红外焦平面阵列剩余非均匀性的计算

从理论、计算方法和计算结果等方面分析了已有的三种剩余非均匀性(即剩余误差)计算方法的不足,根据探测器非线性响应原理,提出了一种新的方法。以实验数据对有关方法进行了验证,结果表明新的方法更为简单且更符合实际。与以前理论比较,推导出了近似公式。     

红外焦平面阵列剩余非均匀性的测试和检验

提出了一套检验已校正红外焦平面阵列的系统物方法。包括硬件规格，数据精度，记录速度和容量的要求，需要测试的数据以及要进行的算法分析等。根据的采用非均匀性校正算法的不同，需要采集多套数据用于不同目的测试。     

红外焦平面阵列非均匀性实时校正技术研究

在分析红外焦平面阵列非均匀性噪声产生机理的基础上,提出了一种易于硬件实现的新算法,并给出了其硬件实现。该算法从数字图像处理的角度出发,通过垂直滤波和排序均值滤波,对非均匀性进行校正。利用该算法能实时有效地消除红外图像的非均匀性噪声,增强图像的视觉质量。     

红外焦平面阵列非均匀性校正精度的研究

定标校正法是目前人们实际使用较多的一种红外焦平面阵列非均匀性校正方法。该方法采用的算法简单,易于用硬件实时实现,但也存在校正精度低的缺点,针对这一不足,首先通过实验得到了红外焦平面探测器的实际非线性响应曲线,然后在此基础上进一步分析了定标点的数量及选取对红外焦平面阵列非均匀性校正精度的影响,为提高定标校正法的校正精度提供了依据。     

基于校正率的红外焦平面阵列非均匀性校正评估新方法

提出一种新的能对非均匀性校正效果进行定量计算的评估测度“校正率”,并进行了实验验证.校正率以时域噪声为参考标准来衡量图像非均匀特性,不仅可以反映图像显示效果,还可以反映图像测温精度.该方法可用于IRFPA系统的性能评价和非均匀性校正方法校正效果评价,对非均匀性校正的研究具有重要意义.     

红外焦平面阵列非均匀性自适应校正方法

分析基于场景的红外焦平面阵列非均匀性校正方法中的景物退化和鬼影现象,提出了一种基于边缘约束高斯滤波的红外焦平面阵列非均匀性自适应校正方法。该方法设计了一个边缘约束高斯滤波器来获取理想的估计图像,利用最陡下降法得到计算增益校正因子和偏移量校正因子的迭代公式,并通过迭代步长的自适应控制来增快算法的收敛速度。通过仿真实验和真实红外图像处理对比实验表明:相较于目前已有的方法,该方法在有效抑制景物退化和鬼影现象的同时,较好地去除原始红外图像的固定图案噪声,保留了图像细节信息,提高了图像质量。     

红外焦平面阵列非均匀性的两点校正及依据

以Planck辐射定律和红外探测元的线性响应模型为基础,在理论上完整地推导了红外焦平面阵列非均匀性的两点校正方法;据此,论证了两点校正方法的物理依据,即从理论上证明如果探测元是线性和稳定响应的,该方法则可以实现非均匀性的准确校正;初步分析了非均匀性校正中存在误差的问题。     

红外焦平面阵列非均匀性自适应校正算法研究进展

实现红外焦平面阵列非均匀性自适应校正是高级红外探测系统追求的重要目标,对提高红外探测系统的空间分辨率、温度分辨率、探测距离以及辐射量的正确度量具有重要意义.归纳总结了国内外关于凝视红外焦平面阵列非均匀性自适应校正算法的部分研究工作及其进展,比较了典型自适应算法的性能和适用条件,为进一步开展红外焦平面阵列非均匀性自适应校正研究提供参考意见.     

红外焦平面阵列多点校正方法的改进

为了提高红外焦平面阵列多点实时非均匀性校正的速度,提出多点压缩校正的新方法.介绍了多点压缩校正方法的原理,在此基础上详细阐述了多点压缩的硬件实现过程,并通过与传统多点校正方法的比较,说明了多点压缩校正方法的有效性.实验结果表明多点压缩校正具有计算量小、实时校正速度高、校正后图像的残余非均匀性小等优点.     

