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论述了透射式特征X射线测厚原理,并对样机的硬件组成特征X射线发生装置、X射线探测器、数据处理器和监控软件进行了介绍.通过对测厚样机的实验测试,结果显示测量较薄物质时测厚仪反应灵敏,测量精度较高,相对误差在±5%以内,达到设计要求. 相似文献
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由于设计的需要,利用铜靶、铁靶进行了特征X射线的产额与靶源的距离、靶源夹角关系的实验研究,当靶源距离越近、靶源夹角为70°时产生的特征X最多;在实验基础上设计了射线产额高,体积小、质量轻,靶片转换方便的特征X射线发生装置。 相似文献
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本文介绍了测量金属及非金属材料厚度的测厚电离室系列的原理、结构及各种性能。它们可以用来测量10-6000g/m~2的各种薄材料厚度以及复合材料表面层的厚度,也可以测量不大于32kg/m~2钢板的厚度。 相似文献
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X射线板带材凸度检测系统采用双X射线源和双排充气电离室探测器,对热轧生产线上的钢板进行厚度和凸度等参数的检测,X射线的能量和强度是决定钢板测厚精度的重要因素。为了保证测量精度,本文依据国标GB/T15636—2008假定由统计涨落引入的测厚误差应小于±0.06%,在X光机管电压为180kV、电流为11mA的情况下,从理论上估算了满足以上精度探测器输出的最大相对标准偏差,通过实验对测厚范围内的钢板进行测量,计算出各路探测器输出在不同厚度钢板时的相对标准偏差。实验结果表明,在满足系统测量速度的情况下,通过对几个原始数据进行平均,可使统计涨落小于理论估算值。X光机设置的管电压和管电流参数满足测厚精度的要求。 相似文献
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介绍在北京同步辐射装置上进行的国内首次LLL型X射线干涉实验研究,在X光底片上观察到了Moire干涉条纹,为进一步利用X射线干涉技术实现纳米测量打下了初步基础。 相似文献
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本介绍北京同步辐射装置(BSRF)小角X射线散射实验站实验数据的初步处理方法,即由成像板探测器检测到的散射信号转换成角度及其对应的强度数据的方法,并对数据转换过程中可能遇到的问题进行了详细的讨论. 相似文献
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介绍透射式X射线胶管壁厚测量系统,并提出了一种数据处理方法,对获得的一维图像数据线性化后进行拟合,给出了实际数据和仿真数据的处理结果。 相似文献
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本文基于COMET公司MXR225/22型X射线管,使用高纯锗探测器测量了X射线管大、小焦点几种管电压的X射线原始谱,并测量了小焦点下的初始透射谱,在此基础上测量了X射线穿过几种不同材质(铝、钛、铁和铜)吸收片的透射谱。结果表明:X射线管大、小焦点能谱近似相同,低能端X射线比重较大,原始谱中包含铜、银、钨和铅元素的特征峰;初始透射谱低能端硬化明显,并随着管电压升高,高能端所占比重增大,钨特征峰变得明显,X射线平均能量升高,能谱的X射线强度最大区域在最高能量的1/3附近;金属吸收片对X射线硬化明显,硬化效果强烈依赖于其原子序数。相关结果已在工业CT硬化校正中应用,重建图像质量得到改善。 相似文献