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ASIC的复杂性不断提高,同时工艺在不断地改进,如何在较短的时间内开发一个稳定的可重用的ASIC芯片的设计,并且一次性流片成功,这需要一个成熟的ASIC的设计方法和开发流程.本文结合NCverilog,DesignCompile,Astro等ASIC设计所用到的EDA软件,从工艺独立性、系统的稳定性、复杂性的角度对比各种ASIC的设计方法,介绍了在编码设计、综合设计、静态时序分析和时序仿真等阶段经常忽视的问题以及避免的办法,从而使得整个设计具有可控性. 相似文献
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讨论基于蓝牙基带芯片ASIC设计的后端布局技术和布局参数的设置及其所带来的结果。通过讨论几种布局中遇到的情况,来比较哪种布局后所产生的效果较好,进而说明如何在ASIC后端设计中选择合适的布局策略。 相似文献
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Cadence设计系统公司日前宣布流片了一款14纳米测试芯片,使用IBM的FinFET工艺技术设计实现了一颗ARMCodex—MO处理器。这次成功流片是三家技术领先企业紧密合作的结果,他们一起建立了一个产品 体系,解决基于14纳米FinFET的设计流程中内在的从设计到生产的过程中出现的新挑战。 相似文献
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纳米工艺下ASIC芯片的功耗问题将成为未来设计的瓶颈。本文以SD卡Flash控制芯片为例,研究65纳米工艺下逻辑综合阶段降低功耗的手段及措施,分析这些手段对功耗的影响,最终确定最佳低功耗策略,并经流片验证该低功耗策略有效。 相似文献
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采用0.18μm及以下工艺设计高性能的VLSI芯片面临着诸多挑战,如特征尺寸缩小带来的互联线效应、信号完整性对芯片时序带来的影响、时序收敛因为多个设计变量的相互信赖而变得相当复杂,使芯片版图设计师需深入介入物理设计,选用有效的EDA工具,结合电路特点开发有针对性的后端设计流程。文章介绍了采用Cadence公司Soc Encounter后端工具对基于0.18μm工艺的ASIC芯片后端设计过程,分为后端设计前的数据准备、布局规划、电源设计、单元放置及优化、时钟树综合、布线等几个阶段进行了重点介绍。同时考虑到深亚微米工艺下的互联线效应,介绍了如何预防串扰问题,以及在整个布局布线过程中如何保证芯片的时序能够满足设计要求。 相似文献
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ASIC设计方法可分为全定制和半定制两种。其中,半定制是一种约束性设计方式。目前广泛采用的半定制设计方法包括门阵列ASIC、标准单元ASIC和可编程逻辑芯片设计。文章主要针对后端工作,通过一个控制芯片的设计实例,介绍标准单元法的设计过程及重点步骤,并简单介绍了标准单元库的建立。 相似文献
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勿庸置疑,电源管理问题是目前90纳米设计所面临的最大挑战,如何在不断增加的复杂性和功耗间取得平衡已成为一个日益严峻的问题。日前,硅设计链产业协作组织(Silicon Design Chain Initiative,SDC)的成员Applied Materials、ARM、Cadence和TSMC联合推出了经流片验证的低功耗90纳米芯片设计技术,该技术可将芯片的总功耗降低40%。 相似文献
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本文介绍一种单电源电压小于3V的低压CMOS模拟与数字混合ASIC——瓦斯报警电路的设计,并给出制造工艺的主要数据。本电路根据我厂的现有设备和工艺,采用正向设计,一次流片即获成功,批量生产重复性好。模拟线路的技术指标和数字线路的功能均达到预期的使用要求,3V工作时的驱动电流可达15mA。 相似文献
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本文简要阐述了可靠性管理的概念,在我所技术质量管理的基础上,从产品立项、设计、设计评审、流片、封装、考核到鉴定使用全过程,对ASIC可靠性管理进行了分析和探讨,强调各部门必须保证工作质量,强化可靠性管理,通过管理把高可靠性注入到产品中去。 相似文献