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利用半经验的激发能在两个裂变碎片中的分配方式,对n(热能点)+235U裂变瞬发中子数随碎片质量分布v(A)进行了初步研究。计算结果给出与实验基本符合的V(A)分布(图1)。目前的研究结果表明: 相似文献
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建立了一个放中子前裂变碎片质量分布5-Gauss半经验计算公式。对(n,f)和(n,n'f) 裂变在~(232)Th-~(245)Cm范围内,公式与实验产额的绝对偏差不超过0.4%,最大偏差不超过0.8%。当精度要求不高时,也可以推广应用于更高激发能裂变。 相似文献
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裂变瞬发中子谱(Prompt Fission Neutron Spectrum,PFNS)是重要的核反应数据,为了测量低于源中子能量的裂变瞬发中子谱,通常是用中子探测器与平行板雪崩计数器(Parallel Plate Avalanche Counters,PPAC)进行符合测量以扣除非裂变事例的影响。针对裂变瞬发中子谱测量的需求,研制了一个由10个单元组成的PPAC。用Maxwell软件模拟了相同尺寸及工作条件下丝状电极电离室和平板电极电离室的电场分布。对该PPAC的结构及其性能测试进行了详细介绍。该PPAC工作于低气压流气模式,每个单元可以独立工作。该PPAC测试的结果为相邻两个PPAC单元之间的时间符合谱半高宽(Full Width at Half Maximum,FWHM)为620 ps,PPAC与液体闪烁体探测器的时间符合谱γ峰的半高宽为880 ps。测试结果表明:该PPAC的时间响应快,达到预期指标,适合用于高事例率情况下的时间符合测量。 相似文献
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给出了一个裂变中子产额分布的七点计算公式。经与从Ac到Cf范围内的裂变核素、其激发能由自发裂变高到45MeVα粒子诱发裂变的实验比较,该公式能较好地反映中子分布的主要特征。由于中子分布在产额的换算中只是起次要的作用,因此可以用来换算放中子前后质量分布。利用该公式进行换算后的质量分布能很好地再现实验分布的平均趋势。如果将该公式与放中子前裂变碎片质量分布半经验公式联合使用,将可直接计算放中子后的质量产额,而不需要利用任何实验数据,给出的绝对产额预测精度约为±0.5%。 相似文献
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中子能谱对瞬发中子衰减测量的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
为了考察泄漏中子能谱及中子飞行时间对瞬发中子衰减曲线测量结果的影响,运用MCNP-4C程序计算了一个聚乙烯反射金属钚系统的瞬发中子在系统内、外不同距离的衰减曲线.计算结果表明,由于泄漏中子的能量不同,其飞行时间不同,因此,测量的衰减曲线相对堆内的瞬发中子衰减曲线的衰减速度变慢,且随着飞行距离的增加,变慢的程度增大.如果不同能量的泄漏中子的飞行时间差与核系统瞬发中子衰减时间接近,则泄漏中子衰减曲线的衰减指数不能用来表征核系统的瞬发中子衰减常数. 相似文献
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通过测量裂变碎片的γ射线研究中子测量技术 总被引:3,自引:1,他引:3
描述了通过测量裂变碎片的γ射线来研究测量中子的方法。^238U薄片的裂变碎片由聚脂膜俘获,其γ射线由NiI(T1)探测器测量。在不同系统上测量了中子,测量结果与用裂变室的测量结果一致。分析和讨论了实验结果。 相似文献
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热中子与物质产生辐射俘获反应时,发出瞬发γ射线,用高分辨率锗半导体探测器测量瞬发γ能谱,进行能量和强度分析,从而达到识别元素及确定含量的目的,此即瞬发γ射线中子活化分析,简称PGNAA。由于~(252)Cf中子源和锗探测器的发展,PGNAA作为堆中子活化分析 相似文献
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在分析中子活化瞬发γ产生机理及瞬发γ射线强度计算方法基础上,提出了应用MCNP程序计算模拟核部件自发裂变中子活化放出瞬发γ能谱的直接模拟与分步模拟方法,对两种方法的计算结果及特点进行了比较分析。计算了模拟核部件核材料自发衰变产生的γ能谱,并与瞬发γ能谱进行了比较分析。本文结果可为核部件认证技术研究提供参考。 相似文献
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TALYS程序是近年发展起来的基于多通道随机颈断裂模型的可用于计算很宽能区裂变碎片质量分布的微观理论模型程序,是目前国际上仅有的一个可以用于计算很宽能区(1keV-200MeV)的裂变碎片质量分布的微观理论计算程序。 相似文献
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多元素中子俘获瞬发γ射线分析方法的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
进一步提出被测元素瞬发γ射线特征峰的面积与其含量的关系式。经实验证明对各常见元素的仪器分析回归值与化学分析值的均方根偏差皆小于0.5wt%。在铁矿石的分析实验中发现了慢化体的作用,它可明显地提高分析灵敏度。该套中子俘获瞬发谱仪对H瞬发γ峰(2.223MeV)的FWHM为3keV。 相似文献
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