FPGA 可编程逻辑单元测试方法研究磁

FPGA 是广泛应用于集成电路设计,片上系统等多领域,随着 FPGA 的广泛应用,对其可靠性的要求也越来越高,由于其结构和功能复杂,其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了 SRAM 型 FPGA 的逻辑单元（LE）的结构,提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以 Altera 公司 FPGA 为例,简述了在超大规模集成电路测试系统CAT T‐400上实现 FPGA 在线配置和功能测试方法。     

FPGA测试技术及ATE实现

随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要。介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元（CLB）混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统（ATE）上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试,为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法。     

Xilinx XC4000系列FPGA自动测试平台搭建

随着FPGA的发展,FPGA测试技术也得到了相应的发展。因为FPGA的结构和传统专用集成电路(ASIC)有着本质的区别,在FPGA中不能形成可测性设计电路,但它的可编程能力决定了其测试电路可以通过编程的方法来实现。本文讨论了Xilinx XC4000系列FPGA中CLB资源和互连资源的自动测试方法。而且提出了一种新的测试资源坐标定位方法,使得由软件仿真向器件真实测试取得了突破。并搭建了硬件测试平台。     

FPGA配置芯片测试方法的研究与实现

集成电路规模越来越大,测试难度也越来越高,边界扫描方法的提出降低了测试的复杂度,适合进行大规模集成电路的测试。介绍了边界扫描的概念和特点,研究了FPGA配置芯片测试方法,并在V93000测试系统上实现了配置芯片EPC2的边界扫描测试,给出了具体测试过程,符合IEEE1149.1边界扫描规范,为具有JTAG接口的元器件测试提供了依据。     

自动测试系统中矩阵开关的设计与应用

开关系统是整个自动测试系统的中心,其灵活性、可靠性决定了测试系统的灵活性和可靠性。本文介绍了一种应用译码器配合开关阵列研制的高灵活性、可靠性的矩阵开关结构,采用FPGA作为实现控制逻辑的核心部件,有效地节约了测试成本并提高了测试效率。     

基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统

采用现场可编程门阵列（FPGA）和PCI9052目标接口芯片，实现了符合PCI总线规范和IEEE1149．1标准的超大规模集成电路边界扫描测试系统，具有对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能，结构简单、速度快、工作可靠。     

复旦大学具有自主知识产权的可编程逻辑电路通过专家鉴定

8月15日复旦大学宣布,该校专用集成电路与系统国家重点实验室经过8年努力,已研制成功具有自主知识产权的第一款国产可编程逻辑电路(FPGA)10万门规模器件及软件系统原型。该成果日前通过了上海市科委主持的专家鉴定。全世界以FPGA为代表的可编程逻辑器件在去年达到26亿元的销售额,近年来其增长率高达19.5%,是集成电路领域中增长最快的器件之一。目前国内采用的FPGA器件全部依靠进口,国内通信公司对它的需求量很大,在航空、航天和军事上也具有其它器件所不可替代的作用。复旦大学具有自主知识产权的可编程逻辑电路通过专家鉴定…     

一种灵活的包含嵌入式存储器的FPGA结构

近年来,集成电路制造工艺的巨大提高使得FPGA有能力实现大的数字系统电路.这些大的系统通常需要大量的存储器以存储数据.很多FPGA生产商已经推出了含有大的嵌入式存储器的FPGA芯片.然而,大多数学术方面的CAD工具只针对于同质的FPGA结构(即只包括逻辑模块和布线通道的FPGA结构).FPGA的布线结构通常被表示为RRG(布线资源图).本文将介绍一种包含嵌入式存储器模块的FPGA的灵活结构以及一种建立RRG的方法.文中我们对VPR(versatile placingand muting)进行了改进,使得VPR可以处理包含嵌入式存储器结构的FPGA的布局布线问题,同时保持了VPR的灵活性.     

基于LabVIEW的集成电路测试数据上传和保存

以MCU和FPGA等嵌入式系统为核心I的测试方案在集成电路产业获得日益广泛的应用,但是这类定制的嵌入式的测试系统的数据上传和保存较为复杂和困难。本文基于LabVEW开发了集成电路测试数据的上传和保存程序,在集成电路I测试中,由MCU、FPGA等嵌入式的定制开发的测试系统,I将测试数据通过虚I拟串口,将测试数据以一定格式发送给PC,PC端运行LabVEW程序,将串口发送过来的测试数据分类解析后显示到U界面,同时,LabVEW将测试数据保存到文件中,供进一步数据分析。     

FPGA和EPLD应用领域的研究

现场可编程门阵列(FPGA)和可擦可编程逻辑器件(EPLD)是自可编程逻辑器件(PLD)问世以来的第四代产品,这种半定制逻辑电路使得人们在实验室里就可以设计出大规模专用集成电路(ASIC).本文将对FPGA和EPLD的结构特点进行分析,指出两者之间的不同,并探讨其各自的应用领域.     

