种垂直性的保证,除了在制造中对尺寸链的公差加以限制以外,很多都是采用在使用仪器时,通过调整工作台支承的方法来实现的。这种工作台的支承是利用三点定面的原理,通过其中两个支点的升降,使工作台表面在一定空间的范围内,获得任意方位,从而能将工作台表面调整到与测量轴线相垂直的位置,苏联制造的立式光学计和我国有些光学仪器厂制造的立式光学计和测     

微梳齿结构动态特性参量的光学测量与分析(英文)

光学测试方法属于非接触测量,目前已经成为MEMS动态测试领域的研究热点.为了实时检测梳齿式微结构驱动模态的谐振特性,由高速摄像机和显微镜组成的计算机微视觉光学测试系统和相关的视频分析软件被用于测量微梳齿结构的动态特性.利用这套微视觉光学测试系统,可以获得微梳齿结构驱动模态的位移响应曲线和幅频特性曲线,并可以进一步得到驱动模态的固有频率、品质因子、阻尼系数等参数.测得的结果与计算结果相比,一致性较好.     

工业动态跟踪测量的原则与技术特点

叙述了工业动态跟踪测量的特征和内容,提出了实现动态跟踪测量的基本目标和任务。并且介绍了测量的原理、原则、方法和虚拟坐标系的建立以及冗余测量配置与测量方法、测量系统的自标定、实用测量系统的技术特点等。最后对动态跟踪测量的发展趋势进行讨论。     

光学表面光散射(Ⅱ)——实验技术

发展了两种典型的测量光从有一定粗糙度的光学表面散射后的空间光强分布的装置,探讨了它们的优点和局限性,并研究了这两种系统的横向和纵向分辨率。结果表明,利用步进电机的扫描测量系统适用于在实验室中作高精度的表面粗糙度测量,而利用CCD阵列的测量系统适用于在光学制造中的在线检测。     

非球面光学元件的制造技术(英文)

非球面光学元件广泛用于不同领域,但它们的成功应用主要取决于其质量和制造费用。近几年来,通过开发计算机数控光学加工机械和新的制造技术,已经取得了大的进展。本文涉及制作非球面所用的主要技术。总结将指明适合的用途和这些方法中的每一项的技术成就。两个实际的例子表明非球面光学元件的挑战和光明未来。