一种红外焦平面阵列非均匀性校正的新方法

为了解决红外焦平面阵列非均匀性实时校正难题,提出了一种利用存储器的函数变换功能来对红外焦平面阵列非均匀性进行实时压缩校正的新方法.详细阐述了存储器压缩校正的原理和实现过程,并给出硬件实现框图,最后给出了实验结果.实验表明该校正方法电路简单、校正效果理想、容易实现实时校正.     

3D堆叠技术及TSV技术

介绍了3D堆叠技术及其发展现状,探讨了W2W(Wafer to wafer)及D2W(Die to wafer)等3D堆叠方案的优缺点,并重点讨论了垂直互连的穿透硅通孔TSV(Through silicon via)互连工艺的关键技术,探讨了先通孔、中通孔及后通孔的工艺流程及特点,介绍了TSV的市场前景和发展路线图。3D堆叠技术及TSV技术已经成为微电子领域研究的热点,是微电子技术及MEMS技术未来发展的必然趋势,也是实现混合集成微系统的关键技术之一。     

一种基于场景的红外图像非均匀性校正算法

在分析红外焦平面非均匀产生原因的基础上,阐述了两点校正法的原理.由于各探测器与相邻单元的增益比率具有相关性的特点,利用相邻单元的增益比率,迭代实现比率和偏差的校正,从而减小其图像的非均匀性.仿真计算验证算法能有效地消除图像非均匀性噪声,增强图像的视觉效果.     

自适应非均匀性校正中"鬼影"问题的分析

论述了红外焦平面阵列自适应非均匀校正中的“鬼影”问题；以实际图像序列对目前现有的方法进行了实验测试，表明其实际作用有限，而且影响非均匀性的校正效果；提出了三种新的改进和设想，并分析了存在的不足。鬼影问题的有效解决必须基于来自新概念的创新性算法技巧。     

基于定标的红外焦平面非均匀性校正算法研究

红外焦平面阵列普遍存在非均匀性,这会严重影响其成像质量。基于定标的非均匀性校正算法因其易于硬件实现,在工程应用中已被广泛采用。本文介绍了近年来基于定标的非均匀性校正算法的研究进展,对各种算法的优势及缺点进行了对比,并针对算法特点和工程需求做出了相应的分析。     

利用DSP实现IRFPA非均匀性校正及其关键技术研究

针对红外焦平面阵列(IRFPA)非均匀性校正过程中运算量大,难于实时实现的特点,提出利用DSP实现红外焦平面阵列非均匀性实时校正方法.在介绍多点校正原理的基础上,详细阐述了DSP硬件实现多点校正的过程及其关键技术,并给出了实验结果.实验表明该硬件校正方法简单灵活,图像效果理想,能够有效地解决红外焦平面阵列非均匀性实时校正难题.     

利用CPLD实现红外焦平面阵列实时非均匀性校正

红外焦平面阵列响应的非均匀性严重限制了红外系统的成像质量,必须在使用时对其进行非均匀性校正.以两点校正方法为例,利用CPLD的高速性和灵活的可编程性,对红外焦平面阵列进行实时非均匀性校正.实验结果表明利用CPLD实现的红外焦平面阵列的非均匀性校正方法简单、效果理想.     

一种提高红外焦平面阵列成像质量的有效方法

为了提高红外焦平面阵列的成像质量,提出一种对红外焦平面阵列的非均匀性校正的同时进行图像增强处理的方法(简称校正增强法),该方法通过对红外焦平面阵列的校正来减少各阵列元响应的非均匀性,通过对红外图像进行增强处理来提高整幅图像的对比度,从而有效地提高红外成像系统的成像质量.实验结果表明:经过校正增强方法处理后的红外图像清晰、视觉效果理想.     

基于FPGA的红外焦平面阵列实时非均匀性校正

提出了一种以FPGA为核心的焦平面器件实时非均匀性校正方法,能够实时地完成非均匀性校正系数的在线计算、红外图像的非均匀性校正.采用浮点乘法器、浮点除法器进行运算,提高了计算精度.采用并行处理结构和流水线技术,使系统的处理速度达到20 M×12 bit/s,特别适用于大面阵、高帧频红外焦平面成像系统.系统仅使用一片FPGA,有利于系统的小型化.