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δ-FeOOH的制备及研究进展 总被引:2,自引:0,他引:2
综述了H2O2氧化Fe(Ⅱ)盐制备δ鄄FeOOH的方法及其应用进展。对近期室温、微量EDTA存在下,O2快速氧化Fe(Ⅱ)盐制备δ鄄FeOOH的新方法及其形成机理和转化进行了研究。展望了δF鄄eOOH作为前驱体的应用前景。 相似文献
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顾子悦吴灯鹏程新红刘晓博俞跃辉 《微波学报》2019,35(4):16-20
5G 通信中3. 4~3. 6 GHz 是主要使用频段。GaN 射频器件由于高频、低功耗、高线性度等优势,满足5G 通信应用需求。文中在高阻硅基GaN 外延片上研制了AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管(High Electron Mobility Transistor, HEMT),并分析了金属鄄绝缘层鄄半导体(Metal-Insulator-Semiconductor,MIS)栅对器件直流和射频特性的影响。研究发现:相比于肖特基栅结构,MIS 栅结构器件栅极泄漏电流减少2~5 个数量级,漏极驱动电流能力和跨导提高10%以上;频率为3. 5 GHz 时,增益从1. 5 dB 提升到4. 0 dB,最大资用增益从5. 2 dB 提升到11. 0 dB,电流增益截止频率为8. 3 GHz,最高振荡频率为10. 0 GHz。 相似文献
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圆片级可靠性测试是从可靠性物理的基础上发展起来的,利用工艺过程统计的控制方法来收集数据,并且通过快速的参数测量来检测出导致产品可靠性退化的原因。这种测试采用的是较高的、但在容许范围之内的测量应力(如温度、电压、电流),将其加到圆片上的测试结构中,然后测量由这种应力所产生的品质退化。圆片级可靠性测试系统主要分4个阶段:圆片级可靠性设计与发展(WLRD:WLRDesign&Develop鄄ment);圆片级可靠性评估及验证(WLRA:WLRAssessment);圆片级可靠性基准建立(WLRB:WLRBase鄄line);圆片级可靠性控制(WLRC:WLRControl)。WLR系统已经成功地运用于从0.35μm到0.13μm的逻辑电路及存储器的生产中。 相似文献
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在基于压缩感知的分布式多输入多输出(MIMO)成像雷达系统中,若成像目标不在事先划分的网格点上,即存在网格失配(Off鄄Grid)偏差时,成像结果将急剧恶化,文中针对该问题,分别在Off鄄Grid 偏差一阶和二阶近似下提出了行之有效的解决方法。文中首先建立了系统存在Off鄄Grid 偏差时的回波模型,在理想划分网格点的基础上,将Off鄄Grid 偏差看作未知数,分别进行一阶和二阶Taylor 展开,建立扰动模型,分析Off鄄Grid 偏差对成像结果的影响,最后给出了一种采用欠定系统局灶解法(FOCUSS)和约束总体最小二乘(CTLS)方法联合估计目标位置和散射系数的算法。与传统的基于压缩感知的成像方法相比,文中所提出的算法能够很好地解决网格失配问题,提高目标的反演精度。计算机仿真结果验证了所提方法的有效性。 相似文献
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溶胶-凝胶法制备无机纳米材料的研究现状 总被引:1,自引:0,他引:1
简述了溶胶鄄凝胶法制备无机纳米材料的工艺过程以及溶胶鄄凝胶法在无机纳米材料制备中的应用,尤其是在纳米微粒、纳米薄膜的制备及粉体的表面包覆等方面的应用。分析了溶胶鄄凝胶工艺中的各种影响因素,并指出了今后溶胶鄄凝胶法的研究方向。 相似文献
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MOEMS静电旋转结构的Pull-in现象分析 总被引:6,自引:0,他引:6
对MOEMS静电旋转结构的Pull鄄in(吸合)现象进行了理论分析,重点研究了平板电极旋转结构和摆动梳齿旋转结构。摆动梳齿旋转结构不出现Pull鄄in现象的原因是电容变化率为恒值;平板电极旋转结构在电极旋转过程中电容变化率持续增大是Pull鄄in现象出现的根本原因,设计平板电极旋转驱动器时,如果需要得到较大的稳态旋转角度,可以通过合适的结构参数减小电容变化率的变化速率。 相似文献
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HCI(Human鄄ComputerInteraction,人—机对话)HDLC(High鄄levelDataLinkControl,高级数据链路控制)ISO颁布的一种基于比特流的数据链路层通信规程。链路控制通过一定比特组合表示的命令和响应实现,可与信息文件一起传送,而且信息文件可以是任意的比特串组合,传输效率、可靠性及灵活性很高。HDSL(High鄄bit鄄rateDigitalSubscriberLine,高速数字用户线)一种铜线接入技术,具有在一对普通用户线上双向传输1.168Mbit/s的信息,或两对用户线上传输2.048Mbit/s信息的能力。但目前还不能传输2.048Mbit/s以上的信息,传输距… 相似文献