共查询到15条相似文献,搜索用时 109 毫秒
1.
2.
将射流电铸与快速成型技术有机结合起来,发展了一种直接快速成型金属零件的新方法--射流电铸快速成型技术,并分析了其成型原理与系统结构组成特点.基于Windows平台,采用NC嵌入PC的结构模式构建了其计算机控制系统,对该控制系统的软硬件组成、结构和功能特点进行了分析和研究,并用研制开发的射流电铸快速成型设备直接快速成型了具有良好形状和尺寸精度的金属铜零件. 相似文献
3.
4.
5.
6.
金属微结构阵列的电铸成型 总被引:1,自引:0,他引:1
在分析微细电铸的电场与流场特性的基础上,深入研究了铸层厚度的不均匀现象及搅拌方式和电流密度对微细电铸质量的影响.由于高深宽比胶膜的存在,单一搅拌对电铸区域的影响只集中在微区的入口部分,扩散过程成为金属沉积的限制性因素;随着胶膜深宽比的增大,电场等势线弯曲的程度加大,导致电铸微区内金属离子传输能力不均匀.实验表明:微细电铸过程中,搅拌速度提高并不能改善金属沉积的传质条件,辅助超声的复合搅拌在相同条件下能提高金属沉积速度,减少铸层缺陷;最佳电流密度不宜超过0.9~1.0 A/dm2.基于该项技术,实现了高分辨率、侧壁陡直金属微结构的电铸成型. 相似文献
7.
微电铸中电流-流体耦合的数值分析及实验 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了LIGA/UV-LIGA的核心技术微电铸的内在规律,对影响铸层生长的阴极电流密度和流体流场进行了数值分析.以微流控芯片微模具上的十字电铸层为研究对象,建立了微电铸的数学模型.给出了描述微电铸体系电流密度和流体流场的偏微分方程,运用有限元法对微电铸体系进行三维数值仿真,得到了电流密度分布和流体流场分布的数值结果.选择十字铸层上的测量点,由该点处电流密度和流体流速仿真数据计算出微电铸4 h的铸层生长高度仿真值,并与相同工艺条件下的微电铸实验铸层生长高度进行对比.结果显示,对应各测量点微电铸生长高度仿真值和实验值的变化趋势接近,绝对偏差小,最大绝对偏差为4.437 μm,最小绝对偏差为0.264 μm.实验表明这种数值仿真方法适用于微电铸工艺设计的辅助分析,可缩短微电铸工艺的开发周期. 相似文献
8.
9.
详细讨论了微结构的电铸特点,在分析微细电铸的电场与流场特性的基础上,深入研究了铸层厚度的不均匀现象及搅拌方式、电流密度对微细电铸质量的影响。得出:由于高深宽比胶膜存在,单一搅拌对电铸区域的影响只集中在微区的入口部分。扩散过程成为金属沉积的限制性因素;随着胶膜深宽比的增大,电场等势线弯曲的程度加大,导致电铸微区内金属离子传输能力不均匀。实验表明:微细电铸过程中,搅拌速度提高并不能改善金属沉积的传质条件,辅助超声的复合搅拌在相同条件下能提高金属沉积速度、减少铸层缺陷;最佳电流密度不宜超过0.9~1.0A/dm2。实现了高分辨率,侧壁陡直的金属微结构的电铸成型。 相似文献
10.
11.
12.
采用超声-脉冲电铸工艺在覆铜板表面的微区域内制备了镍铸层,用扫描电镜观察镍铸层的表面形貌,并采用Image Tool软件测量了镍铸层的平均晶粒尺寸,研究了超声波功率及方向、脉冲平均电流密度、脉冲占空比等对镍铸层晶粒尺寸的影响。结果表明:其他条件相同时,双向(y向和z向)超声波制备镍铸层的晶粒尺寸小于相同功率单向(y向或z向)超声制备的;随着超声波功率、脉冲平均电流密度的增大,镍铸层的晶粒尺寸先减小后增大;当脉冲占空比由10%增大到30%时,晶粒尺寸由0.97μm增大到3.32μm。 相似文献
13.
电铸和半导体薄膜电沉积的发展和应用 总被引:1,自引:0,他引:1
主要总结了电沉积制造中电铸和半导体薄膜的原理及其应用。首先分析了电铸的电流密度、波形、溶液运动形式等主要影响因素的作用机理和目前研究状况。接着分析了电铸不均匀的原因,验证了用机械搅拌的方法可提高沉积层的均匀性。然后介绍了电铸和半导体薄膜技术在近年来的最新应用成果,包括半导体薄膜材料、LCD彩色滤光片。最后预测了该行业的发展趋势。 相似文献
14.
硬质粒子摩擦法电铸新技术的研究 总被引:6,自引:0,他引:6
提出一种新型的硬质粒子摩擦法电铸技术,从理论上深入探讨了硬质粒子摩擦法电铸技术的沉积机理,并通过金属镍的电铸试验加以验证。理论分析和试验结果表明:硬质粒子摩擦法电铸技术在阴阳极之间引入硬质粒子,并通过电铸芯模的旋转,带动硬质粒子运动,使其不断摩擦、撞击阴极表面,能有效地去除沉积层表面的吸附气泡和积瘤,获得表面平整光亮的电铸层;通过减薄扩散层和扰动结晶过程,能细化晶粒,提高电铸速度。研究结果显示,硬质粒子摩擦法电铸技术在回转体类薄壁零件的电铸成形中有实用价值。 相似文献