系统测试的意义及系统可测试性设计

系统测试是系统开发的一个重要环节,是验证所设计的系统是否满足功能要求和性能要求的重要手段。测试进行得越早,解决缺陷所需要的成本越低。可测试性设计做得越好,越能提高测试的效率。这大大地降低项目进度,项目成本和产品质量的风险。文章首先介绍了系统测试的意义和可测试性设计的意义,然后从可测试性设计总则和可测试性设计方法详述两方面阐述了在系统设计中如何实现可测试性设计,并提供了一些具体的设计实例,为系统的可测试性设计提供了一些从理论到实践的参考。     

民航飞机机载音频系统可测试性研究

机载电子设备可测试性设计已成为飞机设计的重要组成部分,可提高电子设备的可用性及飞机的综合效能。本文结合机内测试、自动测试、边界扫描测试,维修总线等测试技术,介绍了边界扫描技术在民航飞机音频系统可测试性设计中的应用,然后讨论可测试性分配问题。以便在飞机总体设计和相应的系统设计过程中全面考虑其可测试性问题,使其成为机载电子设备的固有属性。     

系统芯片中低功耗测试的几种方法

在系统芯片可测试性设计中考虑功耗优化问题是当前国际上新出现的研究领域。在可测试性设计中考虑功耗的主要原因是数字电路在测试方式下的功耗比系统在正常工作方式下高很多。测试期间的功耗会引发系统成本上升，可靠性降低，成品率下降。本文介绍低功耗测试技术中的一些基本概念，对已有的几种主要的降低测试功耗方法进行分析，最后给出一种高性能微处理器的真速低功耗自测试方法。     

基于外壳架构与测试访问机制的数字芯核可测试性设计

深亚徽米技术的应用以及芯核的嵌入性特点.使传统的测试方法不再能满足芯核测试的需要.IEEEStdl 500针对此问题提出了芯核的可测试性设计方案——外壳架构和测试访问机制.基于IEEE Stdl 500.以74373与741 38软梭为例,提出数字芯梭可测试性设计的方法,并通过多种指令仿真验证了设计的合理性;设计的TAM控制器复用JTAC-端口,节约了测试端口资源.提供了测试效率.     

板载FPGA芯片的边界扫描测试设计

边界扫描技术是标准化的可测试性设计技术，它提供了埘电路板上器件的功能、互连及相互问影响进行测试的一类方法，极大地方便了对于复杂电路的测试。文中针对某设备分机具体的待测电路，遵循IEEE1149.1标准，结合FPGA芯片的BSDL文件进行边界扫描测试设计，理解和掌握其设计原理、数据结构，并实现板级测试与ATE的接口。     

小尺寸集成电路CDM测试

本文将探讨小器件CDM测试的难处,并提出一些已经尝试用于使用场致CDM测试方法改善小器件可测试性的构想.     

边界扫描技术及其在电路板级测试应用

介绍了边界扫描测试技术的基本原理,提出了边界扫描技术的板级测试策略和整体测试流程,并对扫描链路设计中的具体问题进行分析,最后结合可测试性设计提出了电路板设计时应遵循的原则.     

边界扫描测试技术

边界扫描技术是一种标准化的可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了边界扫描技术的应用.     

基于ATPG的无线接入芯片的可测试性设计

可测试性设计是现代芯片设计中的关键环节,针对无线接入芯片的可测试性设计对测试技术有更高的要求。首先概述可测试性设计和测试向量自动生成理论,然后采用最新的测试向量自动生成技术,根据自行设计的无线接入芯片的内部结构及特点,建立一套无线接入芯片可测试性设计的方案。同时功能测试向量的配合使用,使得设计更为可靠。最终以最简单灵活的方法实现了该芯片的可测试性设计。     

