全反射X射线荧光光谱法测定擦拭样品中铀的方法初探

正擦拭样品分析在核保障中具有重要意义,全反射X射线荧光光谱作为一种痕量的非破坏性分析方法,可对擦拭样品进行初步分析,为其筛选提供参考,更方便于制定后续的分析方案。本实验初步探讨了全反射X射线荧光光谱法测定擦拭样品中铀的方法,并对模拟样品进行了测定。实验方法为:配制混合标准铀溶液,加入Pb、Ni、Zr、Fe、Zn、Cr 6种杂质元素,Pb、Ni、Zr在SIMS测铀时有明显干扰,其中Pb、Ni的准确测量可为SIMS测铀微粒时提供有益信息。Fe、     

XRF分析中近距离探测X射线荧光强度计算修正方法

针对圆形探测面的半导体探测器,采用解析几何和角度积分的方法,对采用基本参数荧光强度表达式计算材料荧光绝对计数的方法进行了改进,获得了荧光绝对计数随样品厚度变化的曲线。实验测量不同厚度的铜箔的荧光计数与理论计算结果的相对偏差在6.21%以内,理论曲线与实验数据趋势相符,理论计算荧光绝对强度曲线在基于荧光绝对测量方法的厚度测量中具有一定的应用价值。     

X射线荧光分析漂移校正方法

石墨晶体预衍射X射线荧光分析仪是本单位自行研制的后处理控制分析专用设备，比常规的能量色散X射线荧光多1个石墨衍射器，以排除样品本身放射性的影响，因此，该设备可用于后处理高放废液中U、Np以及部分裂片元素的测量。在例行分析中，通常先建立工作曲线，在以后的测量中不必再测量标准。仪器本身每天都在变化，使工作曲线发生偏离，因此，有必要进行校正。     

地质样品中低量铀的X射线荧光光谱法测定

当前,国内外分析工作中仪器分析都占有相当的比重。六十年代末七十年代初期,国外曾有不少人过高地估价了仪器分析的作用,认为湿法化学分析没有前途,把注意力主要集中到仪器分析上。近年来,通过实践逐步纠正了这种编向。认为不能简单地讲代替二字,他们之间的关系应是互相促进,互相渗透,互相补充相辅相成     

表面弯曲的古陶瓷样品X射线荧光无损定量分析

常规X荧光分析中对样品表面有较高要求，这大大影响了利用X射线荧光法对古陶瓷无损分析的进行，本文提出了基本参数法和经验系数法中的两种较为简单的处理方法，以满足对不同大小和弯曲形状品分析的需要。     

近场条件下X射线位相衬度成像方法及其模拟

近场条件下的类同轴法位相衬度成像具有边缘突出效应，其强度分布与相位分布的拉普拉斯算子有直接关系。在近场成像过程中，成像距离决定了成像质量的好坏。本工作通过一维模拟几种具有特定几何构型样品的菲涅耳衍射图样，得到近场条件下最适宜的成像距离，并通过二维模拟验证了此结论。      

复杂地质样品中铀钍等成分X射线荧光光谱分析

提出了一种用XRF测定复杂地质全分析样品中某些其它成分的分析方法。采用熔融法制备样片,个别元素用压片法制样,用散射内标法与经验α系数相结合的办法进行基体效应的校正。各氧化物的测定下限分别为:SrO 0.0030％,ZrO_20.0030％,PbO 0.0036％,CuO 0.0042％,NiO 0.0027％,ZnO 0.0021％,Cr_2O_3 0.0069％,BaO 0.0048％,As_2O_3 0.0015％,Nb_2O_5 0.0048％,V_2O_5 0.0051％,ThO_2 0.0036％,U_3O_8 0.0030％。其分析结果的精密度和准确度较好,能够满足地质研究工作的需要。     

全反射X射线荧光分析

综述了全反射X射线荧光分析技术的基本原理，装置及特点，介绍了全射X射线荧光分析技术的应用及其前景。     

能量色散X射线荧光分析现场测定地质样品中W钨含量

采用IED - 2000能量色散X射线荧光仪测量化探样品,并对获得的仪器谱进行散射本底扣除和直接解调谱线重建,获得W的Lα特征X射线全能峰净峰面积,从而实现W含量的测量.对同一批化探样品进行室内波长色散X射线荧光分析和野外X射线荧光分析,其分析结果对比表明对能量色散X射线荧光仪进行谱线处理后,可以在野外现场对W元素实现...     

