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哪里是大规模集成电路的极限?大规模集成电路(LSI)的进展需要所增加的功能性、快速和经济的综合。 较好的晶片处理,新异的线路技术或这些新的综合正在坚定地将这一极限推向前移。立即在很小成本的条件下,追求LSI的无限功能的最终目标的原始方法将在这次会议中受到强调。 一份报告将讨论隐埋负载逻辑如何合并在同一块CMOS电路块和SI(?)L上以扩大LSI的特长。然后报导完全和NMOSRAM共容并提供低备用功耗能力,而保留其所保护的存贮器的其他特性。经济费用极小的电池备用电路怎样利用隐埋—沟通MOS FET(金属氧化物半导体场效应晶体管)方法使硅上MOS突破109赫的界限,把它(?)作为关于绝对速度的比(?)中的竞争者的例子,将加以讨论。其所获得的性能是与GaAs以及 相似文献
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本测试器不仅可以检测还可以产生方波脉冲信号。产生的测试信号可以是连续的,也可以是预置时间内的脉冲串,电路如图所示。 IC2及其周围元件组成脉冲信号检测器。从接线座K3输入的1kHz~10MHz脉冲信号经IC2除以1024后,使蜂鸣器BZ1发出1Hz~10kHz的声音。 双定时器IC556(IC1)及其周围元件组成脉冲信号发生器。其中,IC1a接成单稳触发器,其单稳态时间可用P1最大调到1秒钟。每按下一次开关S1,IC1a就输出一个最大宽度为1秒的方波脉冲。当开关S2置于“BURST”位置时,此方波脉冲通过S2加到IC1b的复位端,使IC1b在P1置定的时间内产生一个脉冲串。IC1b接成频率可变的脉冲 相似文献
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现代科学技术飞速发展,电气及电子设备的数量和种类不断增加,空间电磁环境日益复杂,在这处日益复杂的空间电磁环境下,如何减少设备间相互的电磁干扰,保证各种设备正常运转,是一个亟待解决的问题,本文通过理论分析论证了电磁兼容数字电路设计的准则和建议。 相似文献
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为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越来越大,测试时间也越来越长。为了降低测试成本,Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点,顺应测试行业的发展,在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例,对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。 相似文献
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数字电路课程改革探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
本文针对数字电路课程普遍存在的学时少与内容多的矛盾,实验条件与培养学生综合应用能力的矛盾,以及新技术与教学基本要求的矛盾,探讨了一些教改措施:在满足教学基本要求前提下,将最新发展的PLD器件的开发与应用引入教学内容;利用课外时间增加学生的实践动手机会,提高学生的实验技能等具体措施。 相似文献