平炉钢渣的X射线荧光光谱定量分析

本文介绍采用四硼酸锂熔融法将试样制成玻璃片样,用X荧光光谱仪对平炉钢渣直接进行化学成分定量分析的制样方法,道参数,分析参数的选择以及含量计算参数的设置。经用标准样品进行分析结果对照和对其它样品的分析结果表明,本法的重现性,分析准确度令人满意。     

矿石中金的X射线荧光光谱测定

由于矿石中金的含量极低,而测最数据的准确度和精密度要求又高,因此在采用X射线荧光光谱法测定之前,必须用化学法进行富集。本文采用的方法是:王水分解样品,TBP萃淋树脂反相色层分离,硫脲解析金,薄膜法制样,X射线荧光光谱法测定。探测限为0.1～0.2微克。测金的线性范围为0.11微克/毫升至10微克/毫升。准确度与精密度良好。     

X射线荧光光谱在标准物质和标准方法研究中的应用评介

标准物质研制需要多种高精密度、高准确度方法的综合运用,特别是样品粉碎加工后的均匀性和稳定性检验,更特别强调检测方法的高精密度测量。X射线荧光光谱(XRF)技术是当今地质材料主、次量组分精密度最高、最经济快速、无污染的多元素分析技术,因此在地质标准物质研制中应用广泛并发挥了重要作用。文章从样品均匀性、稳定性、多元素定值分析和标准分析方法制定方面评介了XRF在地质标准物质研制中的应用,也介绍了XRF在国家和行业标准分析方法制定中的应用。特别介绍了XRF在进行均匀性检验实践中的重要发现:样品不均匀误差已成为现代地质分析误差的重要来源,并从地质分析样品粒度随分析技术进步而不断减小的历史演变提出了应进一步降低分析样品(包括标准物质)粒度的建议,使其与XRF、电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)这些当今最重要的现代分析技术相适应。此外,还评介了超细标准物质研制与超细样品分析方面的研究工作,简述了该项研究的意义和可能对整个地质分析发展带来的影响。美国国家标准与技术研究院(NIST)在这方面的研究工作标志着超细标准物质研制和超细样品分析将是地质分析发展的...     

X射线荧光光谱在标准物质和标准方法研究中的应用评介

标准物质研制需要多种高精密度、高准确度方法的综合运用,特别是样品粉碎加工后的均匀性和稳定性检验,更特别强调检测方法的高精密度测量。X射线荧光光谱(XRF)技术是当今地质材料主、次量组分精密度最高、最经济快速、无污染的多元素分析技术,因此在地质标准物质研制中应用广泛并发挥了重要作用。文章从样品均匀性、稳定性、多元素定值分析和标准分析方法制定方面评介了XRF在地质标准物质研制中的应用,也介绍了XRF在国家和行业标准分析方法制定中的应用。特别介绍了XRF在进行均匀性检验实践中的重要发现:样品不均匀误差已成为现代地质分析误差的重要来源,并从地质分析样品粒度随分析技术进步而不断减小的历史演变提出了应进一步降低分析样品(包括标准物质)粒度的建议,使其与XRF、电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)和电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)这些当今最重要的现代分析技术相适应。此外,还评介了超细标准物质研制与超细样品分析方面的研究工作,简述了该项研究的意义和可能对整个地质分析发展带来的影响。美国国家标准与技术研究院(NIST)在这方面的研究工作标志着超细标准物质研制和超细样品分析将是地质分析发展的一个重要方向。全篇引文125篇。     

黄金饰品质量的X射线荧光光谱无损测定

X射线荧光光谱仪具有无损分析和高精度的特点，本文研究并建立了成分复杂多变的黄金饰品、K金饰品的无损测定方法，探讨了黄金饰品成色与测量计数率之间的关系。     

能量色散X射线荧光光谱在钢铁工业中的应用

评述了能量色散X射线荧光光谱仪的发展现状及其在钢铁分析中应用，并详细介绍了飞利浦公司生产的能量色散X射线荧光光谱仪MinPal(使用Si-PIN探测器）在合金和高炉炉料分析中的应用，以及作者研制的SZ－2型低分辨率能量色散X射线荧光光谱仪在镀层厚度分析中的应用情况，表明这类仪器可以满足钢铁工业中原料，镀层厚度及组成，金属材料的分类等分析的需要。     

