边界扫描测试技术

边界扫描技术是一种标准化的可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了边界扫描技术的应用.     

基于FPGA的边界扫描测试系统设计

随着集成电路技术的快速发展,传统的PCB电路板测试所采用探针的方法已经不现实,边界扫描技术解决了这一传统的PCB板测试的难题。本文设计的边界扫描测试系统可以实现对JTAG的访问以及完成对被测电路板器件IDCODE等方面的测试。实验结果表明,该系统测试方便,简单。     

边界扫描测试的数学模型探讨

边界扫描测试所指的是把一定数量的数字逻辑测试向量,串行输入至被测电路板中,并按照与之相对应的向量来对电路板中所有可能会发生的故障进行诊断,这一系列的测试所构成的就是边界扫描测试向量集合。本文所研究的是建立在布尔矩阵理论上的边界扫描测试模型,提出了这一测试数学模型的形式,研究了短路故障特征矩阵的建立过程,并进行了具体的模型的运算,最后提出了改数学模型的具体应用,具有一定的现实意义。     

边界扫描测试技术的原理及其应用

边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的标准化可测试性设计方法，他提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的测试。自从1990年2月JTAG与TEEE标准化委员会合作提出了“标准测试访问通道与边界扫描结构”的IEEE1149．1—1990标准以后，边界扫描技术得到了迅速发展和应用。利用这种技术，不仅能测试集成电路芯片输入／输出管脚的状态，而且能够测试芯片内部工作情况以及直至引线级的断路和短路故障。对芯片管脚的测试可以提供100％的故障覆盖率，且能实现高精度的故障定位。同时，大大减少了产品的测试时间，缩短了产品的设计和开发周期。边界扫描技术克服了传统针床测试技术的缺点，而且测试费用也相对较低。这在可靠性要求高、排除故障要求时间短的场合非常适用。特别是在武器装备的系统内置测试和维护测试中具有很好的应用前景。本文介绍了边界扫描技术的含义、原理、结构，讨论了边界扫描技术的具体应用。     

基于边界扫描的逻辑簇测试诊断软件开发

在边界扫描测试技术中,由非BS器件组成的逻辑簇的测试是难点问题。介绍了一种逻辑簇测试诊断软件的原理、过程和应用,并通过实例验证了其有效性与可靠性。     

基于SCANWORKS的边界扫描测试系统设计

文章运用SCANWORKS软件,搭建边界扫描测试平台,详细介绍了通过测试底板提升被测件的测试覆盖率的工作原理,最后给出了边界扫描的软件设计流程。SCANWORKS软件接口丰富,为广大测试工程师提供了一个很好的平台。     

支持边界扫描测试的电路设计

基于IEEE 1149.1标准制定的边界扫描技术能够对复杂电路进行测试,并诊断出硬件问题。首先介绍了边界扫描测试电路的基本结构,针对基于边界扫描的大规模集成电路的特点,论述了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点,另外,还给出了能够获得良好测试性设计效果的边界扫描电路的设计方案。     

基于边界扫描技术的互连测试

边界扫描技术是当前测试技术研究中的热点，主要介绍基于边界扫描的互连测试技术的原理、算法和应用。     

测试技术的飞跃--边界扫描技术

集成工艺的发展使传统测试方法面临着越来越大的困难，边界扫描技术正是为了解决这些困难而出现的一种完整的、标准化的可测试性设计方法，它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的调试。本将介绍边界扫描的原理，并对边界扫描技术的应用作一些讨论。     

采用边界扫描的方法测试PCB

本文简要说明了边界扫描测试的原理,简单介绍了PM3720边界扫描测试机的基本性能,并给出了利用PM3720进行PCB测试的一个例子。     

基于NiosII的边界扫描控制核的设计

本文基于ALTERA公司的Nios软核＋可编程资源FPGA的SOPC平台设计了一个边界扫描控制器IP核。该控制器基于Allera的SOPC系统及Avalon总线规范,完成自定了边界扫描控制核的设计方案及设计流程,通过SOPC中的Avalon总线接口,该控制器产生符合IEEE1149．1标准的边界扪描测试系统,能实现各种边界扫描测试。提高了系统设计的灵活性,加速了边界扫描测试效率。仿真及实验结果表明,该设计能够完成有效高速的边界扫描测试。     

