超细粉末粒度分布的X光小角散射分析

相应于超细多分散系的X光小角度散射强度,提出了精确而简便的解析方法——分割分布函数法。该方法把积分方程转化为线性方程组,通过求解相继给出粒度直方图,百分组成、平均粒度、比表面和分布宽度等特征参数。借助于YHP-97小型计算器,只需数分钟即可解印出全部结果。解算所要求的特定角度下的散射强度,也由相应的自动化测量给出。     

X射线小角散射法测量纳米粉末的粒度分布

在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量了ZnO、ZrO2、Fe和Al2O3纳米粉末的粒度分布。测量结果与专用X射线小角散射仪器的测量结果一致，并经TEM分析验证。证明在常规高分辨X射线衍射仪上应用小角散射法测量纳米粉末的粒度是可行的。与采用四狭缝系统或Kratky狭缝系统的专用小角散射仪相比，该方法的特点是操作简单，成本较低，易于推广。目前此法可测量1～300nm范围的粉末粒度。     

中华人民共和国国家标准超细粉末粒度分布的测定X射线小角散射法

中华人民共和国国家标准超细粉末粒度分布的测定Ｘ射线小角散射法Ｕｌｔｒａｆｉｎｅｐｏｗｄｅｒ—ＤｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎｏｆｐａｒｔｉｃｌｅｓｉｚｅｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎＳｍａｌｌ－ａｎｇｌｅＸ－ｒａｙｓｃａｔｔｅｒｉｎｇｍｅｔｈｏｄ￥／／ＧＢ／Ｔ１...     

X光小角散射,分割分布函数法测定超细粉末的粒度组成

本文基于圆球粒子系散射方程,将粒度范围分割成区间,各区间的粒度分布近似取同一值,积分方程转化为线性方程组。用小角测角仪,在固定角测定散射强度,由方程组求解出1～300nm范围内的粒度组成。还对相干效应和湿度影响等问题作了若干探讨。     

X光小角散射理论的研究

在改进原有实验条件的基础上，通过对原有X射线的小角散射理论进行修正及合理简化，从而建立了新的数学模型。并借助计算机进行数据处理，大大地提高了数据处理的效率。实验中通过接装角度显视仪，使我们能精确地测定出散射的角度，并在该角度下延时测量散射强度。有效地解决了样品薄所带来的散射强度弱的问题，提高了角度测量的精度。同时也为理论研究提供了可靠的依据。通过对比，新的数据处理方法与其它数据处理方法得到的结果吻合。这证明了该数字模型的可靠性和实用性。     

超细粉末粒度分布的X光小角散射分析(Ⅲ)——分割分布函数法求解的稳定性

分割分布函数法是以x光小角散射数据计算超细粉末粒度分布的方法之一。本文通过优化系数矩阵、另加阻尼因子以及最小二乘法处理,对分割分布函数法求解稳定性进行了研究。全部演算在计算机上完成。结果表明,当满足相应条件时,所求粒度分布的平均偏差不大于所测散射强度的误差。     

ISO/TS13762《粒度分析———X射线小角散射法》出版发行

早在 2 0世纪 60年代 ,钢铁研究总院就致力于纳米粉末及其制品的研究。有关纳米粉末和相应元器件的制备都实现了产业化 ,为我国的军工事业作出了重大贡献。与此同时积极开展了纳米粉末的测试和表征工作 ,建立并不断完善了关于纳米粉末粒度分布的Ｘ射线小角散射分析方法。该方法适用于测定颗粒尺寸在 1～ 30 0ｎｍ范围内超细粉末的粒度分布 ,也可用于无机、有机溶胶以及生物大分子粒度的测定。它制样方法简便 ;所测定的结果既非晶粒也非团粒而是一次颗粒尺寸 ;一次参与测定的颗粒数高达数百亿个 ,在统计上有充分的代表性。近年来又研究开发出…     

国家标准《纳米粉末粒度分布的测定-X射线小角散射法》获中国标准创新贡献奖

由中国有色金属工业协会提出。钢铁研究总院张晋远、柳春兰、郑毅、方建锋、朱瑞珍、金成海等起草的《纳米粉末粒度分布的测定-X射线小角散射法》国家标准GB/T13221-2004,日前经中国国家标准化管理委员会和国家质量监督检验检疫总局审评,荣获2006年中国标准创新贡献二等奖,为推动中国标准的创新做出了突出贡献。纳米标准化是一项面向全新领域、具有前瞻性的标准化工作,涉多学科、多领域。纳米材料标准的研究与制定,目前世界各国正处在起步阶段,我国纳米材料标准化工作于2001年正式立项启动。2004年9月,国家发布了首批7项纳米材料和检测方…     

激光散射法测量粒度及其分布

一、前言在常用测量粒度方法中,X 射线法、电子显微镜法所测之数据精度较高,但制样及操作困难,速度慢且设备复杂,只适于研究工作应用。比表面法、空气透过法等虽操作较方便,但测量精度低,只能测粉末的平均粒度。沉降法等虽能测粒度分布,但速度较慢。上述各种方法的共同缺点是不能或不适于联机使用,因而使用范围有局限性,不便于在工业上进行高精度的快速检测。激光散射法(简称散射法)既可测单个粒子,也可测粒子群,可测项目包括:粒度及其分布、颗粒形状、面平均直径、体平均直径、面直径标准偏离、粉粒的质量分布,等等。本方法既适用于研究工作,也     

中华人民共和国国家标准 金属粉末粒度分布的测定——光透法

本标准规定了用光透法测量金属粉末的粒度分布。本标准的粒度测定范围一般为1～100μm。对于给定的所测粉末与测定中所用的液体介质,可测的粒度范围,其上限由斯托克斯公式适用的层流条件(即雷诺数Re<0.25)具体决定,下限则受布朗运动干扰的影响所制约。     

X光消光沉降法测定粉末粒度分布

Ｘ光消光沉降法测定粉末粒度分布南昌硬质合金厂敖敏目前国内外颗粒分析仪器种类繁多，据有关资料表明，国内不下４０多种，国外数量更多，这些仪器及方法各有其特点和生存空间。本文就粉末粒度分布介绍一种新的测试方法──Ｘ光消光沉降法，又称Ｘ光衰减沉降法，本方法在...     

