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为降低流水线模数转换器(ADC)中跨导运算放大器(OTA)设计要求,在分析已有开关电容电路(SC)误差消除技术和流水线ADC误差源的基础上,提出一种改进的流水线ADC开关电容电路及与其匹配的OTA设计方案.采用交又差分结构,对虚地电容进行了修正,并将电容失配参数在系统传输函数中消去,使开关电容电路对OTA的增益误差要求降低,并使其瞬态功耗下降.采用CMOS 0.18üm工艺设计了一个分辨率为8位、取样速率200 MHz的ADC作为验证原型,仿真结果表明,该优化结构符合ADC电路高速低功耗要求,可作为信号前端处理模块应用到模数转换电路中. 相似文献
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针对传统SAR ADC电容面积大、功耗高的问题,提出一种基于伪C-2C混合结构DAC的10位低功耗SAR ADC。设计基于SMIC 0.18μm CMOS工艺,采用伪C-2C与权重电容混合结构来降低整个DAC所需的单位电容数和ADC的功耗;使用一种新型的单边开关切换策略来降低DAC的非线性,进一步降低功耗。以栅压自举开关作为采样开关来提高电路线性度;通过无预放大动态比较器保持ADC的静态功耗为零,并对传统的动态比较器进行优化,使其在无预放大的情况下具有较小的输入噪声。采用异步时序逻辑使ADC在低功耗的同时保持较高的转换速率。电路在Cadence平台进行仿真验证,仿真结果表明,DAC电容阵列线性度及比较器精度符合ADC应用需求,整体电路实现逐次逼近功能,在7.7MS/s的采样速率下,平均功耗仅为96μW。 相似文献
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设计了一种12位精度,200 kS/s采样率的逐次逼近型模数转换器(SAR ADC)。针对传统的电容开关切换算法的大电容面积和高功耗,采用一种新型的电容开关切换算法,提高了转换精度,降低了功耗。此外,比较器电路采用一种全差分动态比较器和静态预放大比较器分时工作的方法,进一步降低了功耗。基于TSMC 0.18μm CMOS工艺,对电路进行了设计和仿真。仿真结果表明,在采样率为200 kS/s时,信号噪声失真比(SNDR)为70.94 dB,有效位数(ENOB)为11.49位,功耗为22μW,优值系数(FOM)为38.2 fJ/(Conversion·step)。 相似文献
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《微型机与应用》2017,(6):33-36
为了实现高性能的流水线ADC,设计了一种应用于流水线14位ADC的高精度CMOS比较器,采用全差分结构的前置放大电路、两级动态latch锁存电路和输出缓冲电路,具有高精度和低功耗的特点。前置差分预放大电路放大输入差分信号,提高了比较器的精度,其本身的隔离作用使比较器具有较小的回踢噪声和输入失调电压;两级正反馈latch结构有效提高了比较器的速度;反相器级联的输出缓冲级电路调整输出波形,增加驱动能力。采用TSMC 0.18μm CMOS工艺,工作于1.8 V电源电压、100 MHz频率,仿真结果显示,该比较器最小分辨电压是3.99 m V,精度达到9位,失调电压为16.235 m V,传输延时为0.73ns,静态功耗为2.216 m W,已成功应用于14位的流水线ADC。 相似文献
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设计了一个高速电压比较器,比较器由前置放大器和带复位端的动态比较器组成。采用charted公司的0.35um/3.3v模型,通过CADENCE进行模拟仿真,电路获得了高速、高分辨率的特性。在100Ms/s的工作频率下电路消耗0.29mw的功耗,并且具有6.5mv的低失调电压。因此,该电压比较器可适用于流水线ADC。 相似文献
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设计了一个10位分辨率,20 MS/s采样率的逐次逼近型模拟数字转换器(SAR ADC)。该电路通过采用分段式电容阵列设计,缩短了量化过程中高位电容翻转后所需要的稳定时间,从而提高了量化速度。此外,还提出了一种新颖、高效的比较器校准方法,以较低的成本实现了比较器失调电压的抑制。该ADC芯片基于180 nm CMOS工艺设计制造,核心面积为0.213 5 mm2。实际测试结果表明,在1.8 V电源电压、20 MS/s采样频率下,该ADC的信号噪声失真比(SNDR)达到了58.24 dB。 相似文献
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提出一种基于二进制加权电容DAC阵列的比较器校准技术,并基于该技术65nm CMOS工艺下设计实现了一款低功耗高精度动态比较器。基于版图数据的模拟仿真结果表明,在1.2V的工作电压下,该校准技术可以将失调电压降低至0.25mV以下,功耗为0.33μW,功耗开销增大57%。 相似文献
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The increasing architecture complexity of data converters makes it necessary to use behavioral models to simulate their electrical performance and to determine their relevant data features. For this purpose, a specific data converter simulation environment has been developed which allows designers to perform time-domain behavioral simulations of pipelined analog to digital converters (ADCs). All the necessary blocks of this specific simulation environment have been implemented using the popular Matlab simulink environment. The purpose of this paper is to present the behavioral models of these blocks taking into account most of the pipelined ADC non-idealities, such as sampling jitter, noise, and operational amplifier parameters (white noise, finite DC gain, finite bandwidth, slew rate, and saturation voltages). Simulations, using a 10-bit pipelined ADC as a design example, show that in addition to the limits analysis and the electrical features extraction, designers can determine the specifications of the basic blocks in order to meet the given data converter requirements. 相似文献
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简单介绍了SAR A/D基本结构.基于该结构,设计了采用两级差分放大器作为前置放大,最后采用一级差分输入的自偏压差分放大器输出结果.该电路采用0.18um工艺实现,对其进行了仿真,得到的仿真结果和波形说明了该比较器可应用于逐次逼近结构的模数转换器. 相似文献
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介绍了一种十级12位50M Sample/sCMOS流水线A/D转换器的设计。该设计方案采用了全差分采样/保持电路和折叠式共源共栅运算放大器,保证了处理模拟信号的精度与速度。自举MOS开关和双差分动态比较器的使用,提高了电路的精度与速度,每级电路基本一致.简化了电路设计。 相似文献
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A 6-bit 2 GS/s ADC was implemented using a 65 nm digital CMOS technology.The design is based on a single-channel flash ADC architecture,and utilizes interpolating and averaging techniques.A two-stage CML-CMOS high-speed hybrid comparator is designed for optimal speed and power performance.The total power consumption of the converter is 52 mW and the area is 0.24 mm2.The ADC achieves 42.5 dB SFDR and5.2 bit ENOB at input frequency of 123 MHz,and at Nyquist frequency 37.67 dB SFDR and 4.9 bit ENOB. 相似文献
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Hyun‐Sang Park Tae‐Jun Ha Yongtaek Hong Min‐Koo Han Doo‐Hyung Woo Kwang‐Sub Shin Chi‐Woo Kim 《Journal of the Society for Information Display》2008,16(8):889-893
Abstract— A new digital ambient‐light sensor system has been designed and fabricated on a glass substrate using a conventional low‐temperature polycrystalline‐silicon (LTPS) technology. In the proposed system, analog‐to‐digital conversion (ADC) is performed in the time domain instead of the voltage domain and is combined with a light‐detection process. The proposed system employs self‐reset architecture and requires only one comparator for n‐bit digital output. Because the complex analog circuitry is eliminated from the system, it can be readily integrated on the glass substrate. 相似文献