一种 FLEX 系列 FPGA 测试建模方案磁

目前常用的 FPGA 器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法,其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了 FPGA 器件的结构和工作原理的基础上,提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案,对逻辑单元、嵌入式阵列和 I／O 双向管脚的覆盖率可达100％,且功能简单、结构清晰,易于模拟测试向量和故障定位。     

基于FPGA的电路板自动测试技术研究

军用电子装备中含FPGA器件的电路板的测试诊断一般采用边界扫描技术、Ⅵ曲线测试技术以及边界扫描和外部输入矢量相结合的方法;边界扫描技术无法进行外围器件的测试;Ⅵ曲线测试技术由于不能测试器件的逻辑功能及内部节点,故障覆盖率相对不高;边界扫描和外部输入矢量相结合的方法无法判断FPGA器件工作是否正常,因而不能完成整板功能的测试;综合应用ATE技术、VITAL标准和LASAR仿真技术,提出一种含FPGA器件电路板的自动测试思路,解决含FPGA器件电路板的自动测试问题.     

FPGA测试研究

文章针对FPGA的用户级ATE测试进行简要分析,对实现过程的部分关键之处提出自己的见解。从可实现性和资源测试覆盖率两方面着手,对FPGA内部部分资源的测试方法进行简要介绍,其测试的主要目的是使得FPGA芯片在用户采购后得到适当的检验和测试。     

FPGA测试中故障屏蔽现象的解决方法

以Xilinx公司FPGA的理论结构为结构模型,提出了FPGA测试中的故障屏蔽现象,并给出该现象的产生原因和判断条件,在此基础上进一步提出相应的解决办法和建议,避免或减少了故障屏蔽现象的出现,提高了测试FPGA的故障覆盖率。     

FPGA嵌入式测试方法研究

FPGA器件的高密度化,高集成度,使得电路板越来越复杂,从外部对电路板的结构和功能执行测试变得更加困难,因此需要通过对FPGA实现嵌入式测试以便有效降低测试的难度;文中首先对FPGA的嵌入式测试的特点进行了概述,然后针对以FPGA为核心的常见电路进行了嵌入式测试方法研究,并介绍了其核心技术边界扫描测试原理,探讨了具体的实现方案,最后根据其特点简要分析了其应用前景.     

关于并行程序时序测试中测试覆盖率的研究

在软件测试中,测试覆盖率（ｃｏｖｒａｇｅ ｒａｔｉｏ）是评判程序测试完成程度的重要指标之一。然而,针对并行程序时序的测试覆盖率,目前国际上还未见比较实用的定星分析方法。文中以树型拓扑结构的广播与归并操作的分布工并行实现为例,提高了一种建立在同步序列模型基础之上并专门适合于原子事件测试方法的有关分布式并行程序时序测试的测试覆盖率的数值计算方法。由于广播与归并是两个比较有代表性的并行操作,因此文中所描     

FPGA测试技术及ATE实现

随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元（CLB）混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统（ATE）上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试,为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。     

ispLSI测试

讨论ispLSI可编程器件测试方法和技术，介绍功能测试模型；提出了逻辑功能测试和时间延迟测试的实现方法。     

复杂混合信号SoC芯片的延迟测试

随着芯片集成度的持续提高以及制造工艺的不断进步,对测试覆盖率和产品良率的严格要求,需要研究新的测试方法和故障模型。基于扫描的快速延迟测试方法已经在深亚微米的片上系统（SoC）芯片中得到了广泛的使用。通过一款高性能复杂混合信号SoC芯片的延迟测试的成功应用,描述了从芯片对延迟测试的可复用的时钟产生逻辑的实现,到使用ATPG工具产生延迟图形,在相对较低的测试成本下,获得了很高的转换延迟和路径延迟故障覆盖率,满足了产品快速上市的要求。     

FPGA测试配置完备性的分析评价方法

测试配置开发是FPGA测试中的重要环节之一,为加快FPGA测试配置开发进程,提出一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法.首先建立FPGA基本可编程单元的配置词典,给出其完备测试需要的所有配置码;然后采用模板化的方法分析测试配置,计算测试配置对配置词典的覆盖率;最后根据计算的覆盖率评价测试配置的完备性.实验结果表明,文中方法能够正确地评价测试配置的完备程度,报告测试配置所有可测和不可测的FPGA资源;与故障仿真方法相比,该方法的时间复杂度从O(kpn2)减少到O(kn′),运行时间从数百小时缩短到几分钟,且运行时间独立于FPGA的阵列规模.     

