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X射线衍射仪是利用X射线照射到不同的物质时,由于构成不同物质的晶体结构不同,就产生不同的衍射条纹,是一种研究晶体结构的分析方法,而不是研究样品内含有元素种类及含量的一种方法.X射线衍射仪数据控制器是X射线衍射仪的主要组成部分. 相似文献
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作为一种无损测定金属材料和零件表层应力的方法──X射线应力测定法,已被愈来愈广泛地应用。我们在工作中除了采用X射线应力仪外,还采用衍射仪来进行检测。然而,在衍射仪上进行检测时,由于受到测角器机构的限制,通常只能测定小块试样。为此研制了一种X射线衍射仪的侧倾装置,使 相似文献
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对国产X射线粉末衍射仪的现状进行了评述。近年国产粉末衍射仪较之以前已有很大的进步。虽与进口仪器仍有差距,但国产仪器已可满足粉末结构分析和物相分析的基本需要。现在无论应用国产衍射仪还是进口知名衍射仪,在相近的实验条件下,得到的X射线粉末衍射图数据的质量是同一水平的。 相似文献
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利用X射线衍射,是目前国际上对超薄多层膜进行检测常用的方法之一,但只局限于双晶或小角衍射仪。本文利用的方法解决了广角衍射仪在低角区测量时由于样品放置误差所造成的衍射峰偏移和得不到衍射曲线的问题,从而使广角衍射仪得以应用在小角区测量。文中重点对测量曲线进行了分析,准确计算了多层膜的周期和单层膜厚度,并与测量值进行了比较,结果表明利用广角衍射仪测量膜厚是切实可行的。在目前我国X射线波段反射率测量装置还没有完善的条件下,利用X射线衍射仪对超薄膜的检测更显得格外重要。 相似文献
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本文报导了日本Rigaku 3015 X—射线衍射仪光路系统的选择对回摆曲线法的测定结果的影响以及影响范围。实验结果表明,在X射线衍射回摆曲线法中,追求过低的光路系统达到实验结果的准确性是不妥当的。最好是在统一的光路系统下,连续测定所有的结果,误差将会最小,一般<0.3°。 相似文献
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本文介绍的X射线衍射仪微机数据处理系统,用先进的微机技术对我国早年进口的日本理学3015X射线衍射仪进行改造。在仪器原有的测量控制下,通过简单的接口,将衍射仪及附机X荧光分析仪的测量数据准确地采集到微型计算机中,由微机来完成X衍射及X荧光分析中的各种繁琐而又重复的数据处理任务,将仪器的分析性能提高到一个新的水平。本文着重介绍微机与3015X衍射仪的硬件联接和测量数据的采集。 相似文献
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X射线单晶衍射仪可对单晶物质进行无损伤检测,它能测试单晶物质分子结构,包括晶体空间群、晶胞尺寸、键长、键角以及原子的空间排布等。本文介绍我国首台自主生产的X射线单晶衍射仪的使用及维护情况。 相似文献
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X光管是X射线衍射仪的核心元件之一,但其价格昂贵且易老化,不同厂家生产的X光管规格又不尽相同,这给仪器的维修带来较大困难,寻找可替代光管及加深对其认识具有重要的现实意义和应用价值。本文在Bruker D8 ADVANCE型X射线粉末衍射仪上,采用PANalytical公司生产的X-ray陶瓷光管代替其原配光管,在对光管底盖做了适当的调整,使光管和底盖间错位90o后,X光路由点焦斑转变为线焦斑,发现仪器的灵敏度较调整前提高一倍,同原配Simens公司生产的陶瓷光管相当。 相似文献