光源色度参数的CCD测量系统

分析了将线阵CCD和微机系统用于测量光源色度参数的原理和方法，并对特种闪光灯、钪钠（Sc-Na）灯和普通日光灯等光源的色度参数进行了测量，表明该方法具有简便快速、准确可靠等优点。     

CCD显微摄像法测量孔心距

通过对19J型万能工具显微镜进行数码改造,建立了工件孔心距测量的CCD数码显微摄像系统。讨论了CCD摄像法测量孔心距的基本原理,简要介绍了系统的标定,给出了测量结果及准确度分析。实验表明,测量系统可快速、精确地测量工件孔心距。     

利用线阵CCD测量液体的折射率

根据光线穿过厚度均匀的液体介质时所产生的横向偏移量,提出了一种利用CCD和计算机测量液体介质折射率的新方法。实验结果验证了此方法的有效性和实用性。     

基于线阵CCD的板宽非接触式在线测量

介绍了一种采用线阵CCD构成的板宽非接触式测量装置,将它安装在铣床的适当位置,可以对每块加工出的地板的宽度实施快速、自动测量。采用该测试系统大大提高了产品的成品率。该系统的测量范围为0～100mm,测量不确定度优于±0.35mm。     

基于CCD技术的自举式光学水平基准测量方法

提出了一种以CCD器件为传感器的光学水平基准的测量方法 ,具体介绍了以单片机 89C5 1为核心处理器的水平基准测量电路的软硬件设计。     

提高线阵CCD大尺寸自动测量系统精度研究

利用光学成像技术与线阵CCD信号串行输出相结合测量物体尺寸，存在着光学系统衍射引起的像边缘不确定带来的测量误差。而传统的采用二值化电路并不能完全解决这个问题。文章在分析传统测量原理基础上提出了新的CCD输出信号的处理方法，并给出了软件框图。     

一种测量透明薄膜厚度的新方法

介绍了一种分析获取干涉图的新方法，可使得计算机处理简单，我们可以利用此结合很容易地测量出薄膜的厚度。     

基于DSP的线阵CCD高速精密测量系统的设计

传统的非接触线阵电荷耦合器件(CCD)测量系统,在速度和精度上都无法满足现代测量的要求。提出了以数字信号处理器(DSP)作为信号处理器,以复杂可编程逻辑器件(CPLD)作为时序发生器,结合高速ADC和先进先出(FIFO)存储器的新测量方法。重点介绍了CPLD配合DSP进行高效、灵活的采集控制部分。实验表明:该系统高效、稳定。     

小模数齿轮齿形误差的CCD测量方法研究

针对尺寸较小的小模数齿轮齿形误差的测量,提出了基于CCD和图像处理技术的齿轮齿形误差的测量方法。在测量中,为了更准确地获得边缘位置信息,对图像进行了中值滤波、二值化、边缘提取,亚像素拟合等处理,并解决了齿轮圆心确定、定标、多幅图像间的图像拼接等问题,以及在分析齿形误差的测量方法和测量过程的基础上建立了测量数学模型,从而完成了整个测量过程的设计。实验表明:采用图像测量方法使测量的最大绝对误差为9.2mm,对小模数齿轮齿形误差的测量提供了一个有效途径。     

基于CCD相机的光纤器件透过率测试

提出了利用单积分球和CCD相机对光纤器件透过率进行测量的方案。采用积分球产生漫射光,分别对积分球口的漫射光和放置光纤器件后的透射光光通量进行测试,再通过图像处理软件对所采集的图片处理,以求光纤器件的整体透过率。介绍了系统的光学设计和CCD镜头的选择,通过样品求得其透过率为60.04%。此系统操作方便,测试结果客观、准确,还可以实现对光纤器件的局部透过率、桶枕形失真、分辨力等技术参数的测量。     

基于CCD的航空相机镜头焦距自动测量系统

介绍了一种以线阵CCD固态传感器取代读数显微镜 ,能自动测量和实时显示结果的航空相机镜头焦距测量系统 ,论述了系统的工作原理、软件和硬件的设计及该系统的测量误差     

一种提高CCD空间分辨力的方法研究

基于多次移位成像的原理,提出了一种提高红外电荷耦合器件(CCD)空间分辨力的方法.在不改变CCD像元尺寸的前提下,使各相邻像元对应的地面目标进行局部多次采样,提高采样频率,达到将CCD空间分辨力提高多倍的目的.仿真试验显示了其良好的性能.     

高稳定度的CCD冷却控制系统研究

冷却型CCD相机系统对冷却的要求是较高的,不仅要求冷却温度低到-50℃左右,同时也要求稳定度达到≤±0.1℃的水平。利用TEC系列半导体制冷器件、集成测温探头AD590和采用智能PID调节原理的SR1控制器组成了CCD冷却控制系统,对其控制原理和结构进行了研究,据此而研制的CCD冷却控制系统性能达到了较高的水平,用于TK512B-CCD的冷却时,冷却温度可低到-45℃,稳定度≤±0.1℃。     

一种新的CCD外围电路设计方法

CCD外围电路包括CCD时序电路和信号处理电路。外围电路的设计是CCD应用的关键问题。介绍CPLD(可编程逻辑器件 )和模拟器件混合结构的CCD外围电路实现方法 ;对设计电路进行了深入分析、讨论 ,并给出了CPLD电路的时序仿真波形。     

基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量

通过分析基于线阵CCD传感器的一维尺寸测量原理,提出了采用拼接技术测量较大一维尺寸的测量方案,并系统分析了该方案的测量误差。实验表明:采用该方案进行一维尺寸测量时,可以达到较大的测量范围和较高的测量准确度。