微型计算机控制的芯片自动测试系统

一、概述用电子计算机或微型计算机实现对集成电路芯片的自动测试,是提高集成电路芯片测试效率的重要手段。以前,集成电路的计算机辅助测试,大多采用中小型电子计算机来实现,这不仅成本高,而且可靠性也低,不易维护与使用。由于微型计算机具有高可靠性,使用灵活,结构简单,功耗小,成本低廉的优点而日益广泛地应用于各个领域,在集成电路自动测试方面,也采用了微型计算机控制。中小规模集成电路芯片的自动测试,对计算机的要求并不高,只要有一定的输入输     

数字集成电路的微机控测系统

本文论述了用ＭＣＳ－５１系列单片微机控制的数字集成电路，ＡＤＣ器件、ＤＡＣ器件，集成运放的测试原理。介绍了硬件结构整体设计和软件流程设计，研制成功的样机与其它同功能的测试系统相比，具有体积小，重量轻，扩展容易、测试范围宽、成本很低、操作方便和可靠性高等优点。是一种性能／价格比高的便携式测试仪。     

功耗约束下的3D-SICs测试调度优化算法

提出了一种功耗约束下的三维堆叠集成电路(3D-SICs)测试调度优化算法。该算法在功耗约束下,协同优化了测试应用时间、TAM总线带宽和测试硬件开销。通过采用ITC’02标准电路中的d695和p93791做应用验证,结果表明该算法将测试应用时间分别减少为91.25%和93.11%,证明算法能有效地减少测试应用时间,降低测试成本。     

21世纪新型三维集成电路

２１世纪新型三维集成电路日本《日经产业新闻》报道，电气公司最近研制成功一种有６层结构的三维集成电路。它采用首先分别制成２块集成电路，然后再把它们粘贴起来的独创加工工艺，成功地缩短了制造时间周期．提高成品率而降低了成本。（林万孝）21世纪新型三维集成电路...     

基于联合分类的有效测试模式重选方法

针对目前集成电路测试复杂度的不断增加,导致测试成本不断攀升的问题,提出一种可靠而有效的测试集优化方法。通过k均值(K-means)聚类对原始测试集中的特征进行聚类筛选,然后采用改进的mRMR算法,分段式引入特征之间冗余性权重因子,用以权衡特征相关性和冗余性的度量,同时插入了SVM交叉验证,强化了测试模式选择的准确性。在保证故障覆盖率基本不变的情况下,达到减少原始测试集维数的目的。对ISCAS89电路实验表明,该文方法将原始测试集的测试模式进行大量的精简,既保证测试质量,也极大地优化了测试集,进行冗余消除和排序后的测试流程缩短了40.43%的测试时间,提升了测试效率,降低了测试成本。     

基于确定性测试集的数字集成电路随机测试

提出了一种基于确定性测试集的数字集成电路随机测试生成方法。通过确定性测试集的分类及随机化，该方法能生成高性能的随机测试多权集。和平凡随机测试及采用单权集下的随机测试相比，采用文中的方法在压缩测试长度的同时还可获得较高的故障覆盖率。对标准电路的实验验证了该加权集生成算法的有效性，此方法对组合电路和时序电路以及对大规模集成电路的内测试和外测试皆试用。     

彩电IC参数的快速测试模型

在工业界中使用的ＩＣ自动测试系统（ＡＴＥ）,必须具有快速测试ＩＣ参数的特点。结合作者在ＡＴＥ系统设计中所做的研究工作,建立了彩色电视集成电路中ＡＦＴ灵敏度和调谐放大器中谐振回路参数的测试数学模型。这两种数学模型经误差分析和实际使用,均证实了在不增加硬件成本条件下,保证系统测试精度又有效地提高测试系统的测试参数的速度。     

专用集成电路入检测试系统

专用集成电路入检测试系统是根据《专用集成电路入检测试系统研制要求》的设备用途。被测对象的主要技术指标．测试系统的组成、功能殛主要技术指标制定。通过引入通用测试仪表组,运用GPIB总线控制等方法。开发研制了集成电路入检设备．该设备可对混合集成电路模块在常温条件下的技术指标进行测试。     

数字集成电路的混合模式内建自测试方法

为以较少的硬件和测试时间开销获得对被测电路测试集的完全覆盖，提出一种基于扫描的数字集成电路混合模式内建自测试方法。通过对用作伪随机测试激励的线性反馈移位寄存器（LFSR）的结构和初态的选择以提高故障覆盖率和减少测试时间，对上述伪随机测试中未能覆盖的故障，采用一种不用存储来生成确定性测试矢量的方法。对标准电路的实验证明可获得较高的测试效率，特别适合数字集成电路的内建自测试。     