全反射X射线荧光分析法

【《瑞士原子能协会通报》1995年第10期第9页报道】 所谓全反射X射线荧光分析法(TXRF)是传统的X射线荧光分析的改型。它对物体表面具有极高的灵敏度。使用这种方法时,化学元素经X射线激发后产生一种对其具有特征的荧光辐射。为了这一方     

复杂地质样品中铀钍等成分X射线荧光光谱分析

提出了一种用XRF测定复杂地质全分析样品中某些其它成分的分析方法。采用熔融法制备样片,个别元素用压片法制样,用散射内标法与经验。系数相结合的办法进行基体效应的校正。各氧化物的测定下限分别为:SrO 0.0030％,ZrO_2 0.0030％,PbO 0.0036％,CuO 0.0042％,NiO 0.0027％,ZnO 0.0021％,Cr20,0.0069％,BaO 0.0048％,As_2O_3 0.0015％,Nb_2O_5 0.0048％,V_2O_5 0.0051％,ThO_2 0.0036％,U_3O_8 0.0030％。其分析结果的精密度和准确度较好,能够满足地质研究工作的需要。     

同步辐射微束X射线荧光CT的计算机模拟

同步辐射微束X射线荧光CT是一种能无损、高空间分辨和高灵敏地探测样品内部元素含量和分布的新技术,是在建的上海光源(SSRF)硬X射线微聚焦及应用光束线站可开展的实验方法之一.本文简要介绍了同步辐射微束X射线荧光CT的基本原理和实验技术发展,对同步辐射微束X射线荧光CT实验进行了计算机模拟,用滤波反投影算法(FBP)、代数重构算法(ART)和加吸收修正的FBP算法重构了模拟样品的图像.对各种重构方法得到的图像质量进行了分析和比较,讨论了其适用性.     

X射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟

X射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素。本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的X射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点。模拟能谱数据可用于X射线荧光分析的数据处理。     

X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量

采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2 O3、Al2 O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定.采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应.用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准...     

高能X射线探测器射线串扰模拟研究

探测器的串扰噪声会对探测器的信噪比以及高能工业CT的图像质量产生很大的影响。本文利用EGSnrc程序模拟估算了CdWO4探测器模块的串扰噪声,并初步分析比较了影响探测器模块串扰噪声的各种因素。对在实际中选用和设计探测器模块有一定的指导意义,同时为利用软件修正探测器串扰噪声提供了理论计算参数。     

X射线RoHS荧光分析基体效应吸收校正的MCNP模拟

采用MCNP程序模拟RoHS元素荧光分析受基体材料和射线能量的影响。在低浓度RoHS分析中强度和浓度近似为线性关系,不同基体下直线斜率差别很大。对镉的计算表明,荧光强度的差异主要受吸收系数的影响,严重时达两个量级。为改善浓度测量的准确度,引入吸收系数影响因子对荧光强度进行校正,使用同一种标样刻度,可克服不同基体中浓度转换系数变化的影响。     

能量色散X射线荧光分析基本参数法研究

本文介绍了EDXRF中基本参数法原理和计算方法,基于此方法用C语言设计编写了基本参数法的计算程序.通过配制的合金样用该法测定其成分含量,结果表明所测合金样的成分含量与其化学分析结果基本上一致,精确度较高,相对标准偏差不超过1.3%.