Lattice可编程器件测试程序开发技术

本文讨论可编程器件测试方法以及测试程序设计技术。介绍了功能测试模型、测试程序生成软件以及测试技术规范。     

FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究

基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求。传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯片的测试。在现有LUT自测试链结构的基础上,通过合理选择TPG的电路结构及测试配置,能够在相同测试开销下增加TPG部分的故障覆盖率,提高测试效率。     

FPGA联机测试方法的研究与实现

针对传统的FPGA测试方法存在的问题和缺陷,提出FPGA联机测试的方法。该方法将FPGA联机测试硬件平台安装在个人台式计算机上,通过PCI接口进行数据传输。联机测试应用软件控制FPGA物理测试过程中采样数据存储,嵌入第三方仿真工具软件进行波形显示和分析,降低了测试成本,解决了大数据量测试问题。     

一种基于反熔丝结构的FPGA测试技术研究

介绍了一种基于反熔丝结构的FPGA电路结构及特点，阐述了该电路的功能、直流参数、交流参数的测试方法，并着重研究了该电路功能测试的测试要点及编程技巧。     

FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁

FPGA 是广泛应用于集成电路设计,片上系统等多领域,随着 FPGA 的广泛应用,对其可靠性的要求也越来越高,由于其结构和功能复杂,其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元（LE）的结构,提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例,简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。     

基于模型驱动的Web应用自动化测试平台设计与应用

为了提高Web应用的测试效率和测试覆盖率,保证Web应用软件的质量,设计了基于模型驱动的Web应用自动化测试平台。该平台结合了基于UML模型的测试用例生成、基于关键字驱动思想的框架设计和复杂多层的自动化测试框架,实现了测试用例自动设计生成及测试自动化执行,增加了测试脚本的复用性,显著提高了测试效率和测试覆盖率。最后,给出应用实例,并与现有的测试方法和平台进行对比,突出本平台的可行性和应用价值。     

FPGA可编程逻辑单元测试方法研究

FPGA是广泛应用于集成电路设计,片上系统等多领域,随着FPGA的广泛应用,对其可靠性的要求也越来越高,由于其结构和功能复杂,其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了SRAM型FPGA的逻辑单元(LE)的结构,提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以Altera公司FPGA为例,简述了在超大规模集成电路测试系统CATT-400上实现FPGA在线配置和功能测试方法。     

同步全扫描时序电路的TVAC测试方法?

自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此,研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用,提出2种测试结构,并对ISCAS89电路进行实验。实验结果表明,与加权伪随机方法和循环自测试方法相比,该方法可用较少测试矢量达到较高故障覆盖率。     

LDRA Testbed中常用覆盖测试方法研究

使用LDRA Testbed对实例进行覆盖测试,介绍了获得语句覆盖率、分支覆盖率以及MC/DC覆盖率的方法,同时阐述了这3种覆盖测试方法的优劣,表明了LDRA Testbed能够有效获取被测软件的动态覆盖率信息,降低测试难度,提高测试效率。     

Xilinx XC4000系列FPGA自动测试平台搭建

随着FPGA的发展,FPGA测试技术也得到了相应的发展。因为FPGA的结构和传统专用集成电路(ASIC)有着本质的区别,在FPGA中不能形成可测性设计电路,但它的可编程能力决定了其测试电路可以通过编程的方法来实现。本文讨论了Xilinx XC4000系列FPGA中CLB资源和互连资源的自动测试方法。而且提出了一种新的测试资源坐标定位方法,使得由软件仿真向器件真实测试取得了突破。并搭建了硬件测试平台。