吉时利联手研发65nm以下先进工艺特征分析技术

吉时利仪器日前宣布将与Stratosphere Solutions公司合作,采用阵列TEG（测试元件组）技术展开先进工艺研发和监测工作。双方的合作为彼此客户提供一种独特特征分析基本架构,使用吉时利S600系列参数测试仪和StratoPro IP实现大容量、高产能、高可靠参数测量解决方案,确保客户成功实现先进半导体工艺。     

吉时利联合Stratophere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术

日前,吉时利(Keithley)仪器公司(NYSE代码:KEI)宣布将与Stratosphere Solutions公司(Sunnyvale,CA)合作。Stratosphere Solutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案。吉时利与Stratosphere Solutions合作后将采用阵列测试元件组(TEG)技术展开先进工艺研发和监测     

吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术

美国吉时利（Keithley）仪器公司日前宣布将与Stratosphere Solutions公司合作。Stratosphere Solutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案。     

吉时利与Stratosphere Solutions合作研发65nm以下先进工艺特征分析技术

日前,吉时利公司宣布将与致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案的Stratosphere Solutions公司合作推出可互操作硅验证解决方案,该方案将进一步提高工艺参数成品率。     

吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术

美国吉时利（Keithley）仪器公司日前宣布将与Stratosphere Solutions公司（Sunnyvale，CA）合作采用阵列TEG（测试元件组）技术展开先进工艺研发和监测工作。     

业界动态

<正> 吉时利联合 Stratosphere Solutions 研发65nm以下先进工艺特征分析技术美国吉时利(KeithIey)仪器公司日前宣布将与 Stratosphere Solu-tions 公司(Sunnyvale,CA)合作采用阵列 TEG(测试元件组)技术展开先进工艺研发和监测工作。由于 IC 制造商不断追求制造更小尺寸器件,因此65nm 以下水平上的     

KEITHLEY与NOVELLUS共同开发自动诊断测试

吉时利仪器公司(Keithley)同Novellus系统公司将在位于SanJose的Novellus客户集成中心开始合作,主要目标是:基于吉时利先进的S600半导体直流参数测试平台来开发适于铜及低K材料的电气工艺诊断测试。这种测试将会大大节省铜工艺开发的时间并有利于提高Novellus及吉时利客户的生产率。铜及低K材料具有高速及低功耗的特点,无线通信行业正快速与基于这种工艺的半导体技术相结合。这种趋势对于行业发展非常关键, 将使半导体器件体积越来越小,功耗却越来越大。吉时利仪器公司是业界领先的仪器厂商,为无线通信、半导体、光电和其他电子工业提供…     

大功率器件参数分析解决方案

古时利将晶体管图示仪的量程和简化性与参数分析仪的精度和灵活性结合起来，针对大功率器件的参数曲线分析应用推出7种解决方案，这7种配置包括：最新版本的吉时利ACS（自动化特性分析会件）基本皈软件，它支持吉时利最新源表（SMU），并发挥2600B系列TSPLink技术的最大优势，在仪器之间实现500ns的触发同步。     

Preso研制成功—款新型消防泵流量计

吉时利仪器公司日前宣布授权位于加利福尼亚利弗莫尔的FormFactor公司为吉时利半导体参数测试仪制造高性能参数测试探针卡。FormFactor公司所提供的探针卡将应用于吉时利S600系列参数测试仪，进行测量超低直流电流，以及对接触半导体晶圆的PIN脚进行标准直流参数测试。晶圆制造商和代工厂可以采用S600系列测试仪对用于组装和封装的晶圆进行合格性检测或工艺监测。     

吉时利为功率器件特性分析提供7种解决方案

吉时利仪器公司近日为大功率器件的参数曲线分析应用推出了7种解决方案,适用于高达3,000V和100A的大功率器件特性分析。这7种配置包括：最新版本的吉时利ACS（自动化特性分析套件）基本版软件,它支持吉时利最新源表（SMU）,并发挥2600B系列TSP-Link技术的最大优势,在仪器之间实现500ns的触发同步。     

