双应力交叉步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真

为进一步缩短试验时间,实现产品可靠性的快速评定,在综合应力加速寿命试验优化方案设计的基础上,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的双应力交叉步降加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计为目标函数,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的双应力交叉步降加速寿命试验优化设计模型。最后通过三次样条插值拟合理论对目标函数进行拟合,降低了仿真规模,提高了试验效率,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。     

双应力步降加速退化试验优化设计Monte-Carlo仿真

针对高可靠长寿命产品在双应力退化试验中存在的时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的双应力步降加速退化试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对加速试验进行仿真模拟,以监测频率、样本量大小、监测次数作为设计变量,以总的试验费用作为约束条件,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计作为目标函数,建立了基于Monte-Carlo仿真的双应力步降加速退化试验优化设计模型。通过仿真实例验证了该方法的有效性、可行性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供了理论支撑。     

步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真

针对加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的步降加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计和各应力水平下的特征寿命之和最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的步降加速寿命试验优化设计模型。最后通过实例分析,表明该方法具有可行性、有效性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。     

步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真

针对加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的步降加速寿命试验优化设计方法.采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计和各应力水平下的特征寿命之和最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的步降加速寿命试验优化设计模型.最后通过实例分析,表明该方法具有可行性、有效性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑.     

基于粒子群算法的步降加速退化试验优化设计

针对解析方法难以得到或者不能得到步降加速退化试验最优方案的难题,提出一种基于粒子群算法的Monte-Carlo仿真步降应力加速退化试验优化算法。该算法通过大量的重复模拟试验生成试验退化数据,寻找最佳监测频率、检测次数和样本量,以正常使用应力下的对数p阶分位寿命渐近方差估计最小为目标,采用粒子群算法对退化试验数据采用极大似然估计进行统计分析,建立了基于仿真的步降应力加速退化试验优化设计模型。基于算例,给出了不同约束条件下的优化设计方案,得到了该方法也满足小子样产品步降加速退化试验优化设计的结论,并最终得到其最优试验方案。     

竞争失效产品步进加速寿命试验的优化设计

对weibull分布竞争失效产品的步进加速寿命试验进行优化设计,首先选取产品正常应力下中位寿命的极大似然计估渐近方差的估计值作为优化目标函数,并对优化目标函数进行统计推断.然后利用目标函数的连续性,提出基于离散数据的函数拟合方法,将试验优化设计转化为显函数的约束极值求解问题,同时将智能优化算法应用到步进加速寿命试验的优...     

大功率LED加速寿命试验及问题分析

采用国家标准(GB1772)规定的电子元器件加速寿命试验方法,选择了工作环境温度作为加速应力,设计了四个应力等级的大功率LED加速寿命试验方案并进行试验.试验结果为每个应力等级下的失效模式有2～3种,不同应力级别确定的激活能有一定的差异.通过对金丝引线球焊处开裂、金属化层失效等主要失效机理的产生原因以及温度、电流密度之间关系分析,认为基于Arrhenius模型进行大功率LED加速寿命试验存在不足和缺陷,不能准确地预测稳态温度下的LED寿命,应当对Arrhenius模型进行修正.     

基于正态分布的双应力交叉步阶试验仿真研究

首先针对高可靠、长寿命电子装备的可靠性评估问题,提出一种新的试验方法--双应力交叉步阶试验.而后在正态分布下,通过理论模型的建立,运用Monte-Carlo仿真对该试验的试验效率问题进行深入研究,分析得出形状参数σ、寿命特征参数μ与加速效率指标之间的基本关系.结果表明在实际试验条件下,双应力交叉步降试验与双应力交叉步加试验相比,其试验效率是十分明显的.     

基于平均寿命MSE的步进应力加速退化试验优化设计

步进应力加速退化试验常应用于高可靠性、长寿命产品的可靠性评估。为了更加准确的评估产品的可靠性,论文针对退化过程服从Wiener过程的退化型产品,提出了步进应力加速退化试验优化设计建模与分析方法。该方法在试验总费用约束下,利用蒙特卡洛仿真估计产品平均寿命的均方误差(MSE),并通过最小化MSE,确定最优的步进应力加速退化试验应力水平、样品数、参数测量间隔及测量次数等。最后,以某磁性产品为例,对该方法的有效性进行实例验证。     

指数步降加寿试验分组数据的MLE与模拟分析

加速寿命试验在高可靠、长寿命的产品寿命估计中的应用愈来愈广泛,而步降应力试验方法能在较短的时间内获取足够统计精度的失效寿命数据,在很大程度上改善了加速寿命试验效率。对简单步降试验（即两步步降试验）所获得的分组数据进行统计分析,估计加速模型方程参数,给出了指数分布情形下的极大似然估计。模拟实例充分验证了该理论的可行性和有效性,为高可靠长寿命产品的评估提供了更为高效、低资的寿命试验解决方案,完善了加速寿命试验理论。     

一种基于温度加速的LED产品寿命快速评价方法

针对LED照明产品,提出一种寿命快速评价的方法.通过对样品在3种温度应力水平下进行加速寿命实验,以光通量的衰减作为失效判据,并对实验结果进行了分析,以威布尔分布来描述产品的寿命分布,利用最小二乘法和阿伦尼斯模型对试验数据进行统计分析,最终外推得出正常应力水平下产品的寿命.     