某型号机载火控设备的可测试性设计

简述某型号综合火控系统研制规范及型号顶层设计文件对机载火控设备可测试性的要求，阐述某型号机载火控设备研制过程中的可测试性设计。     

基于模型的综合模块化航电系统测试性设计方法

针对综合模块化航电系统对测试性提出的更高要求及其工程实践中存在的典型问题,定义了一种分布-集中式的系统测试诊断架构,以适应其体系架构的特点和生产配套关系的变化;提出了一种基于模型的系统测试性设计方法和流程,以测试性模型为驱动指导航电系统的测试性方案设计、评估与优化过程,取代传统的基于指标的测试性设计方法。在某机载综合射频系统上开展了方法应用,成功解决了该系统综合化以后测试诊断架构设计与测试性分配的非线性问题。     

测试性技术分析与试验验证刍议

测试性质量特性是武器装备试验考核内容之一,攸关武器装备能否快速地检测故障并隔离故障。文中阐述了装备测试技术设计、测试性试验需求和靶场验证方法,着重研究了测试性定性检查、定量检查的基本准则和实施途径。并指出故障特征的分析提取和样本集的有效生成是测试验证的关键,旨在为提升武器装备测试性试验能力提供参考。     

基于TEAMS的测试性建模与分析

随着测试性技术的快速发展，设备的测试性受到越来越多的重视。在研究测试性设计的主要技术和参数基础上，基于 TEAMS 软件建立了典型通信设备的测试性设计模型，进行了测试性仿真与分析，为提高设备的测试性提供定性定量的支持。     

雷达系统测试性设计

良好的测试性设计对雷达系统而言,可以有效地提高其维修性、保障性,降低全寿命周期费用。简要回顾了测试性的发展,指出了测试性设计对雷达系统的重要性和必要性,并给出了雷达系统的测试性设计的基本原则。从网络化设计、分层次设计、外场可更换模块（LRM）设计、校正维护设计和故障诊断设计等方面详细介绍了雷达系统的机内测试（BIT）设计,对原位检测设计和自动测试设备（ATE）设计进行了简要介绍。随着雷达技术的不断发展,在BIT技术、ATE技术进行创新发展的同时,还应积极探索综合诊断技术、预测和健康管理（PHM）技术等新的诊断方法在雷达系统测试性设计中的应用。     

一种面向板级电路的故障注入系统设计

在装备测试性验证过程中,故障注入是一项关键技术。针对于装甲装备测试性设计不足的情况,利用已有实验条件,通过对电路中故障进行分类,设计实现了对应的模拟故障板,对某型坦克炮控系统中的电路板进行了故障注入,用故障检测设备检测到故障的存在,通过分析测试性验证数据,为装备BIT研究以及测试性设计的提高提供了依据。     

空间电子设备电路板可靠性可测试性设计检查

为了提高空间电子设备可靠性和可测试性设计的工作质量,采取在印制电路板生产前对其进行可靠性和可测试性设计检查的方法,可以提前在产品研发设计阶段发现可靠性和可测试性设计的不足,有针对性的加以改进,就能进一步提高产品质量与可靠性。列举了印制电路板可靠性可测试性设计检查要点,具有实际工程应用价值。     

Testing big chips becomes an internal affair

With the advent of the so-called system on a chip, or superchip, telling whether a complex integrated circuit is free of manufacturing flaws has become more difficult than ever before. Few believe that any automatic test equipment (ATE) machine of known architecture will be able to test tomorrow's chips as accurately or as thoroughly as yield and reliability considerations demand. It is for this this reason that different approaches to chip testing such as design for testability (DFT), automatic test pattern generation (ATPG), built-in self-test (BIST) an internal scan design are currently being developed     

测试与可测试性设计发展的挑战

CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战.本文首先介绍了测试和可测试性设计的概念,分析了测试和可测试性设计面临的困境;然后讨论了系统芯片设计中的测试和可测试性设计,最后对测试和可测试性设计的未来发展方向进行了展望.     

Linking design and test tools: an implementation

A computer-aided test analysis system was designed to appraise the testability of logic systems and to provide the functional specification of the test programs. To provide a helpful tool for both designers and test engineers, it was necessary to fully integrate this tool in a CAD (computer-aided design) system so that testability might be a design parameter and to automate the test-program production. The authors present the link between this tool and the SILVAR LISCO design system