吉时利宣布与中国IMC实验室合作共同推进射频测试技术的研发

近日，吉时利仪器公司宣布与位于中国成都的西南交通大学移动通信研究所（IMC）合作。这项合作计划旨在促成IMC和吉时利开展联合研究项目，扩展现有应用并研究新的无线应用和技术。吉时利的此次合作计划将帮助IMC共同研究无线通信技术，尤其是MIMO（多入多出）应用。最新的无线标准建立在MIMO的基础上。IMC和吉时利的这项合作研究项目将建立一个联合研究基地，帮助双方共同研究现有的以及新兴的应用。IMC通过与吉时利的合作，将展开MIMO技术的高级研究工作。     

MIPS科技与翊杰科技共同合作为半导体公司提供MIPS架构方案

美普思科技公司（MIPS）,以及ASIC和SoC设计解决方案供应商翊杰科技公司（EE Solutions）共同宣布,两家公司将为中国大陆与中国台湾地区的半导体公司提供MIPS科技的业界标准技术。翊杰科技已获得可合成MIPS32 24KEc内核授权,作为其数字IP组合的一部分,并将与MIPS科技合作为共同客户提供具增值的解决方案。     

吉时利牵手 EIgar提供“仪器＋电源”方案

近日，美国吉时利仪器公司和著名的可程控电源提供商 Elgar 公司(刚启用的新名称为eec)宣布开展战略合作，吉时利公司将利用自己在中国和日本的销售渠道，全面代理eec公司的Elgar、Sorensen和Power Ten三个品牌的直流、交流程控智能电源，为客户提供更全面的测试测量产品和服务。     

吉时利发布用于半导体器件探测和特征分析设备的混合信号互连解决方案

吉时利仪器公司日前发布测试界第一个利用一套线缆即可处理I-V、C-V和脉冲I-V信号的互连解决方案（正申请专利）。本款最新布线套件基于专利型设计,能大大加快并简化从任意先进半导体参数分析仪到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探测器进行直流电流一电压（I-V）、电容一电压（C-V）和脉冲I-V测试互连的过程。互连线的设计与吉时利4200-SCS半导体特征分析系统以及其他一些用于特征分析的测试仪器兼容。     

东方集成与美国吉时利公司签署“行业渠道经销”合作协议

日前，北京东方中科集成科技股份有限公司（以下简称“东方集成”）与著名仪器制造商之一的吉时利仪器公司（以下简称“吉时利”）签订行业渠道经销合作协议，正式成为吉时利在数字多用表、数字源表、数据采集、微弱信号等产品的战略合作伙伴。     

吉时利深度服务半导体测试市场

2010年吉时利（Keithley）加入泰克（Tektronix）公司,成为美国丹纳赫集团测试测量事业部门一部分.在很长一段时间里,吉时利都忙于并购之后的相关事宜.2011年春季,吉时利携新产品再度亮相. ＂此次并购为我们提供了提高运营效率和增加研发/创新领域投资的机会.凭借泰克的营销渠道,我们可以为客户提供更多的购买途径和更为便捷的服务.＂吉时利仪器公司市场营销总监MarkA.Cejer表示.     

吉时利改写数字源表量程新记录

半个世纪以来,吉时利(Keithley)测试仪器在先进的电气测量领域的工程师和科学家中树立了世界范围的声誉。2010年吉时利加入泰克公司,作为美国丹纳赫集团测试测量事业部门一部分,吉时利还能一如既往地针对半导体、无线和纳米技术应用提供精确的解决方案吗?2011年4月,吉时利推出了2600A系列源表中的新产品2651A型高功率源表(System SourceMeter)仪器,以及全自动生产参数测试方案S530参数测试系统,再次向业界展示了公司在最苛刻的极弱电学测量领域的技术实力。     

吉时利增强了S530参数测试系统的测量功能

吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案——S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件（KTE V5.4）的支持,S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以及脉冲发生、频率测量和低电压测量的新型集成选件。这些新增强的功能帮助S530系统实现了更宽范围的生产参数测试应用和高速、经济有效的测试方案。     

吉时利增强了S530参数测试系统的测量功能

近日,吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案--S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件（KTEV5.4）的支持,S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以及脉冲发生、频率测量和低电压测量的新型集成选件。     

吉时利发布新型低电流测量数字源表产品部分产品瞄准TD产业链

9月17日，吉时利（Keithley）在中国发布了其2600系列SourceMeter 数字源表的两款新产品2635和2636，及3700系列系统开关／万用表和插卡系列产品，自此形成业界技术最先进、效费比最高的半导体参数分析与测试解决方案。