半导体器件贮存可靠性快速评价方法

为解决复杂环境下半导体器件的贮存可靠性评估问题,结合半导体器件的贮存失效机理及其寿命-应力模型,提出了基于多贮存应力加速寿命试验的半导体器件贮存可靠性评估方法。在此基础上,以某款中频对数放大电路为研究对象,通过对加速寿命试验结果的分析,获得了电路在规定贮存时间下的可靠度。     

基于步进加速退化试验的某型电连接器可靠性评估

某导弹电连接器属于高可靠性、长寿命产品,在短时间内很难获取其失效数据。为了评估其可靠性,在分析其失效机理的基础上设计了步进应力加速退化试验,通过分析加速退化数据外推出产品在正常工作应力水平下的可靠度函数。试验中,以电连接器的接触电阻作为性能参量,选取温度作为加速应力。数据分析时利用Wiener随机过程对样品退化进行建模,为了提高模型参数的估计精度,采用极大似然法对所有性能退化数据进行整体统计推断。结果表明,提出的基于加速退化数据分析的方法实用、有效,实现了某导弹电连接器的可靠性评估并可为其他高可靠性产品的可靠性评估工作提供参考。     

融合非线性加速退化模型与失效率模型的产品寿命预测方法

针对高可靠性产品寿命数据少、获取成本高的问题,基于充分利用产品在研制、加速试验等不同环境下的退化数据、失效数据等可靠性数据的思想,提出了一种融合非线性加速退化模型和失效率模型的产品寿命预测方法.首先,根据退化数据对非线性退化过程进行分析,估计退化过程的参数;然后,根据加速退化数据及相应的加速退化模型估计加速退化模型的参数,从而得到退化参数与应力之间的关系.进一步,利用比例风险模型融合产品的寿命数据和未失效截尾数据,并基于此计算产品的可靠度函数、预测产品的寿命.实例应用验证了所提方法的有效性,同时说明了所提方法的应用价值.     

液晶显示器件电极腐蚀失效可靠性研究

利用Arrhenius模型和Eyring模型分析了温度应力和湿度应力对LCD电极腐蚀可靠性的加速影响特性,并根据加速特性推导出典型的可靠性加速试验可验证的产品寿命.结果表明,温度应力和湿度应力对LCD腐蚀的加速作用都呈指数关系,典型的腐蚀可靠性验证试验条件(55℃×95%RH×24 h)所对应的LCD产品在常温常湿条件下的理论寿命约为3年.同时,试验统计了40℃×70%RH和常温常湿条件下产品发生腐蚀失效比例随时间的趋势.结果表明,40℃×70%RH×48 h的条件可筛选出95%以上的潜在腐蚀失效产品.     

快速评价半导体器件失效激活能的方法

通过对序进应力加速寿命试验的研究,提出了一种快速评价半导体器件失效激活能的方法,建立了计算失效激活能的理论模型.并对硅pnp三极管3CG120进行额定功率下,170～345℃范围内的序进应力加速寿命试验,快速提取器件失效敏感参数hFE与所施加应力的关系,根据模型对器件退化过程中的失效机理进行研究、计算,从而确定其对应的失效激活能.     

热电应力加速寿命试验数据分析与可靠性估计

一、前言 1.试验考虑的出发点 过去惯用的加速寿命试验或者是在室温下加重电功率或者是在不加电情况下加高贮存温度,即属于一元应力系统下,进行试验。我们知道,加速寿命试验的意义在于采用高应力级水平的条件下,使器件“加速”失效,从而在较短时间内取得必要的可靠性数据,在一元应力系统下应力级水平是有限的(不能为了“加速”而无限加大应力),为     

累积损伤下Lomax分布产品序进应力加速试验分析

首先,给出了在累积损伤模型下,Lomax分布产品分别在序进应力加速寿命试验和多组序进应力加速寿命试验下的失效模式;然后,给出了参数的极大似然估计和基于渐进正态性的近似区间估计;最后,利用Monte Carlo法模拟数据,通过牛顿迭代法求出了不同情况下参数的极大似然估计和近似区间估计.     

汽车电连接器加速寿命评估方法研究

以电连接器为研究对象,根据接触失效的特点和威布尔分布的特性,得出汽车电连接器温度-振动综合应力的失效物理方程、失效寿命分布和可靠性统计模型;然后,按照确定的加速寿命试验方案,选取温度应力和振动应力结合的正交试验法,提出了汽车电连接器加速寿命试验方案,对于准确地评估汽车电连接器的加速寿命具有一定的参考价值。     

基于BP神经网络的电子元器件寿命预测

电子元器件的寿命预测对于制订寿命试验的规划,确定所需的试验时间及试验经费,都有十分重要的指导作用.基于BP神经网络提出了一种电子元器件寿命预测的方法,该方法可对当前样本的未来观测值或未来样本的观测值进行预测.对MOS电容的加速寿命试验数据进行了仿真试验,结果表明该方法可较好地预测MOS电容在相应的应力条件下的失效时间,且精度较高.