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针对一级负荷高可靠性的供电要求,提出了一种测试低压双回路供电系统自投时间的方法,并精确地测试了双回路自投时间.进而根据断路器特性和设备对停电间隙的要求,对断路器自投时间进行了整定. 相似文献
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针对一级负荷高可靠性的供电要求,提出了一种测试低压双回路供电系统自投时间的方法,并精确地测试了双回路自投时间。进而根据断路器特性和设备对停电间隙的要求,对断路器自投时间进行了整定。 相似文献
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针对变电站调试过程中需要对备自投进行全面测试,而且已投运相关间隔需要停电进行配合测试,将造成一定经济损失的问题,提出备自投不停电测试装置设计方案,分析数字化模拟断路器、备自投不停电检修测试、图形可控的备自投测试等技术,介绍基于数字化模拟对象的状态自动切换实现备自投不停电检修的方法,通过实例,证明基于数字化模拟断路器的备自投保护不停电测试装置减少了停电时间,提高了测试操作便捷性,同时确保备自投测试调试的正确性、完整性,对加强电网安全可靠连续运行具有非常积极的研究价值和实际意义。 相似文献
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介绍了微机备用电源自投装置的基本要求和实现条件,重点对近几年来某供电公司110kV及以下变电站的几起常见进线备自投现场运行中发生的主供电源永久性故障、备自投拒动、受电侧断路器偷跳、备自投拒动、受电侧断路器跳闸、检母线无压失败、一次接线方式影响备自投正确动作等典型事故进行了分析,总结分析了造成这些事故或不正常情形发生的原因,提出了对现有备自投装置的一些改进意见,并结合实践提出了在运行、检修及调试过程中应该重点注意的主要问题。 相似文献
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罗家庄变电站110 kV部分为内桥接线,备自投方式采用分段断路器自投与两条110 kV进线自投自适应方式,在对进线断路器进行手动分闸时备自投装置误动作。通过对备自投装置进行实地检查,认真分析,查找故障出现原因,针对该问题提出三种解决方案,采用最合适的方案进行整改,将汇控柜内断路器就地操作把手摘除,避免就地操作,从而使备自投装置能正确动作。 相似文献
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介绍了微机备用电源自投装置的基本要求和实现条件,重点对近几年来我公司110kV及以下变电站的几起常见进线备自投现场运行中发生的主供电源永久性故障,备自投拒动;受电侧断路器偷跳,备自投拒动;受电侧断路器跳闸,检母线无压失败;一次接线方式影响备自投正确动作等典型事故进行了分析,总结分析了造成这些事故或不正常情形发生的原因,提出了对现有备自投装置的一些改进意见,并结合实践提出了在运行、检修及调试过程中应该重点注意的主要问题。经现场实践表明,上述经验和方法具备一定的参考价值。 相似文献
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电力行业缺少针对智能终端的专业测试设备,现有测试系统庞杂、配置繁琐、接换线多、数据处理繁杂、误差点多,制约了测试机构的检测效率和质量。为解决现有测试系统的弊端,实现智能终端的闭环自动测试、简化测试系统、提高测试能力和效率,研制一种智能终端自动测试仪。通过接口及配置规范化,在开始测试前一次性完成所有接线和配置,实现测试中零接换线。通过回路自动切换技术,对测试回路进行预设计,在测试中根据不同项目要求进行回路自动切换和构建,实现自动测试和零换线。通过检测过程透明显示技术,实现测试结果的实时处理和显示,方便结果分析和判定。通过试验验证和工程应用,证明智能终端自动测试仪的精度和抗干扰能力满足标准要求,自动测试能力和效率相对传统方法明显提高,满足应用需求。 相似文献
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基于虚拟仪器的电路板自动测试系统的软件实现 总被引:1,自引:0,他引:1
针对生产电路板数量多和测试方法自动化程度低的问题,设计了一种基于虚拟仪器技术电路板测试系统,该系统借助NI公司的PXI板卡,采用测试子程序的分层实现,并由主程序对这些子程序进行调用,实现了电路板测试的自动化、可视化,从而提高了测试系统的效率,并最终实现了对电路板进行准确故障定位。由于该系统极大的提高了电路板测试的自动化程度和测试的速度,所以在一些大量生产电路板的企业和研究所具有广泛的应用前景。 相似文献
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直流调速系统是自动调速控制系统的主要形式。该系统以可控硅三相桥式全控整流电路构成系统的主电路,采用同步信号为锯齿波的触发电路。为了获得良好的动、静态品质,在充分利用电机过载能力的条件下获得最快的动态响应,整个系统采用电流、速度双闭环的控制结构。 相似文献
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针对黄埔电厂6 kV备用电源开关模拟自动投入试验及6 kV备用电源运行中存在的问题,分析了6 kV厂用母线低电压保护动作原理,提出解决目前模拟自动投入试验中存在问题的方法,新的试验方法不仅能检查低电压启动自动投入回路,还能对整个备用自动投入回路进行测试,是一个较全面的试验方法。 相似文献
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设计了大电流检测系统对1SW45(DW45)断路器的脱扣时间进行自动检验,通过图形化编程软件LabVIEW和VC 的结合使用,在采样、自动凋流、驱动步进电机都使用了动态联接库,实现对断路器的脱扣特性进行全自动的检测。 相似文献
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A novel approach to education in manufacturing test and automatic test equipment is described that makes use of a Xilinx XC4000 series field programmable gate array (FPGA). Automatic test equipment is first used to configure the chip as a desired circuit and then to apply test vectors to test the circuit for “manufacturing defects.” The chip can be configured as either fault-free or faulty, and several different types of functional faults can be injected. Use of the programmable device enables education in use of automatic test equipment to be combined with education in generation of effective test vectors for fault detection and diagnosis and also enables different classes to use the same device and load board to represent different circuits. This approach is suitable for both academic and industrial environments and should be particularly useful for customer training by manufacturers of automatic test equipment 相似文献