X射线荧光光谱分析用的含铁尘泥标准样品的研制

用含铁尘泥生产原料与化学纯氧化物按一定比例混合制备了包含铁,镁,铝,硅,磷,钙,钛,锰, 锌共9种成分的含铁尘泥X射线荧光分析用系列标准样品。标准样品的均匀性和稳定性通过X射线荧光光谱检验,检验结果分别用方差分析和t检验法统计处理。结果表明:当显著性水平a= 0.05时,所制备的标准样品单元内和单元间的均匀程度达到标准物质的制备要求;标准样品经12个月3次分析,均未发现显著性变化,样品的稳定性良好。最后,用化学湿法和电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)对标准样品定值,表明标准样品中各元素含量呈均匀梯度分布,含量范围较广,可以应用于X射线荧光光谱定量分析含铁尘泥。     

铁矿中分析元素的X射线荧光光谱测定

采用Ｘ射线荧光光谱仪和熔融制样技术,试制了钴内标来实现Ｘ射线荧光光谱法对全铁品位的测定。经标样验证,当样品烧损量较小时,结果令人满意,进一步研究了该方法的测定精度和制样精度。     

炉渣和原材料的X射线荧光光谱快速分析

介绍了玻璃熔片X射线荧光光谱法快速分析炉渣中全铁 ,CaO ,MgO ,Al2 O3,SiO2 ,TiO2 ,MnO ,P2 O58种常规成分的方法。讨论了玻璃熔片的制备、熔片的长期稳定性和基体的吸收增强效应的校正 ;采用 2 8个国家标准物质和合成标样制作校准曲线。通过本法与标准样品的标准值和未知样品的化学法、ICP AES法的对照 ,证明了本法是一个高效、快速、准确而实用的分析方法     

薄膜X射线衍射仪

利用X射线衍射法研究通过蒸发法沉积在玻璃、硅单晶、金属或聚合物等基体上的薄膜越来越受到重视。但是,采用常规的衍射仪,由于这种薄膜的X射线衍射强度很弱,结果是背景相当高,难以获得明晰的X线衍射图形。作为对这种弱衍射线的测量方法,一种途径是使X射线相对于样品表面成一个小角度入射到样品上,以便有效地检出来自薄膜的衍射X射线。据报导,日本理学公司已经开发了使用这种技术的一种新型薄     

X射线荧光光谱仪

本文介绍了X射线荧光的基本知识,对常用的波长和能量色散光谱仪的结构、功能进行了分析对比。     

流程用X—射线荧光分析仪研究

选矿生产中迫切要求及时掌握原、精、尾矿中有用金属的品位。白银公司选冶厂与白银矿冶所共同组成了研究试验小组,从1973年5月开始设计、试制流程用多道X射线荧光分析仪,经过实验室试验和工业试验后,1976年国庆节开始试报一个系统尾矿的铜分析结果,1977年元旦开始应用于一个选矿系统的原、精、尾矿三点的铜分析,代替     

X射线荧光光谱测定硅铝钡合金中的主要元素

采用X射线荧光光谱分析仪检测硅铝钡合金中的Si、Al、Ba元素。将硅铝钡合金制备成玻璃熔融样片,通过优化硅铝钡样品的制样方法、X荧光光谱仪的测量基础条件和干扰因子的校正,可以有效地消除样品基体效应和矿物效应,得到与湿法化学值一致的测量结果,提高了样品的分析速度,且准确度能够满足生产检验要求。     

X射线荧光光谱在现场分析中的应用评介

现场分析对于地矿行业来说是一个永恒的课题,而X射线荧光光谱(XRF)的技术特点又使其成为地质野外现场分析应用最方便和有效的技术之一。文章从陆地野外现场分析和测井、船载和水下现场测量及月岩探测等方面评介XRF现场分析的应用。在陆地现场分析方面:包括仪器研制、野外实验及应用研究;现场应用涉及矿产勘查、化探、矿山分析、矿区环境调查、岩芯检测、X射线荧光测井和多功能车载现场分析等。在船载和水下现场分析方面:评介了船载X射线荧光分析仪器在我国大洋多金属结核、海山富钴结壳和深海稀土资源调查中的应用及我国研制的海底金属矿产水下原位分析装备的实验研究。月岩探测方面:介绍了我国"嫦娥一号"、"嫦娥二号"搭载的X射线光谱探测系统的应用。全篇引文117篇。     

