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电子元器件检测实验室的静电防护体系 总被引:1,自引:0,他引:1
简要介绍ANSI/ESD S20.20静电放电防护控制方案,具体分析了静电放电对元器件造成的失效模式,并对静电放电损伤模型进行了深入比较分析。针对电子元器件检测实验室,依照ANSI/ESD S20.20标准规范化、系统化地提出了一套较为完善的静电防护体系。 相似文献
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随着电工电器产品向着智能化、通信型方向发展,其中由大量电子元器件组装调试而成的智能控制器起着关键的作用,智能控制装置的可靠性就代表着该电器的可靠性,必须高度重视静电防护ESD的危害,如果掉以轻心或防范不当,就会造成各种损失. 相似文献
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ESD破坏的特点及对策 总被引:2,自引:0,他引:2
针对电子产品受到ESD威胁日益严重的现状,本文通过详细论述ESD破坏的特点,揭示了静电作为隐蔽的“杀手”,其突发的伤害、潜在的威胁、复杂的成因使电子产业蒙受了巨大的损失,提出了综合运用均压、接地、泄流、屏蔽和箝位等技术,并辅之以一套行之有效的培训、管理制度和操作程序,构成一个完整的静电防护体系的思想,将静电这个当今电子工业中的“恐怖分子”拒之门外。 相似文献
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采用常规的人体模型(Human Body Model,HBM)进行静电释放(Electro-Static Discharge,ESD)测试时往往容易受到寄生参数的影响,使得电源芯片抗静电能力测量值与实际抗静电能力存在偏差,导致劣质产品通过HBM ESD测试,影响电源芯片产品良品率的提升。为此,提出了一种RC-HBM模型,通过引入RC并联支路,校正因寄生参数引起的静电放电电流的偏差,满足电源芯片静电可靠性测试的要求。首先阐述了静电对电源芯片的损坏机理。其次,分析了寄生参数对ESD电流的影响,阐述了常规HBM ESD测试的局限性。并提出了一种新型的RC-HBM模型,给出了RC并联支路参数的设计依据。最后,通过批量实验验证了所提RC-HBM模型的准确性和合理性。 相似文献
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随着现代科学技术的迅速发展和生产工艺的不断提高,大量由敏感的电子元器件构成的新型电工、电子产品得得广泛应用。由于产品的小型化、低功耗、高速度和高集成化,使得电子产品在严酷的电磁环境下遭受损害或失效的机会大大增加了,严重的可造成质量事故和设备损坏以及其它无法估量的损失。另一方面,电子产品在工作中会对周围环境产生电磁骚扰,不仅可能干扰公共安全和通信设备的工作,而且对于百姓的文化生活甚至人身安全会造成影响和危害。我们把电子产品在其电磁环境中能正常工作且不降低运行性能的能力称为电磁抗扰度(EMS);把电子产品在工作时对周围环境中任何事物不构成不能承受的电磁骚扰的能力称为电磁骚扰度(EMI)。EMS和EMI是产品电磁兼容性(EMC)的两个方面。 相似文献
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在SMT电子产品中,许多的元器件都属于静电敏感器件,过高静电压会导致此类器件的直接失效或潜在失效,从而导致成本的损失。本文主要阐述了SMT工厂内的静电防护体系的建立方案,旨在将产线的静电压降低到合理的范围,避免静电敏感器件失效造成的产品质量事故。 相似文献
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静电放电ESD是一种常见的自然现象,其对电子产品造成的危害是巨大的,这一现象是正日益引起人们的注意。本文着重阐述了静电的产生以及其对电子产品造成的危害程度,地其防护方法及使用器材做了较详细的论述。 相似文献
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静电是由于处在不同带电序列位置的物体之间接触分离,使物体上的正负电荷失去平衡而发生的现象。随着电子设备功能的增加,输入/输m连接器也随之增多,这为静电放电(ESD)提供了进入电路的路径。因此,有必要采用静电放电保护元件,在静电放电进入电路板之前有效抑制静电放电事件的发生。本文详细分析了静电的产生及其危害,以及对静电产生的控制和对静电放电采取的防护措施。 相似文献
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电子元器件静电的产生及预防 总被引:2,自引:0,他引:2
目前,由静电引起的电子元器件的破坏严重影响到了电子产品的质量和性能。介绍了静电产生的机理,分析了静电对电子元器件的危害,并提出了电子元器件预防静电的措施。 相似文献
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为提高静电放电(ESD)防护器件的开启速度,减小被保护电路的损伤概率,在0.18μm CMOS混合信号工艺下,研究了结构参数、脉冲幅值对基于可控硅整流器(SCR)的ESD防护器件开启时间的影响。在基区渡越时间的基础上,加上了结电容的影响因素,完善了器件防护延迟模型,当注入脉冲电压值增大到700V时,模型最大误差〈0.5ns,在分析快沿脉冲的防护时更符合实际情况。仿真结果表明:当阱间距取5.00μm,N+与P+间隔取0.50μm,SCR的开启时间可降为1ns。此外,在大幅值的脉冲注入下,由于结电容的充电速度加快,SCR的开启也更为迅速。实验结果验证了模型和仿真分析的准确性,在一定程度上增大阱间距的宽度,减小N+与P+的间隔可以缩短SCR的开启时间,为该类型防护器件的设计、参数优化提供了理论依据。 相似文献
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静电是由于处住不同带电序列位置的物体之间接触分离,使物体上的正负电荷失去平衡而发生的现象。随着电子设备功能的增加.输入/输出连接器也随之增多,这为静电放电(ESD)提供了进入电路的路径。因此,有必要采用静电放电保护元件,在静电放电进入电路板之前有效抑制静电放电事件的发生。本文详细分析了静电的产生及其危害,以及对静电产生的控制和埘静电放电采取的防护措施。 相似文献