X射线衍射法测定氧化铁系脱硫剂的物相组成及晶体结构

本文科要叙述了Ｘ射线衍射的基本原理，并用该法测定了氧化铁系脱硫剂物相组成及活性氧化铁的晶体结构。     

电瓷坯釉料成分计算 第三讲 电瓷坯料配方与瓷材料相组成的计算

<正> 在电瓷的实际生产过程中,或因为原料成分发生较大波动,或因为更换了原料,常常需要调整配方,以获得性能稳定、符合使用要求的电瓷产品,这就必定涉及到坯料配方的计算.在实验室里,研究新型电瓷材料时,坯料配方计算也是少不了的.此外,为了对比和预计不同瓷材料的理化性能,还可对瓷材料的相组成进行计算.这一讲主要介绍这两方面的内容.     

X射线强度权重因子定量相分析

提出了Ｘ射线衍射强度的权重因子定量相分析的新方法。它克服了传统的标样和无标定量分析方法只选定试样各待测相中一条面网衍射峰的强度值作为定量分析的缺点。本文的方法,对样品进行一次制样和测量,然后对样品中各待测相的ｎ条面网射线峰的强度求出权重因子,进一步求出试样中各物相的相对百分含量。     

电瓷矿物X衍射定量方法

文中扼要介绍了X衍射矿物定量的方法,用国产V—2衍射仪对七种不同配方的电瓷进行了矿物鉴定。     

电瓷原料矿物组成的微机处理

对电瓷原料的矿物组成进行了归类和确定了各种矿物的理论化学成分，借助微机可计算各种原料的矿物组成。本工作为配料过程和配方计算的微机化提供了有利条件。     

X射线荧光光谱法测定高铝质耐火材料

介绍了熔融片法XRF测定高铝质耐火材料的方法,测定中存在的矿物效应、颗粒效应通过熔融片而消除,对于共存元素间基体效应采用国家级标样及自制标样以经验系数法校正等手段解决,其分析结果满足了耐火材料制品成分分析的需要.     

利用X射线衍射相定量分析水泥的主要成分

利用X射线衍射分析法分析水泥的几种主要成分 ,检测石膏和硬石膏含量的精确度可以达到± 0 .1% ,检测半水石膏含量的精确度可达± 0 .2 %。因此有必要研发利用X射线衍射分析法 ,达到检测水泥其它成分的目的。     

X射线荧光光谱法测定高炉返粉组分

建立了X射线荧光光谱法测定高炉返粉中化学成分的方法,采用高温熔融法将试样制成玻璃状体,消除了基体干扰;通过对熔样条件、干扰元素、仪器参数、工作曲线拟合方式等方面进行实验研究,确定了最佳分析条件,实现了高炉返粉中主要成分SiO2等8种成分的同时测定,方法具有准确度高、同时测定多元素、分析速度快等特点。     

我国电瓷材料的组成、性能及显微结构

整理和统计分析了80年代以来我国在电瓷材料方面所进行的大量性能试验研究结果、相应产品特性以及制造工艺上的特点;在此基础上评述了我国主要电瓷材料的组成类型、性能水平和显微结构特征、产品性能与制造工艺的关系,并提出了改进电瓷材料特性和产品性能的几点意见.     

电瓷坯料组成与绝缘子材质发展的现状

<正> 一、前言当前世界各国输配电线路、电站及配电系统广泛使用的瓷绝缘子的历史可追溯到1850年。在那以前,最原始的绝缘子是用有机材料制成的,随后也使用过橡胶绝缘子。但是,人们很快发现它们并不适于制造绝缘子,因为当水分浸入绝缘体时,其电气性能将迅速地降低。其后,电力工程上开始使用瓷与玻璃质绝缘子,由此,便发展起来了现代的电瓷工业。瓷绝缘子最初应用在铁道通讯线路上,这一早期的实践导致它们在1880年架设的第一条高压输电线路上的应用。时至今天,瓷绝缘子     

关于电瓷坯料的可塑性测定问题

本文为进一步探讨电瓷坯料的可塑性测量问题,并结合抚瓷情况,对其定义和测试方法等进行了分析和讨论。     

石膏水泥的水化硫铝酸钙的X射线测定

在全苏水利科学研究所(ВНИИГД)的泡沫和绝缘材料试验室里研究一种用于建筑无槽永久性过梁的耐水性混合物,它是以石膏为基础掺入水泥和其它建筑材料得到的。但是,这种外加水泥的石膏砂浆,在硬化时,由于生成水化硫铝酸钙(ГСАК)使其发生开裂。在砂浆尚未硬化时形成的ГСАК所占据的体职略小于各组份占的体积的总和,因此,砂     

弹性模量测定在电瓷配方中的试用

本文简要介绍抚顺电瓷厂几年来应用音频共振法测量电瓷弹性模量,电瓷配方烧成范围及坯料在干燥过程和再吸水过程弹性模量的结果.     

