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相似文献
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1.
介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC架构,以及量产时缩短测试时间,减少测试成本的方法。  相似文献   

2.
骆涛 《半导体技术》2004,29(12):J001-J004
来自于消费类电子市场的需求使得SOC系统要比以往更快的集成更多的功能.同时需要考虑到技术和经济层面对SOC芯片的特殊需求,然后把这些需求和测试机台的能力与大批量生产时的测试成本结合考虑.为了理解如何去测试这种类型的SOC芯片,我们举机顶盒/电缆调制解调器和DVD刻录机的应用为例.下面我们会利用块状图来解释来技术层面的考虑,然后会评价如何在大批量的生产中减少测试成本.  相似文献   

3.
2008年10月30日,“创‘芯’无限,连接未来——英特尔首款嵌入式SOC应用论坛”在北京召开。在应用论坛上,英特尔公司正式向中国市场发布第一款基于英特尔。架构(IA架构)的嵌入式SOC——英特尔。  相似文献   

4.
系统芯片和系统级封装是目前微电子技术高速发展的两种技术路线,本文讨论了系统的基本概念,针对两种技术路线的基本特点进行了介绍和分析,从工艺兼容性、已知好芯片问题、封装、市场及设计的角度比较了两者的优缺点。  相似文献   

5.
SOC(系统级芯片)测试对IC ATE(集 成电路自动测试设备)制造商提出了挑战,同时也提供了新的发展机遇。目前,各种系统级芯片不断面世,包括数字蜂窝电话芯片、PC图形芯片、电缆调制解调器芯片、千兆以太网交换器芯片、网络控制器芯片以及各种多媒体器件。这预示了SOC测试将是未来几年ATE市场中的一个新增长点。SOC对测试设备要求非常高,它要求设备能测试芯片上的数字逻辑电路、模拟电路和存储器。低成本、多功能SOC测试设备对集成电路制造商有更大的吸引力,因为这种设备的测试能力能替代多台单功能IC ATE…  相似文献   

6.
针对目前流行的嵌入式芯片级测试技术,本文介绍了SoC测试技术的基本工作原理,利用93000 SoC测试系统,提出了相关测试内容、方法并得出最终测试结果.  相似文献   

7.
探讨SOC的测试技术   总被引:1,自引:0,他引:1  
张庆 《半导体技术》2002,27(9):60-62
1 系统芯片随着半导体科技的进步和市场需求的不断推动,我们已经可以把越来越多的线路或者功能模块同时设计在一颗芯片中,构成了一块系统芯片(SOC)。  相似文献   

8.
《电子产品世界》2003,(6):73-74
前言 目前,在许多应用领域,例如处理器、移动电话、调制解调器等产品,SOC技术已经成为主要的研究方向.这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权(IP)核,甚至将微处理器、外围接口、通信模块皆能包括于一芯片中.SOC芯片的应用,对于提升系统性能、减少系统能耗、降低系统的电磁干扰、提高系统的集成度都有很大的帮助,顺应了产品轻薄短小的趋势.  相似文献   

9.
安捷伦科技日前宣布,安捷伦93000SOC测试系统新增多时钟畴的升级配备,据称新的解决方案使计算机芯片、绘图芯片组、图形控制器及网络处理器等拥有多种不同界面,采用多种不同工作时脉的组件,能够一次测试完毕。例如同时采用PCI Express及Hyper Transport等硬件界面之组件及零组  相似文献   

10.
文章介绍了Triscend公司的嵌入式SOC芯片E5,简介了其特点和设计流程,并且结合实例说明了这种芯片在扩频无线通信系统应用中的软硬件设计。  相似文献   

11.
最新SOC测试的发展趋势   总被引:2,自引:0,他引:2  
随着SOC芯片结构的复杂化,功能模块的多样化,SoC芯片的测试也面对诸多挑战,诸如测试资源和成本的兼顾。本文简单描述了现今SOC芯片的发展和趋势,以及相对应ATE测试系统的应对。  相似文献   

12.
近来伴随消费类家电的迅猛发展,集成电路的低成本、多功能、高集成度成为发展主流。特别是国内外数字电视的即将相继开播,导致电视机及周边产品用SOC芯片的开发日趋活跃。另外,周边产品DVD、DV等画像摄影/播放用品也会带动高集成功能的SOC芯片需求。因此面向消费类家电的SOC芯片将以数字电视为核心展开、发展。当然就国外市场而言,游戏机用芯片出于高品质实时画像处理要求,MCU和数据接口的高速化、PC用CPU的多功能和高速化等也是芯片发展的一个方向。  相似文献   

13.
钟信 《电子测试》2001,(4):196-198
根据不完全的统计,从1980年代开始集成电路的工艺快速更新换代,集成度按摩尔定律每18个月增加一倍,此增长势头将会延续至2010年。相应生产每晶体管成本从0.5美分下降至200年的0.001美分,而测试每个晶体管成本只从0.4  相似文献   

14.
~~RF前端整合到SOC芯片中给生产测试带来的变革@Joe Kelly @Ariana Salagianis @潘其涛$安捷伦科技有限公司  相似文献   

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18.
李平 《电子测试》2007,(7):8-11
微处理器也称微控制器(MCU),已经渗透到人们生活的各个领域,微处理器也从4位、8位,逐渐发展到目前的16位与32位.在许多国家中,已经将微处理器的使用数量与市场规模,作为评估一个地区的收入、经济状况的重要指标之一.家电、消费性电子,以及汽车工业是微处理器新的应用场合,本文将详细介绍微处理器,特别是32位微处理器在汽车电子中的应用.  相似文献   

19.
基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试   总被引:2,自引:0,他引:2  
介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。  相似文献   

20.
本文介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC架构,以及量产时缩短测试时间,减少测试成本的方法。  相似文献   

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