一种低功耗抗串扰的自适应时空总线编码方法

深亚微米片上总线的功耗、布线面积约束和线间串扰是限制总线数据吞吐率的关键因素,为此该文提出一种自适应时空编码方法以降低总线的串扰延迟和功耗。该方法首先采用空间编码将总线分割为两个子总线,从而减小了恶性串扰发生几率;然后通过恶性串扰判决器分别判断子总线的原码数据及反码数据是否存在恶性串扰:对于任意子总线的原码数据与反码数据均存在恶性串扰的情况,传送屏蔽字;否则,选取无恶性串扰且动态功耗小的总线数据形式并传送。采用SPEC标准数据源对算法进行了评估,该方法在消除恶性串扰的同时使总线数据吞吐率提高了62.59%~81.62%,功耗比同类方法降低14.63%~54.67%,对于32位数据总线,仅需7根冗余线,在动态功耗、布线资源和性能方面获得了有效的优化。     

互连线串扰耦合噪声的ABCD矩阵模型

高频互连线间的相互耦合和相互感应是产生串扰的一个重要因素。已有文献利用二端口网络ABCD矩阵从理论上求出了耦合互连线阶跃响应,但该方法对互感描述不准确,导致计算复杂,且对串扰耦合噪声的估计不够准确。该文根据互感的基本定义,修改了原模型中互感的表示方法,提出了一个新的ABCD矩阵级联模型,对LTCC工艺互连线的串扰耦合噪声进行分析,并将得到的ABCD模型分析结果与ADS软件的仿真结果对比,验证了改进的ABCD模型的准确性。     

片上网络中降低信号串扰的方法

NOC（片上网络）的体系结构解决了SOC（片上系统）在大规模集成IP核时面临的一些难题,但其串扰问题对电路性能的影响也越来越明显。基于DSM（深亚微米）下的总线模型,分析了信号串扰引起的总线延时问题,同时比较了3种减小总线串扰的编码方案。并采用0．13μmCMOS工艺对性能较优的DAP编码方案进行了电路仿真,得到了不同长度和宽度下的总线延时。结果表明,采用减少信号串扰的编码方法可以有效地降低总线的串扰,减少信号延时,这一效果当总线较宽或走线较长时尤其明显,同时也证明了0．13μmCMOS工艺下电路仿真结果与理论计算结果的一致性。     

工艺随机扰动下非均匀RLC互连线串扰的谱域方法分析

 考虑工艺随机扰动对互连线传输性能的影响,建立了互连线随机扰动模型,提出了一种基于谱域随机方法的互连线串扰分析新方法.该方法将具有随机扰动的耦合互连线模型在线元分析阶段进行解耦,分别采用随机伽辽金方法(SGM)和随机点匹配方法(SCM)进行串扰分析.最后,利用复逼近给出工艺随机扰动下互连线串扰噪声的解析表达式.实验结果表明本文方法不仅可以对工艺随机扰动下的非均匀耦合互连线串扰进行有效估计,相较于SPICE仿真还具有更高的计算效率.     

互连线间容性串扰对延迟的影响

集成电路的性能越来越受到互连线间寄生效应的影响,特别是耦合电容的容性串扰,容性串扰引起互连线跳变模式相关的延迟。文中从E lm ore de lay定义的角度推导了互连线受同时跳变的阶跃信号激励时开关因子的大小,分析了互连线受非同时跳变的阶跃信号激励时耦合电容对互连线延迟的影响,给出了不同激励时的受害线延迟计算方法。分析表明,开关因子为0和2不能描述耦合电容对受害线延迟影响的下上限。H sp ice模拟结果证明了分析计算的准确性。     

串扰噪声及串扰噪声模型的分析

随着集成电路设计到达深亚微米领域,互连线间的串扰噪声影响越来越大,日益成为与功耗、速度、面积等一样重要的影响因素,目前已发展出多个精确度和时间复杂度不同的串扰噪声模型.本文在对串扰噪声和现有串扰噪声模型深入理解的基础上,提出了三个新的串扰噪声模型,并将它们与现有的串扰噪声模型进行分析比较,指出它们各自的优缺点及适用范围,从而为选择高精确度、良好一致性、时间复杂度低的模型提供参考.     

低k氟化非晶碳层间介质对芯片性能的影响

讨论了通过合理设计的工艺流程将低k氟化非晶碳材料应用到制造工艺中作为互连介质对集成电路性能的影响。基于一个互连结构简化模型计算出采用低k氟化非晶碳材料作为互连介质后RC延迟、功率耗散和线间串扰的变化情况。采用低k氟化非晶碳介质后,RC延迟和功率耗散随着互连长度的增大而减小,线间串扰也得到显著抑制。     

高密度封装中互连结构差分串扰建模与分析

针对传统模型存在较大分析误差的问题,提出高密度封装中互连结构差分串扰建模与分析.在对互连结构差分传输线耦合关系分析的基础上,建立了四线差分结构串扰模型.运用该模型对互连结构差分串扰中的电阻、电容以及电感进行等效分析,解决高密度封装中互连结构差分串扰问题.经试验证明,此次建立模型平均误差为0.042,满足抑制高密度封装中...     

若干因素下的高速互连线间的串扰规律研究

信号完整性中的串扰问题是目前高速电路设计中的难点和重点问题。利用高速电路仿真软件HSPICE和MATLAB软件对高速电路中的互连线串扰模型进行了仿真分析,总结了三种变化因素下互连线间的串扰规律,对部分串扰规律进行了探索性的研究。     

两相邻耦合RC互连的串扰效应及其抑制

随着微电子技术的进步,集成电路的特征尺寸逐步缩小,IC设计已经向着深亚微米甚至超深亚微米设计发展,一系列由于互连线引起的信号完整性问题需要设计者更多的考虑,互连线串扰已经成为影响IC设计成功与否的一个重要因素。针对串扰这一问题本文讨论了串扰对于电路的影响,分析了深亚微米集成电路设计中对两相邻耦合RC互连串扰的成因,介绍了互连线R,C参数的提取。以反相器驱动源和容性负载为例,建立了两相邻等长平行互连线的10阶互连模型,并且针对该模型,利用Cadence软件进行仿真,分析了引起串扰的因素。在此基础上,最后给出了有效抑制串扰的方法。