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相似文献
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1.
欠平衡条件下深侧向测井响应校正方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
欠平衡钻井和欠平衡测井技术对于直接发现和保护油气层、提高单井产能和勘探开发成功率具有非常重要的意义。欠平衡测井时的井口装置与常规测井有很大的差别,需要对双侧向测井仪器的加长电极进行改造,使其长度缩短,以适应井口装置的长度,这一改造使得深侧向测井值明显降低,不能真实反映储集层电性。应用有限元素法计算了欠平衡条件下深侧向电极系系数随加长电极长度的变化规律,即加长电极越长,深侧向电极系系数越小。建立了欠平衡条件下深侧向测井响应的校正方法,并应用实际测井资料验证了校正结果的可靠性。该方法适用于任意长度的加长电极,可直接用于现场测井资料的预处理,校正后的深侧向测井电阻率可用于测井解释建模和油气定量评价。图9参18  相似文献   

2.
用钻杆输送双侧向测井仪进行水平井测井,当钻杆不通电时,浅侧向的探测深度达不到钻杆位置,钻杆处于零电位区,对浅侧向响应不会产生影响;深侧向的仪器位于低阻层,钻杆所处位置的电位较高,对深侧向响应将产生影响。当钻杆作深侧向回路电极时,用计算出的带钻杆加长电极系系数刻度可将钻杆影响归结为仪器固有特性,测井响应则可不另外考虑钻杆影响。  相似文献   

3.
EILog高分辨率双侧向井眼影响及校正效果分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
高分辨率双侧向测井仪(HRDL)是EILog测井系统中重要的常规测井仪器之一.该仪器在保持常规双侧向测井探测深度的基础上,具有电极系短、纵向分辨率高(0.4 m)、易于现场组合测井等优点.但是,高分辨率双侧向过聚焦工作原理使得井眼影响复杂,在低电阻率地区井眼影响非常严重,深、浅侧向测量值往往高于常规双侧向测井测量值,必须进行有效的井眼校正.电极系特性不同,高分辨率双侧向经过井眼校正后的曲线与常规双侧向接近,局部会有差异.除视电阻率外,井径和泥浆电阻率是井眼校正中的2个关键参数.通过对高分辨率双侧向测井井眼校正图版分析,说明低电阻率区块进行井眼校正的必要性,给出仪器理论地层模型低电阻率测井响应对比.利用最优化方法分段拟合的井眼校正算法已集成到地面采集软件中,并且可以进行全井段实时校正.在大部分低电阻率地区,深、浅侧向测量曲线经过有效的井眼校正,可以明显改善测量曲线的质量.  相似文献   

4.
本文介绍了新一代侧向井仪:方位电阻率成象、该测井仪右在井眼周围进行深探测方位电阻率测量,其纵向分辨率高于双侧向测井。它将12个方位电极装入DLL电极系,保留深侧向和浅侧向测量的同时,提供12条深探测方位电阻率曲线,由装在方位阵列上的浅探测辅助测量作方位电阻率的井眼校正。  相似文献   

5.
将双侧向测井(DLL)电极系的一小段近似看成一点电极,则电极系在空间任一位置产生的总电位为各点电极电位沿电极系求线积分,考虑到电极系电流密度分布的均匀性,计算了深、浅侧向的电极系系数,其计算值与实验值的相对误差分别为3.1%和6.8%。在水平井中,假设电极系轴平行于地层界面,忽略井眼和侵入带的影响(春影响另行考虑),利用镜像法求解的结果表明:对于两层模型,邻层对深侧向(LLd)的影响明显大于浅侧向  相似文献   

6.
在以往双侧向电极系数学物理模型的基础上,本文提出了新的更符合实际测井情况的双侧向电极系数物理模型。文中利用计算机模拟,分析了N电极位置对双侧向电极系系数K值的均值和非均值以及对探测深度间的影响,为双侧向测井资料的解释提供了理论分析依据。  相似文献   

7.
以粒度中值、孔隙度、地层电阻率为中间参数,建立自然伽玛、声波、密度、双侧向电阻率测井数据与未损害区、损害区地层渗透率的数学关系;计算污染半径可以用三种方法,一是以谭氏方法为基础,建立污染半径与深浅侧向测井电极系数及冲洗带、深、浅侧向电阻率、工作流体实测井径的函数关系。二是以雍氏方法为基础,建立污染半径与深、中感应、微球形聚焦电阻率及深感应、浅聚焦侵入带几何因子的函数关系。三是以图版法为基础,建立污染半径与深浅双侧向、微球形聚焦电阻率及井眼半径的函数关系。根据实际资料相关性选择不同的方法;井半径由井径测井直接测得。由此,储层伤害表皮系数可以表达为含有待定系数的自然伽玛、声波、密度等的常规测井数据。为利用测井信息计算表皮因子提供了可能。  相似文献   

8.
倾斜地层的双侧向测井响应   总被引:9,自引:2,他引:7  
汪涵明  张庚骥 《测井技术》1994,18(6):408-412
利用三维有限单元法来模拟倾斜地层的双侧向测井响应,结果表明,在地层倾角小于15°的范围内,双侧向测井响应几乎不受倾角的影响;当地层倾角大于等于15°以后,随着地层倾角的增大,双侧向测井响应曲线在地层界面附近的分辨率将越来越低。地层倾角对深侧向测井响应的影响比对浅侧向测井响应的影响大;在薄层中点处,地层倾角对双侧向测井响应的影响不容忽略。  相似文献   

9.
方位电阻率成像测井仪ARI   总被引:1,自引:0,他引:1  
姚伟 《石油仪器》1996,10(4):29-32
文章介绍一种新型的倾向测井仪器-方位电阻率成像测井仪(ARI),这种仪器比侧向测井(DLL)有更高的垂直分辨率,并用围绕井眼得到深的方位电阻率测量值,在双侧向电极排列中结合12个方位电极,提供12个深的,定向的电阻率测量,而保留标准的深和深和浅的侧向测井,并在方位阵列中结合一种浅的辅助测量,使得方位电阻率测量的井眼影响得到完全的校正,这种仪器还具有对不均质和裂缝地层进行地层评价和裂缝倾角计算的成像  相似文献   

10.
双侧向测井仪器的聚焦电路是决定双侧向仪器能否满足测井要求的电场条件的关键所在,它不但决定着仪器测量数值的准确程度,而且影响深、浅测量数值之间的差异性质。文章针对双侧向的模拟聚焦方式展开讨论,并给出几种聚焦方案的对比结果,为双侧向测井仪器模拟聚焦电路 的设计及仪器选型提供参考。  相似文献   

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