X射线荧光光谱在岩石分析中的应用评介

X射线荧光光谱(XRF)在岩石分析中的应用是其在地质材料领域分析应用的基础。文章以硼酸盐熔融制样、高精密度全自动化现代XRF仪器及软件和基体效应数学校正等为主的现代XRF理论与技术方法的引入、消化、研发及应用,多种标准物质系列的形成与实际应用研究工作,直接压片法岩石多元素精确分析的研究与应用和用能量色散X射线荧光光谱(EDXRF)进行岩石主次组分准确分析的探索等方面较全面地评介了XRF分析技术在我国岩石分析中应用的历史发展和已取得的重要成果。最后评介了这些成果的历史和现实意义:XRF作为一种快速、准确、高自动化的现代仪器分析方法已基本"替代"了传统的化学方法中主、次、痕量元素的分析,而成为当今地质材料多元素分析的主导方法。文章特别强调了在超细标准物质研制与超细样品制备方面的研究工作以及该项研究的意义和可能的深远影响,美国国家标准与技术研究院(NIST)在这方面的研究工作标志着这将是地质分析技术研究的一个新的研究方向。引文161篇。     

X射线荧光光谱粉末压片法分析宫镝混合稀土

采用粉末直接压力制样，XRF法分析富镝混合物中稀土元素，方法简便、快速。     

基于CNKI的X射线荧光光谱研究文献计量学分析

为客观掌握我国X射线荧光光谱(XRF)的研究进展,采用中国知网(CNKI)库内相关研究论文的年度分布、机构、基金、期刊来源等数据,结合Citespace的关键词分析方法,系统揭示了我国X射线荧光光谱的研究进展。结果表明:我国X射线荧光光谱研究处于快速发展阶段,每年论文发表数量呈指数增长;发表研究论文数量最多的是成都理工大学(69篇),总被引频次最高的机构是中国地质科学院国家地质实验测试中心(819次);目前X射线荧光光谱研究受到国家层面的基金支持力度不足;被引频次最高的论文第一作者是李国会(被引93次);发文量和论文被引率最高的期刊是《冶金分析》(300篇、占86.3%);总被引频次和篇均被引频次最高的期刊是《岩矿测试》(2541次、14.4次/篇);关键词分析结果表明,研究热点集中在样品制备、分析方法研究、检测应用;理论研究所占比例远远低于应用研究。所进行的研究对了解X射线荧光光谱的发展动态,推动相关研究工作的深化将产生重要的意义。     

钛白中铝、硅的X射线荧光光谱测定

拟定了用熔融法制片、PW1400X射线荧光光谱仪测定钛白中铝、硅的分析方法。制样手续虽较常用的粉末直接压片麻烦,但可消除试样与人工合成粉末标准在粒度、结构等方面存在的明显差别,保证了分析的准确度。对SiO_2、Al_2O_3的测定下限均为0.1％,上限分别为5％和7％。含有3％Al_2O_3、2％SiO_2的试样的统计方法精密度,其变异系数均约为2％;加料回收率为90～110％。     

基于复数小波的X射线荧光光谱本底扣除法

在X射线荧光光谱(XRF)分析中,本底能否有效扣除对分析结果的精确性有很大影响。针对实数小波变换系数在奇点附近有正负振荡及缺乏平移不变性等问题,提出了一种使用近似解析的复数小波扣除本底的新方法。该复数小波变换通过两个实数小波来实现,所以方法兼有实数小波局部时频分析和多分辨率等优点。采用复数小波分解光谱后,利用低频逼近重构信号得到本底。为了检验其有效性,对一个模拟的光谱和实验测得的光谱进行了本底扣除,并通过分析比较了方法对特征峰净峰面积和峰位置的影响,实验结果显示该复数小波得到的本底比一般实数小波的本底更为精确,证明了方法可以有效扣除本底并能保持峰面积等有效信号不变。     

X射线荧光光谱技术在地质分析中的应用研究

利用X射线荧光光谱技术进行地质的分析不仅不会破坏测试样品的完整性,同时还提升了测定结果的准确程度,操作起来更加简便,成本更低,速度更快,现在在我国已经得到了广泛的应用。本文主要说明了X射线荧光光谱分析法的基本原理,指出了X射线荧光光谱技术在地质分析当中的应用和X射线荧光光谱新技术的发展以及应用。