用显微化学法测定矿渣活性

一般說来,矿渣中氧化鈣含量愈多,活性愈大。因此,可以用显微化学的方法通过测定矿渣中的氧化鈣含量,来判断矿渣的活性的大小。用显微化学的方法测定矿渣活性的原理是基于硫酸氫鉀在水中离解成的SO4~(2-)离子与矿渣內睞е手械幕钚訡a~(2 )离子反应生成針状石膏晶体,根据石膏晶体生成的速度和数量来判断矿渣的活性。石膏晶体的生成速度快,而且数量多,則矿渣的活性大。用显微化学法测定矿渣活性的基本操作是先将矿渣样品粉碎成10—40μ粉末。然后用小匙取其少量置于洁净的載玻片上,并盖上大     

西瓷厂电瓷、釉的岩相组成和显微结构

搜集了一些西瓷厂有代表性的电瓷制品及釉,以光学显微技术、电子显微镜及X光衍射线等手段进行了全面鉴定,提出了鉴定结果,为进一步改进生产工艺、提高产品质量、发展新品种,提供参考性的线索。此外,还介绍了,用光学显微技术测定坯釉应力。用干涉显微法测定釉面性质。用数字显示显微镜法测定粒度分布。用超视显微术观测半导体釉的丁铎尔现象。     

X射线荧光光谱法测定硅石中主次量元素组分

以Li_2B_4O_7、LiBO_2和LiF(质量比为45∶10∶5)为混合熔剂,NH_4NO_3为氧化剂,LiBr为脱模剂,熔融制作样片,采用硅质砂岩、石英岩标准样品和配制标准样品作为校准样品,建立了熔融制样-X射线荧光光谱法(XRF)测定硅石中主次量成分(SiO_2、Al_2O_3、TFe_2O_3、MgO、CaO、K_2O、MnO、TiO_2、P_2O_5)的快速分析方法。对样品制备以及分析测试过程中的条件进行了优化,在最优条件下,对标准样品(GBW03112、GBW07835)进行重复测定,相对标准偏差RSD<2%。同时对3个混合配制的硅石标准样品进行分析,结果与参考值无显著性差异。     

X射线荧光光谱法测定纯铝制品中的主要杂质元素

主要介绍了X射线荧光光谱测定铝粒、铝线、铝块等纯铝制品中主要杂质元素的方法。利用光谱标准物质,优化分析条件,建立纯铝制品中各杂质元素的分析曲线,方法精密度好,准确度高,操作简便、快速,能够适应生产快速检验的需要。     

X射线荧光光谱法同时测定矿石中铀和钍

建立了X射线荧光光谱法测定矿石样品中铀、钍含量的快速分析方法。采用高压粉末制样法,对不同含量的放射性样品的压片压力、粒径、含水率、用量等处理条件到进行单因素实验。在400 MPa压力下压制,克服了低压制样的弊端,制备的样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,有效地减少了部分基体效应,铀校准曲线的标准偏差从0.053%降到0.0071%,钍校准曲线的标准偏差从0.062%降到0.0057%。经国家一级标准物质验证,表明方法准确、可靠,能满足样品中铀、钍含量日常分析要求。     

隐形冠军——中材电瓷

正中材江西电瓷电气有限公司(简称中材电瓷)成立于2013年3月,注册地位于江西省芦溪县,注册资本30309.1956万元,截至2017年末,资产规模近5.6亿元人民币,是全球最大的棒形支柱瓷绝缘子企业和国内知名的电瓷专业制造商服务商。主营业务为高压电瓷、复合绝缘子、高压隔离开关等高低压电器产品及用于电气化铁路与城市轨道交通的电器产品及相关技术的研究、开发、生产、销售、技术咨询和进出口贸易业务。