On Using Exponential-Golomb Codes and Subexponential Codes for System-on-a-Chip Test Data Compression

We examine the use of exponential-Golomb codes and subexponential codes can be used for the compression of scan test data in core-based system-on-a-chip (SOC) designs. These codes are well-known in the data compression domain but their application to SOC testing has not been explored before. We show that these codes often provide slighly higher compression than alternative methods that have been proposed recently.     

An Efficient Test Data Compression Technique Based on Codes

提出了一种新的测试数据压缩/解压缩的算法,称为混合游程编码,它充分考虑了测试数据的压缩率、相应硬件解码电路的开销以及总的测试时间.该算法是基于变长-变长的编码方式,即把不同游程长度的字串映射成不同长度的代码字,可以得到一个很好的压缩率.同时为了进一步提高压缩率,还提出了一种不确定位填充方法和测试向量的排序算法,在编码压缩前对测试数据进行相应的预处理.另外,混合游程编码的研究过程中充分考虑到了硬件解码电路的设计,可以使硬件开销尽可能小,并减少总的测试时间.最后,ISCAS 89 benchmark电路的实验结果证明了所提算法的有效性.     

ATE测试成本优化

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等。文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案。     

航空电子自动测试设备的开发与实现

简要说明了组建通用航空电子自动测试设备的基本要求和目标．描述了典型测试设备的应用现状．介绍了ATE测试设备的组成、PAWS软件平台的组成和体系结构,以及ATLAS语言的语言特征,探讨了用PAWS开发自动测试系统的方法,并举例详细说明了在测试程序集TPS开发中的资源描述和自动资源配置过程．展望了ATE的未来发展趋势．     

Verigy 93000 SoC测试系统及测试中偏置电流的实现

Verigy 93000 SoC测试系统是一个低成本、可扩展的单一测试平台,它是满足SoC全面发展需要的芯片测试系统解决方案.概括介绍了93000自动测试系统(ATE),并讨论了其偏置电流的实现方法.     

Test Wrapper and Test Access Mechanism Co-Optimization for System-on-Chip

Test access mechanisms (TAMs) and test wrappers are integral parts of a system-on-chip (SOC) test architecture. Prior research has concentrated on only one aspect of the TAM/wrapper design problem at a time, i.e., either optimizing the TAMs for a set of pre-designed wrappers, or optimizing the wrapper for a given TAM width. In this paper, we address a more general problem, that of carrying out TAM design and wrapper optimization in conjunction. We present an efficient algorithm to construct wrappers that reduce the testing time for cores. Our wrapper design algorithm improves on earlier approaches by also reducing the TAM width required to achieve these lower testing times. We present new mathematical models for TAM optimization that use the core testing time values calculated by our wrapper design algorithm. We further present a new enumerative method for TAM optimization that reduces execution time significantly when the number of TAMs being designed is small. Experimental results are presented for an academic SOC as well as an industrial SOC.     

基于遗传算法的测试访问机制最优化

讨论了使测试访问机制最优化的几个问题,然后试着采用遗传算法来解决这些问题,在两个SoC上用遗传算法进行实验,把实验结果与采用整数线性规划方法(Integer Linear Programming,ILP)的结果进行比较可以发现效果改善的很明显。实验结果说明采用遗传算法对测试访问机制进行最优化处理的效果要好于ILP。     

基于LXI总线的自动测试系统方案设计

为了满足军用自动测试系统准确度要求高、测量点多、实施性强的特点,实现提高测试准确度、简化硬件电路设计的目的,采用了基于LXI总线的数字化测试系统方法,做了将数字万用表L4411A和多路开关L4421A应用于ATE的实验。获得了实时性好,准确度高,简化硬件设计的结果,得到了基于LXI总线的数字化测试系统方案很好地满足了军用ATE系统需求的结论。     

基于硬件规范信息的测试设备设计

在介绍一种多对象适用自动检测设备硬件结构的基础上,详细叙述了该自动检测设备应用软件设计时将被测对象信息、检测设备硬件平台同被测对象间的硬件关联信息相对于测控程序进行分离并规范的思路及方法。通过硬件规范信息库的构建,该自动测试设备测控程序大大地减少了对检测设备与多被测对象硬件的关联性,具有一对多、易于扩充的优点。     

基于谱分析下的时间序列的平稳性检验

将时间序列分为S个子序列片断,用周期图方法估计时间序列的谱密度,在此基础上用3σ原理和两因素方差分析比较各子序列的异同,用以分别检验时间序列的均值函数和协方差函数的平稳性。较其它方法避免了复杂的计算,同时给出了检验统计量和判别准则,克服了人为主观因素的影响。     

一种基于时间序列的RFID供应链数据分析方法

通过挖掘海量RFID(Radio Frequency Identification)数据来优化供应链已经成为一个研究热点.本文针对供应链流通中出现的若干周转异常并且难以发现的问题,提出了一种基于时间序列的RFID供应链数据分析方法.将供应链的RFID数据统一成反映各环节周转状况的时间序列格式,然后通过分段趋势分解方法分解提取的时间序列数据,并根据分解后的随机项建立阈值来判断数据是否异常,从而建立相应的时间序列分析模型;最后基于模型检测数据异常.通过多样本和多数据集的实验检测,结果表明这种方法有效并具有较高的效率.     