小角X射线散射法对GH4096高温合金中γ'相的尺寸分布分析

通过物理化学相分析的方式,电解提取了5种冷却速率下生产的GH4096高温合金在高温蠕变前、后的γ'析出相,并制样以后进行小角X射线散射(SAXS)分析,得到了γ'析出相的尺寸分布,辅以扫描电子显微镜(SEM)手段,比较了5种冷却速率对γ'相析出的影响以及经高温蠕变后γ'相所发生的变化。研究结果表明:不同的固溶冷却速率对γ'析出相的尺寸分布存在影响。较慢的冷却速率使得γ'析出相在较小过冷度时长大,而在较大过冷度时又大量析出,各个尺寸段的γ'析出相质量分数分布相对平均,没有含量特别高的某一段。较快的冷却速率,析出的γ'相尺寸相对较小,且尺寸较为接近。绝大部分γ'相都分布在10～96 nm之间。经过高温蠕变以后,不同冷却速率下制备试样的γ'相平均尺寸和尺寸中位数不同程度地变大。经高温蠕变后,γ'析出相的尺寸分布也发生了一些变化。冷却速率相近的3个试样经过高温蠕变过程后,60～96 nm尺寸范围段的γ'析出相质量分数显著大于其他段,而36～60 nm尺寸范围段的γ'析出相显著减少。冷却速率最快和冷却速率最慢的试样经过高温蠕变后,200～300 nm尺寸范围段的γ'析出相质量分数都较大幅度增加,但发生减少的尺寸范围段不一样。SAXS法得到的数据有统计性意义和趋势性,未来结合图像法的定量结果相互印证可以展现更好的γ'相形貌,助力材料研究。     

氟化铝粒度分布的测定--筛分法

选用顶击式振筛机及拍击式振筛机对氟化铝粒径分布进行测定,通过试验确定了合适的筛分时间,同时对用筛尺寸进行了推选。采用该法测定数据稳定,重现性好。     

金属粉末粒度分布测定——光透法国家标准(草案)通过审定

光透法是一种基于沉降原理,即利用一束平行光透过悬浮液时产生的光的衰减进行粒度分布测量的方法。由国家标准总局和冶金部标准化研究所授命上海钢铁研究所负责起草的金属粉末粒度分布的测定——光透     

单粒子光读法测定金属中夹杂物粒度分布

Fe—10％Ni—0．2％M(M为Ti和Al)及Fe—10％Ni—0．025％Al—0．1％Ti—0．02％N合金，经化学或电解提取，用单粒子光读法超定了过滤薄膜上氧化或氮化物夹杂的空间粒度分布。用单粒子光读法超定的粒度分布，与用带电子探针微区分析的扫描电镜，三维观测过滤器薄膜上的粒子得到的结果进行了比较。由单粒子光读法和带电子探针微区分析的扫描电镜超出的粒子体积分数和化学分析计算出的体积分数进行了比较。发现，尤其是在检阅dv＞5μm的粒子粒度分布时，单粒子光读法要比带电子探针微区分析的扫描电镜观超法优越。     

X-射线小角散射法测定钢铁及合金中析出相的粒度

对钢铁及合金中各种不同粒度析出相的电解提取和化学分离方法、X-射线小角散射法测定析出相粉末的测定条件进行了研究,优选了各种测定参数,从而建立了钢铁及合金中多种析出相粒度分布分析方法。该方法被广泛应用于各种高温合金、中低合金钢、微合金化钢中碳化物、金属间化合物的粒度尺寸分布的测定。结果发现,随着回火温度的增加,低合金钢中的M3C相的数量增加,但粒度变化不大,当回火温度升至700℃时,M3C相分解而使平均粒度增加;在含铬的中低合金钢中,析出的M23C6相的粒度随时效温度的增加而增加,而MC相的粒度无明显变化;     

高纯三氧化钼激光粒度分布的测定与分析

用扫描电镜观察了高纯三氧化钼的形貌，高纯三氧化钼是长条状的单颗粒聚集成的团聚体。用激光粒度仪的干法测定了高纯三氧化钼团聚体的激光粒度分布，用水作分散剂测定了高纯三氧化钼分散体的激光粒度分布，结果表明高纯三氧化钼的激光粒度分布值与电镜测量的颗粒及颗粒团尺寸一致，这样的测试方法能全面正确地反映高纯三氧化钼粒度的特征。讨论了高纯三氧化钼激光粒度分布对后续的还原过程及钼粉质量的影响。     

光透法测试粉末粒度计算方法的改进

经改进的光透法测试粉末粒度计算方法的原理是:同种粉末各不同粒径颗粒在特定的条件下有它固定的沉降高度。把这个固定的沉降高度制成"温度-沉降高度曲线板",使曲线板上各点依次对应于由仪器记录下来的粉末沉降曲线。这样,可以很简便地读出所需各粒径的透光量。此方法省去了为确定被测试粉末所需各粒径的沉降高度而进行的繁琐计算过程,可节省计算及采集数据点时间的80%左右,且精度高、差错少。