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相似文献
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1.
ICP-OES法测定镀铬液中多种金属杂质元素   总被引:1,自引:1,他引:0  
聂西度  谢华林 《材料保护》2012,45(1):69-70,80
为简便而准确测定镀铬液中金属杂质元素的含量,采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)对镀铬液中A1,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Cd,Sb,Pb等杂质元素进行了测定,确定了仪器的最佳工作参数,选择了合适的分析谱线,研究了主量元素cr和共存元素对光谱的干扰情况。结果表明:10种金属元素的检出限为0.15~...  相似文献   

2.
<正>一、测试方法简述电子信息产品中重金属铅的测定依据为GB/T26125-2011。样品铜螺母经过浓硝酸消解后定容,用电感耦合等离子体发射光谱法检测,通过标准曲线求出铅含量。二、主要仪器与试剂1.仪器等离子电感耦合发射光谱仪(ICP-OES),电子天平,超纯水仪。2.试剂铅标准储备液,浓硝酸为65%~68.0%。3.仪器工作参数ICP-OES工作参数:  相似文献   

3.
本文根据电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES)分析速度快、分析灵敏度、准确度和精密度较高、检出限低的优点,在目前常用的分光光度计、原子吸收光谱仪等仪器之外,建立了一种准确、快速、简便的同时测定日用陶瓷器皿中汞、锰等多种金属元素溶出量的测定方法。日用陶瓷器皿经过4%乙酸溶液的萃取,萃取液采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)进行分析,经过大量试验确定了最佳工作条件。采用本方法检测了1000个左右的日用陶瓷产品,及时、准确地提供了金属元素溶出量的数据,结果满意。  相似文献   

4.
对藏香多种重金属元素同时检测的方法较少研究.本文建立了微波消解-电感耦合等离子发射光谱仪(ICP-OES)法同时测定藏香中7种重金属元素(As、Cd、Cr、Cu、Hg、Ni、Pb)的方法.藏香样品在HNO3溶液中120℃加热30 min后采用程序升温在100、120、150、185℃下进行微波消解,消解后的溶液经ICP...  相似文献   

5.
高飞 《福建分析测试》2022,(4):43-46+54
将植株样品用硫酸和过氧化氢消煮后,分别用等离子体发射光谱仪和紫外分光光度计测定全磷含量,并对两种仪器测定所得数据进行分析。结果表明:两种仪器测定植株中全磷结果呈极显著相关,相对相差在0.00~2.60%之间,符合标准要求。且等离子体发射光谱仪测定植株中全磷精确度和加标回收率结果均较好,并具有操作简便、快捷的特点,推荐可用等离子体发射光谱仪进行植株样品中全磷的测定。  相似文献   

6.
《真空》2011,(2)
本单位专业从事材料分析测试,拥有一大批先进进口仪器和专业的技术团队,可对各种材料(有机高分子材料、金属材料、有机溶剂等)进行定性定量分析与性能测试。其中辉光放电发射光谱仪,可对样品进行表面剖析,逐层检测材料表面不同层面上的化学成分以及材料表面覆盖层厚度,可快速检测材料表面或基体中的大部分金属元素与C、N、O、P等非金属元素,检测厚度范围从几十纳米到100多微米。  相似文献   

7.
浓硫酸氧化蒸发预处理柴油、重石脑油后,采用等离子体发射光谱仪(ICP)测定其Fe,Ni,V,Gu,Pb,As等6种微量金属元素的含量。实验结果显示,仪器所建方法线性系数很好,相关系数也达到了0.9996以上,相对标准偏差(RSD)5.0,对两种油类所含6种微量金属元素根据所建标准曲线对比测定,结果发现,这种方法能够有效准确地测定两种油类中微量金属的含量。  相似文献   

8.
研究了ICP-OES法同时测定烟道灰中的镓和锗。试验确定了以(HF+HClO4)溶解样品,讨论了分析谱线的选择,干扰及其校正。试验对仪器的功率和工作气体流量等条件进行了优化,建立了分析方法。结果表明,两种元素的回收率为97%~103%,相对标准偏差为0.79%~2.45%,方法简便、快速、易行,完全满足分析的需要。  相似文献   

9.
《真空》2014,(1)
正本单位专业从事材料分析测试,拥有大批先进进口仪器和专业的技术团队,可对各种材料(有机高分子材料、金属材料、有机溶剂等)进行定性定量分析与性能测试。其中辉光放电发射光谱仪,可对样品进行表面剖析,逐层检测材料表面不同层面上的化学成分以及材料表面覆盖层厚度,可快速检测材料表面或基体中的大部分金属元素  相似文献   

10.
《真空》2014,(2)
正本单位专业从事材料分析测试,拥有一大批先进进口仪器和专业的技术团队,可对各种材料(有机高分子材料、金属材料、有机溶剂等)进行定性定量分析与性能测试。其中辉光放电发射光谱仪,可对样品进行表面剖析,逐层检测材料表面不同层面上的化学成分以及材料表面覆盖层厚度,可快速检测材料表面或基体中的大部分金属元素与C、N、O、P等非金属元素,检测厚度范围从几十纳米到100多微米。本中心在真空镀膜检测领域  相似文献   

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