一种SRAM型FPGA单粒子效应加固平台设计

针对大规模集成电路在空间环境的应用需求,介绍了目前国内外针对FPGA的抗辐射加固的研究现状,对空间辐射和单粒子效应进行了简单描述,分析了SRAM型FPGA的结构和故障特点,提出了一种基于高可靠单元针对Xilinx Kintex-7系列FPGA进行配置、监控、回读校验和刷新的单粒子翻转加固硬件平台设计。介绍了对Kintex-7系列FPGA进行防护的流程和故障注入测试系统的组成,该平台已经在某项目中得到应用并通过了功能测试和相关环境试验,为大规模集成电路在空间应用提供了设计参考。     

数字通道传输延迟时间测量方法研究

在集成电路测试领域,传输延迟时间tPD是一个非常重要的参数,其不仅反映集成电路对信号的响应速度,也是集成电路测试系统交流参数测量准确的重要影响因素。详细分析了集成电路测试系统传输延迟时间产生的原因,及其对待测器件交流参数测量结果的影响。提出了基于时域反射技术的集成电路测试系统数字通道传输延迟测量方法,并在泰瑞达J750EX集成电路测试系统上进行了实验验证。通过对实验数据的分析,表明该方法能有效测量数字通道传输延迟时间,提高集成电路测试系统交流参数测量准确度。     

基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究

针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电路系统中已有数模混合资源,在添加极少的电路元件的基础上,实现了基于FPGA的模拟集成电路性能测试系统;实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试,其频率特性的测试结果误差均小于5%,表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。     

通用处理器设计中硬件仿真验证

基于动态的RTL仿真依然是验证超大规模集成电路的主要方法。在使用动态仿真方法对通用微处理器这样大规模的设计进行功能验证时仿真速度成为了瓶颈,通常的解决方案是使用FPGA进行硬件的物理原型仿真,使用FPGA可以在较短的时间内测试大量的测试向量,但是使用FPGA物理原型验证的可调试很差。针对这一主要问题,提出了三级的层次化仿真验证环境,使用硬件仿真器的仿真加速作为中间层的解决方案,即可以提高仿真速度,也提供了良好的调试环境。同时针对大规模设计多片FPGA逻辑划分提出了改进的K—L算法,优化了FPGA的利用率和片间五连。     

基于SOPC技术的集成电路芯片自动测试系统

介绍一种基于SOPC（可编程片上系统）技术实现的集成电路芯片自动测试系统,采用支持NIOSⅡ软核的Cylone Ⅱ EP2C35器件为主要部件,并将测试结果通过LCD液晶显示器显示出来。将此系统用于测试74系列中、小规模集成电路芯片,达到了很高的精度,而且可以利用FPGA软、硬件的可编程性,灵活地实现对其它系列器件的测试。     

集成电路测试系统的竞争冒险

在集成电路测试领域,因客观存在的通道传输延迟而导致集成电路测试系统对交流参数测量准确度降低是不可避免的。尽管时域反射技术的应用在一定程度上解决了这一问题,但是仍然无法完全解决传输延迟所带来的所有问题。论文以泰瑞达J750EX集成电路测试系统为平台,通过实验证实数字通道在传输延迟修正后存在逻辑异常的现象,并分析其发生的原因。     

一种 FLEX 系列 FPGA 测试建模方案磁

目前常用的 FPGA 器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法,其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了 FPGA 器件的结构和工作原理的基础上,提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案,对逻辑单元、嵌入式阵列和 I／O 双向管脚的覆盖率可达100％,且功能简单、结构清晰,易于模拟测试向量和故障定位。     

数字集成电路测试技术应用

介绍了数字集成电路测试系统的基本构成,当今超大规模数字集成电路测试的基本原理,并在掌握这些测试理论的基础之上针对不同类型的测试系统利用其各自测试语言进行编程的测试技术应用,同时也提出了集成电路测试技术面临的挑战和未来发展趋势。     

基于UCOS和UCGUI的嵌入式数字示波器

提出了一种基于UCOS和UCGUI的数字存储示波器的软件时序逻辑状态机实现技术,硬件上采用FPGA ARM的结构,充分利用FPGA在逻辑控制、高速信号采集方面的优势,以及ARM核心在LCD波形刷新、人机接口以及通信协议处理的灵活性,在提高系统整体性能和可靠性的同时简化了系统的软件和硬件结构.     

一种FLEX系列FPGA测试建模方案

目前常用的FPGA器件测试方法为基于实际应用的编程测试方法,其关键在于选择什么样的测试模型。论文在研究了FPGA器件的结构和工作原理的基础上,提出一种可行性强、覆盖率高的测试模型建立方案,对逻辑单元、嵌入式阵列和I/O双向管脚的覆盖率可达100%,且功能简单、结构清晰,易于模拟测试向量和故障定位。