测试与测量：吉时利发布ACS V3．2版

吉时利（Keithley）仪器公司日前发布用于器件级、晶圆级和晶匣级半导体测试与特征分析的自动特征分析套件ACS V3．2版。V3.2版新增更加强大的多点并行测试功能、面向管芯分拣应用成品分装功能、新晶圆级打点功能,支持16个料箱的优先分装功能、并以1fA电流测量分辨率支持吉时利2635和2636型系统数字源表。     

高性价比元件测试解决方案

特征分析和曲线绘制软件ACS基础版是吉时利自动特征分析套件系列的最新产品,集成了量程极宽的源测量单元——吉时利数字源表系列。ACS基础版结合吉时利成熟的数字源表产品,为用户提供了一套具有基本曲线绘制功能／支持参数化测试且极大突破成本的元件测试解决方案,将彻底取代原有曲线绘制软件。该测试系统简单易用、     

ACS测试系统

吉时利宣布增强了其ACS（自动特征分析套件）软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR（圆片级可靠性）备选测试工具。4．0版以ACS软件已有的单点和多点并行测试功能为基础，增加了对数据库的支持，以及最新的RTM（可靠性测试模块）工具和备选license以及ACS数据分析功能。新增可靠性测试与数据分析工具使得基于ACS测试系统进行寿命预测速度比传统WLR测试方案快5倍。     

吉时利推出4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7．1

美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析，从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪，大大降低了一些复杂测量的难度，并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。     

吉时利瞄准高精度 快速发展的新兴测试领域发力

熟悉精密电子测试的人们知道，吉时利（Keithley）以微弱信号测量技术在业内享有极高的声誉，代表了微弱信号测试的世界领先水平。在此基础上吉时利建立了无线通讯测试、半导体测试、电子元件测试、科研与教育四个主力产品线（表1）。吉时利中国作为吉时利全球的重要组成部分，随着中国经济的持续快速发展，其业务量也在连续多年飞速增长。     

吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能

2008年7月29日，美国吉时利（Keithley）仪器公司发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就支持从低到高各种功率水平器件的特征分析，从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪，大大降低了一些复杂测量的难度，并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。     

吉时利发布面向高吞吐量晶圆生产测试的半导体测试软件的升级版KTE5．3

2011年9月19日,吉时利仪器公司发布了获得业界好评的吉时利测试环境（KTE）半导体测试软件的升级版。KTEV5．3是专为配合吉时利的过程控制监控方案产品线S530参数测试系统设计的。     

吉时利增强了S530参数测试系统的测量功能

近日,吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案--S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件（KTEV5.4）的支持,S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以及脉冲发生、频率测量和低电压测量的新型集成选件。     

吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试、和九槽机架结构

吉时利仪器公司宣布对其4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件（KETI）V7．2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库,     

行业视点

新品推荐吉时利增强了S530参数测试系统的测量功能近日,吉时利仪器公司增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案---S530参数测试系统的功能。     

吉时利对4200-SCS进行升级

吉时利仪器公司日前宣布对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统进行全面的硬件、固件和软件升级。吉时利测试环境交互式软件（KETI）V7．2版经过升级囊括九种新的太阳能电池测试库，扩展了系统电容-电压（C-V）测量功能的频率范围，支持该公司最新九槽4200-SCS仪器架构。     

吉时利增强了S530参数测试系统的测量功能

吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案——S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件（KTE V5.4）的支持,S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以及脉冲发生、频率测量和低电压测量的新型集成选件。这些新增强的功能帮助S530系统实现了更宽范围的生产参数测试应用和高速、经济有效的测试方案。     

吉时利为功率器件特性分析提供7种解决方案

吉时利仪器公司近日为大功率器件的参数曲线分析应用推出了7种解决方案,适用于高达3,000V和100A的大功率器件特性分析。这7种配置包括：最新版本的吉时利ACS（自动化特性分析套件）基本版软件,它支持吉时利最新源表（SMU）,并发挥2600B系列TSP-Link技术的最大优势,在仪器之间实现500ns的触发同步。     

SWAGELOK增DRP^TM系列铁弗龙隔膜阀产品线推出可人为调整的阀门

美国吉时利仪器公司（Kdthley)最近发市了用于半导体生产过程中参数测试的第三代晶圆射频(RF)测量功能。对于吉时利公司第三代射频(RF参数测量系统方案(是一个选配件)，其独特的新内容是能提供连续、自动、实时的测试质量监控．在提供优等质量结果的同时，也获得了最高测量产能、最低运行成本，以及易于使用的特点。     

吉时利升级ACS Basic Edition软件扩大DC电源量测范围

美商吉时利仪器公司（Keithley）日前针对其广受欢迎的ACS Basic Edition软件进行升级，从而为更多的电源量测仪器（SMU）提供支持。兼容仪器的选择范围越广，便能更有效地克服太阳能电池、光电板和离散式功率半导体测试的电压和电流限制。     

DPX技术把庞大的实时RF数据转化成一目了然的视图

日前,吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI）宣布将与Stratosphere Solutions公司（Sunnyvale,CA）合作。Stratosphere Solutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案。吉时利与Stratosphere Solutions合作后将采用阵列测试元件组（TEG）技术展开先进工艺研发和监测工作。彼此共同的客户提供一种独特特征分析基本架构，采用吉时利S600系列参数测试仪和StratoPro^TM IP实现大容量、高产能、高可靠参数测量解决方案，确保客户成功实现先进半导体工艺。     

吉时利改写数字源表量程新记录

半个世纪以来,吉时利(Keithley)测试仪器在先进的电气测量领域的工程师和科学家中树立了世界范围的声誉。2010年吉时利加入泰克公司,作为美国丹纳赫集团测试测量事业部门一部分,吉时利还能一如既往地针对半导体、无线和纳米技术应用提供精确的解决方案吗?2011年4月,吉时利推出了2600A系列源表中的新产品2651A型高功率源表(System SourceMeter)仪器,以及全自动生产参数测试方案S530参数测试系统,再次向业界展示了公司在最苛刻的极弱电学测量领域的技术实力。     

吉时利联手研发65nm以下先进工艺特征分析技术

吉时利仪器日前宣布将与Stratosphere Solutions公司合作,采用阵列TEG（测试元件组）技术展开先进工艺研发和监测工作。双方的合作为彼此客户提供一种独特特征分析基本架构,使用吉时利S600系列参数测试仪和StratoPro IP实现大容量、高产能、高可靠参数测量解决方案,确保客户成功实现先进半导体工艺。     

Preso研制成功—款新型消防泵流量计

吉时利仪器公司日前宣布授权位于加利福尼亚利弗莫尔的FormFactor公司为吉时利半导体参数测试仪制造高性能参数测试探针卡。FormFactor公司所提供的探针卡将应用于吉时利S600系列参数测试仪，进行测量超低直流电流，以及对接触半导体晶圆的PIN脚进行标准直流参数测试。晶圆制造商和代工厂可以采用S600系列测试仪对用于组装和封装的晶圆进行合格性检测或工艺监测。     

吉时利为改良的脉冲测试发布新版测试软件

针对不断增长的测量需求提供解决方案的吉时利(Keithley)仪器公司(NYSE:KEI),日前发布6.1版交互式KTEI及功能强大的KTE(I吉时利交互式测试环境)测量软件之最新版本,适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。脉冲测试正成为日益重要的新特性分析技术。高速脉冲避免了自加热效应可能造成的损坏并应用于新半导体材料和器件的特性分析,例如高k栅层叠特性分析中的电荷俘获。吉时利4200-PIV包将4200-SCS的能力扩展至包含脉冲发生和分析的领域,适用于…