一种基于边界扫描的FIFO测试方法

针对含先进先出存储器(FIFO)电路板故障检测的问题,提出一种基于边界扫描技术编写Macro对FIFO进行读写数据的测试方法,介绍边界扫描技术测试FIFO的基本原理。通过设计适配板,应用边界扫描测试工具ScanWorks,建立边界扫描链路,编写Macro测试代码,利用JTAG接口进行间接控制,实现对FIFO进行故障检测。给出了测试系统硬件框图、简述了适配板设计要点,提供FIFO电路连接图和软件流程图,并分析FIFO测试的完备性,最后还对FIFO进行了测试验证。     

JTAG测试中扫描链的配置问题研究

分析了常见扫描链路配置中面临的问题,提出了一种扫描链配置方案。结合工程测试中出现的实际问题,给出了有关扫描链路配置的一些建议和注意事项。     

基于USB2.0的边界扫描控制器设计

系统采用CY7C68013及其配置芯片EEPROM完成USB接口部分的功能,采用ACT8990完成边界扫描部分的功能,为完成部分逻辑功能及对此控制器设计的部分电路加密,采用CPLD EPM3032A实现.接着,给出了整个控制器的软件设计方案,具体讨论了CY7C68013的固件设计,以及利用WindowsDDK开发包开发...     

基于并行机制的边界扫描技术

在SoC测试时,测试功耗和测试成本是其可测性设计中最重要的一点要求.在分析了常见测试结构的测试功耗的基础上,提出了一种并行扫描机制的测试结构,包括访问机制的设计和测试控制器的设计.该方法可根据测试成本和测试功耗的要求,选择不同的构造方法.     

基于FPGA的嵌入式系统设计

提出了一种基于FPGA(现场可编程门阵列)和软核CPU的嵌入式系统设计的新方法。FPGA芯片选用A ltera公司的Cyclone系列芯片作为处理器,配合A ltera公司的NIOS软核嵌入式处理器构成整个系统的核心;操作系统采用μC/OS嵌入式系统,并移植到FPGA平台上;外围添加USB接口作为扩展接口,使用Cypress公司的EZ_USB系列芯片;整个系统以FPGA和NIOS为中心进行设计,外围接口包括JTAG、串口、USB口等。给出了系统硬件架构以及与USB芯片的接口应用电路。     

基于边界扫描的板级互连测试模型研究

主要研究边界扫描技术在电路板互连测试中的应用,对互连测试的故障模型和测试方法进行优化.根据电路板制造故障的具体成因和分布情况,对基于边界扫描的板级互连测试模型进行扩展.提出以元器件焊点故障作为基本参考点,增加了网络两端发生不同故障的情况,从而总结出新的故障模型,并给出了针对新故障模型的测试方案.基于新的故障模型的测试可以更加全面地发现电路板的潜在问题,避免在生产测试中因为故障的漏判而反复维修,从而提高生产的效率.     

嵌入式软件的云平台覆盖测试

本文介绍的是一种针对嵌入式软件的基于云平台的覆盖率测试方法,以及相关工具的应用。通过工具将插桩编译后的软件装载到目标机上运行,黑盒手工执行测试,白盒显示函数调用图和控制流程图,同时将执行和未执行代码分颜色显示,对未执行的代码进行人工分析,可以通过增加测试用例来提高覆盖率。     

基于Nios II的嵌入式Web服务器

21世纪计算机网络已经成为人们广泛使用的工具。通过计算机网络,人们可以进行网络控制、信息交换等。本文介绍一种基于NiosII处理器的嵌入式Web服务器的设计方法。系统在Cyclone系列1C20F400C7芯片上,采用软核处理器NiosII来配置核心处理器。NiosII核是用户可随时配置和构建的32位指令集和数据通道的嵌入式系统微处理器IP核,网络协议采用LWIP,这是一种专门针对嵌入式系统应用而设计的网络通信协议,接口芯片使用LAN9C111。本文基于NiosII的嵌入式Web服务器能够达到预期的效果,用户可以通过IE浏览器浏览存储在FLASH芯片中的网页,由于CPU本身是以软核的方式实现,其功能可根据需要进行定制,非常灵活。     

逻辑簇边界扫描测试相关问题及解决方案

逻辑簇的边界扫描测试存在一些不可忽视的重要问题.分析了这些问题的影响,提出了相应措施,并介绍了结合BIST技术进行逻辑簇测试的方法.