用AHP方法优化电子装备测试点的BITE与ATE分配

针对故障诊断中测试冗余、测试资源分配不合理的问题,首先用解析冗余关系(A RRs)优选出测试点;分析了影响测试资源选择的因素,用层次分析法(AHP)建立了评价指标集的递阶层次结构,确定了各指标的综合权重,最后用模糊综合决策方法实现了测试点的BITE与ATE分层优化,对提高电子装备的诊断能力、降低测试费用具有指导意义.     

行波管自动测试设备控制与保护系统

介绍了一种行波管自动测试设备控制与保护系统,系统采用工业控制计算机(简称工控机)作为主控平台,单片机电路作为实时控制与保护下位机,提供行波管高压电源所需的电压基准和调制器所需的定时信号,实现电路各项数据的采样保护.工控机软件采用Visual Basic语言编程,下位机软件采用C语言编程,软件结构模块化设计,通过友好的操作界面对行波管进行自动测试.     

基于PXI总线的自动测试系统设计

针对电子设备的测试需求、系统开放性和可扩展的要求,开发了一种基于PXI总线的自动测试系统。详细说明了此系统的硬件构成和软件设计方法。该系统以PXI内嵌主控计算机为核心,以LabVIEW软件为开发环境,并综合运用标准接口和总线技术来实现系统的综合设计。系统具有良好的人机交互界面,在使用过程中运行稳定可靠、测试效率高、使用维护方便。     

基于小波理论的PSD测试系统的数据分析

位敏探测器(PSD)技术作为光电技术的重要组成部分,在各学科领域得到广泛应用.随着对PSD系统信号精度的要求越来越高,要求研究出更好的去噪效果的方法.针对PSD系统信号的特性,选择db8、sym8、coif8对含噪的信号进行处理和对比,并通过MATLAB中的小波GUI软件进行数字仿真,并对仿真结果进行比较,从而得出最适...     

多次可编程非易失性存储器的数据保持能力测试及其激活能分析

基于180 nm BCD工艺平台设计开发了32 Kibit的多次可编程(MTP)非易失性存储器(NVM)。详细描述了存储单元的结构设计特点、操作机理及影响非易失性的关键因素。测试并量化了其在高温条件下的数据保持能力,并根据Arrhenius模型设计了高温老化试验,进而计算其浮栅上电荷泄漏的激活能。经过10⁴次重复编程和擦除循环后,MTP NVM样品的高温数据保持(HTDR)能力验证结果表明该MTP NVM产品具有很好的可靠性。通过高温老化加速试验,计算出分别在100、125和150℃条件下样品的数据保持时间,并对1/T与数据保持时间曲线进行数学拟合,计算出在该180 nm BCD工艺平台下浮栅上电荷泄漏的激活能。     

基于电力线通信芯片可测性设计的研究实现

集成电路的快速发展,迫切地需要快速、高效、低成本且具有可重复性的测试方案,这也成为可测性设计的发展方向。此次设计基于一款电力线通信芯片,数字部分采用传统常用的数字模块扫描链测试和存储器内建自测试;同时利用芯片正常的通信信道,引入模拟环路测试和芯片环路内建自测试,即覆盖了所有模拟模块又保证了芯片的基本通信功能,而且最大限度地减少了对芯片整体功能布局的影响。最终使芯片良率在98%以上,达到了大规模生产的要求。此设计可以为当前数模混合通信芯片的测试提供参考。     

基于VISA及IVI技术的仪器仪表自动测试系统软件设计

该文首先介绍了VISA（Virtual Instrument Software Architecture）技术、IVI（Interchangeable VirtualInstruments）技术标准以及它们在对仪器仪表进行测试控制中的作用;然后介绍了自动测试系统软件的设计思想和工作原理;最后详细介绍了该测试系统软件所能完成的功能,以及系统中各子模块在系统中所起的作用。     

光通信系统中LDPC码的构造及其编译码算法分析

针对低密度奇偶校验（LDPC）码的相关理论和LDPC码自身特性以及光通信系统具有低噪声、高信噪比的传输特点进行分析后,提出了光通信系统中LDPC码型的构造方法,这为光通信系统中LDPC码型的构造和仿真分析奠定了基础。并对光通信系统中LDPC码的编译码算法进行了深入分析与研究,得到一些有利于降低其编译码算法复杂度的重要结论,这有助于降低其编译码器的设计与实现复杂度。     

语音分段在基于GMM-SVM说话人确认中的应用

在说话人确认系统的实际应用中,让用户提供大量的训练语音是不现实的,所以在GMM-SVM系统中,正样本点数通常只有一个,而负样本点数远远多于正样本点数,造成SVM分类超平面严重偏向负样本,这种情况对于支持向量机的性能影响很大。针对此问题,提出了基于时间间隔对语音数据进行分段的方法,来增多正样本点数,得到更好的分类超平面。美国国家标准与技术研究所(NIST)2002年说话人识别数据库上的实验证明,语音分段的方法能在一定程度上提升整个说话者确认系统的识别精度和鲁棒性。