用双向扭转圆柱组合螺旋弹簧实现扭矩测试

利用单个圆柱螺旋扭转弹簧扭转原理，给出了一种用双向扭转圆柱组合螺旋弹簧实现扭矩测试的方法。根据扭转弹簧模型，给出了预紧力、加载的证明，并对实验结果进行分析；该结构用于扭矩测试系统既实用可靠，又简单易加工；降低了测试系统的成本，具有很高的实用价值。     

减小A/D转换中非线性误差和噪声电平干扰的直接补偿法

介绍一种通过直接补偿法抑制 A/D转换过程中非线性误差噪声电平的方法 ,当模拟信号中混入噪声时 ,该方法能够很好地抑制干扰信号 ,提高A/D转换结果的精确度 .该方法特别适用于减小转换过程中的高次谐波的噪声干扰 ,文中给出计算机仿真和实验测试结果     

提高A/D转换速度的方法

数字仪表及单片机测控系统中,A／D变换是不可缺少的环节。对于模拟量变化较快的系统,A／D变换速度也相应要求快些,才不至于丢失信息。然而A／D变换速度和成本是矛盾的。本文试以MSP430F11X1系列单片机为例,探讨以较低成本提高A／D转换速度的方法。     

数模转换过程中的频谱失真及其校正方法

建立了D／A转换器的数学模型，分析了D／A转换器将数字信号转换为模拟信号时产生的频谱失真，导出了频率补偿网络的传递函数，利用频率采样法设计了FUR型频率补偿数字滤波器，给出了校正实例。     

液晶显示器的多极驱动方式

本文阐述了液晶显示器(LCD)的主要技术特性与驱动方法,重点论述了LCD的多极驱动方式,并结合一种以三极方式驱动LCD的单片4(1/2)位A/D转换器,讨论了三级驱动方式在该A/D转换器中的应用     

电源功耗自动测试

介绍了一种基于EPP接口的电源功耗自动测试电路的设计方法。采用了以A／D转换器ICL7109为核心及桥式L／V变换的硬件电路，通过EPP接口与计算机连接，由LabWindows／CVI实现电源功耗的自动测试。详细介绍了硬件设计原理及软件测试流程图，并给出了部分程序代码。最后通过手动和自动测试结果的比较，说明了自动测试精度满足要求，对实际工程应用具有参考价值。     

基于PWM的电流输出数模转换电路

介绍了基于微控制器的PWM实现D/A转换的原理,在此基础上提出了以4～20 mA电流形式输出的数模转换电路的设计方案,并对转换电路的实现进行详细的理论分析.电路仿真及实际测试数据分析表明,提出的设计方案具有廉价、精度及分辨率高的特点,非常适合应用于自动化仪表中对D/A精度、分辨率、成本要求较高的开发过程.     

输液器温控装置中用2051单片机实现A/D转换

由于单片机所处理的信号是数字信号,对模拟电压信号进行检测处理时首先要用A/D转换器件对其进行A/D转换,然后再进行处理.本论文利用89C2051系列单片机内部独特的结构,不用A/D转换器件即可实现A/D转换,尽可能地降低成本和简化电路结构,并对其测量范围及转换精度进行分析和讨论.     

D／A转换器叠加提高分辨率方法研究

通过对两片D／A转换器叠加使用效果的研究，介绍一种采用低分辨率DA转换器构成高分辨率DA转换器的方法。     

显微物镜光学传递函数测定中的几个问题

本文首先综述了显微物镜像质评价检验方法。提出用狭缝直接对星点衍射像进行线扩散函数抽样,把抽样数据送到电子计算机进行包括傅立叶变换在内的数学运算,得到光学传递函数的一种方法。本文介绍仪器的结构、星点衍射像的形成及其强度分布测定的有关问题。最后介绍了研制成的仪器性能的测试方法及测试结果。     

A survey on the dynamic characterization of A/D converters

This article presents the different ways used to characterize A/D converters through the “CanTest System” test bench and its functionalities. The different ways used to characterize A/D converters dynamically could be organized into three parts: time domain, statistical and spectral analysis. The most commonly used algorithms in time domain analysis are presented. Due to instrumentation error, some may give “inaccurate” results. We explain why and propose a new method based on a direct estimation of conversion noise to avoid this problem. The different methods and applications linked to statistical analysis are also described. We explain the three different methods used to measure the differential non-linearity (DNL) and the integral non-linearity (INL). A comparison between these three algorithms in simulation and through an experimental case shows that their behaviours differ when the histogram presents edging effects. The final study presented in this paper concerns the A/D converter performance evaluation by analysis in frequency domain. From the output power spectrum, relationships are given for the computation of all spectral parameters. We present a correction to include in the computation of spectral parameters when the analog input does not span the entire full-scale range of the A/D converter under test. When the input generator provides a sine wave with harmonics, we propose the “Dual-Tone” method in order to separate the distortion associated with the component and the one associated with the generator. In the last part of this paper, we describe the test bench giving its specifications (acquisition system, frequency range,…). Some typical measurements and comments about the interest of analysis in different modes are given also.